SMT连接技术手册

SMT连接技术手册 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

出版者:电子工业
作者:中国电子科技集团电子电路柔性制造中心 编著
出品人:
页数:327
译者:
出版时间:2008-1
价格:58.00元
装帧:
isbn号码:9787121041013
丛书系列:
图书标签:
  • 电子
  • 焊接
  • SMT
  • 表面贴
  • SMT
  • 表面贴装技术
  • 电子组装
  • 焊接技术
  • 印刷电路板
  • PCB
  • 元器件
  • 生产工艺
  • 质量控制
  • SMT设备
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具体描述

《SMT连接技术手册》在系统地介绍电子电路表面组装技术(SMT)中常用的各种连接方法的原理及应用要领,即电子电路电气互连技术简介及烙铁焊、再流焊、波峰焊、压焊、黏接、陶瓷与金属连接、印制板组件焊后的清洗和三防处理的基本原理、操作技巧的基础上,突出讲述了面向无铅组装的设计和印制板组件的无铅焊接技术。

高效能半导体封装与先进互连技术:面向未来电子设备的设计指南 本书聚焦于当前电子工程领域最前沿的半导体封装技术、先进的芯片级与板级互连方案,以及支撑未来高性能计算、物联网和移动通信系统的关键技术挑战与解决方案。 --- 第一章:引言:后摩尔时代下的互连技术革新 随着摩尔定律的放缓,系统性能的提升日益依赖于更精密的封装技术和更高效的信号传输路径。本章首先回顾了半导体集成技术的发展脉络,明确了当前电子系统面临的功耗墙、散热瓶颈和I/O带宽受限等核心问题。我们将深入探讨从传统封装向先进封装(Advanced Packaging)迁移的驱动力,特别关注异构集成(Heterogeneous Integration)的必要性。 1.1 电子系统性能的瓶颈转移: 从晶圆制造工艺(Front-End)转向封装与系统集成(Back-End)的趋势分析。 1.2 先进封装的分类与定义: 区分2.5D、3D集成、系统级封装(SiP)和模块化封装的适用场景。 1.3 关键技术指标: 互连密度(Pitch)、延迟(Latency)、功耗效率(pJ/bit)的行业基准与挑战。 第二章:先进封装技术基础与实现 本章详细解析实现高密度互连的关键物理技术,包括重布线层、微凸点阵列(μBGA)的精细化以及高密度互连(HDI)的制造工艺。 2.1 晶圆级封装(WLP)的演进: 从RDL(Redistribution Layer)到扇出型晶圆级封装(Fan-Out WLP, FOWLP)的工艺流程解析,及其对芯片尺寸和成本的影响。 2.2 2.5D/3D 芯片堆叠技术: 硅中介层(Interposer)的设计原理、TSV(Through-Silicon Via,硅通孔)的制造、填充与再布线技术。重点分析无源中介层与有源中介层的技术差异和应用案例。 2.3 混合键合(Hybrid Bonding): 作为下一代高密度互连的关键技术,深入探讨其超细间距(Ultra-Fine Pitch)实现机制、表面处理、对准精度及键合可靠性评估。 第三章:高密度板级互连与PCB技术前沿 先进封装要求下,传统的印刷电路板(PCB)面临信号完整性和可靠性的严峻考验。本章聚焦于支持这些先进封装的基板技术。 3.1 高频基板材料的选用: 分析低介电常数(Dk)和低损耗因子(Df)材料在高速信号传输中的应用,如超低损耗层压板和树脂包覆玻璃(R-LC)布线技术。 3.2 HDI与积层板技术深度解析: 探讨微孔(Microvia)的盲孔、埋孔技术,特别是激光钻孔与等离子体去胶(Back-Drilling)对信号完整性的优化作用。 3.3 载板与基板设计: 分析芯片载板(Package Substrate)如何从传统的有机材料向更高性能的材料发展,以及如何在高密度BGA阵脚与系统级PCB之间实现高效的阻抗匹配和信号隔离。 第四章:高速信号完整性与热管理挑战 互连密度的增加和工作频率的提升,使得电磁干扰(EMI)和热耗散成为系统可靠性的主要制约因素。 4.1 信号完整性(SI)的建模与仿真: 针对极高频信号(如Gbps以上)的串扰(Crosstalk)、反射和时钟抖动(Jitter)分析。讨论封装和基板中的寄生参数对信号眼图(Eye Diagram)的影响。 4.2 电磁兼容性(EMC)设计原则: 在多层高速PCB和封装结构中,电源完整性(PI)的设计策略,包括去耦电容的优化布局、地平面分割和屏蔽技术的应用。 4.3 先进散热解决方案: 探讨高热通量(High Heat Flux)场景下的散热需求。分析热界面材料(TIM)的选择、2.5D/3D结构中的热路径设计、以及主动与被动散热技术的集成。 第五章:先进互连的可靠性与测试 再小的连接点也必须保证长期的操作可靠性。本章关注互连结构的失效模式、寿命预测及无损检测方法。 5.1 疲劳与蠕变失效分析: 重点分析热循环(Thermal Cycling)和热机械应力对微凸点(Microbumps)、TSV侧壁以及混合键合界面的影响,建立寿命预测模型。 5.2 潮湿敏感度与封装完整性: 探讨封装材料的吸湿性、材料热膨胀系数(CTE)失配导致的应力集中问题,以及相应的Moisture Sensitivity Level(MSL)控制。 5.3 先进无损检测技术: 介绍X射线层析成像(X-ray CT)、超声波检测(SAM)和扫描声学显微镜在识别内部空洞、裂纹和键合缺陷中的应用,确保制造质量的可追溯性。 第六章:未来展望:超高带宽与异构集成生态 展望未来十年,互连技术将如何支撑更高算力的需求,特别是人工智能和数据中心领域的应用。 6.1 光学互连的集成: 硅光子技术(Silicon Photonics)在芯片间、板间甚至封装内的应用潜力,及其与电互连的协同设计。 6.2 Chiplet(小芯片)架构的互连挑战: 探讨Chiplet生态系统中,如何通过通用接口标准(如UCIe)实现不同制程、不同功能的芯片的有效集成。 6.3 制造工艺的自动化与数字化: 涉及AI辅助的设计流程(EDA)、自动光学检测(AOI)的升级,以及面向大规模制造的良率提升策略。 --- 本书适合从事集成电路设计、封装与测试的高级工程师、硬件系统架构师、材料科学家,以及相关专业的硕士和博士研究生,为读者提供一个全面、深入且极具实操价值的先进互连技术知识体系。

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目录信息

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第一章 概述 第二章 烙铁焊接 第三章 再流焊 第四章 波峰焊 第五章 印制电路组件的清洗 第六章 印制板组件的三防技术 第七章 金属粘接技术 第八章 压接 第九章 陶瓷及其与金属的连接 第十章 面向无铅组装的设计

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第一章 概述 第二章 烙铁焊接 第三章 再流焊 第四章 波峰焊 第五章 印制电路组件的清洗 第六章 印制板组件的三防技术 第七章 金属粘接技术 第八章 压接 第九章 陶瓷及其与金属的连接 第十章 面向无铅组装的设计

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第一章 概述 第二章 烙铁焊接 第三章 再流焊 第四章 波峰焊 第五章 印制电路组件的清洗 第六章 印制板组件的三防技术 第七章 金属粘接技术 第八章 压接 第九章 陶瓷及其与金属的连接 第十章 面向无铅组装的设计

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第一章 概述 第二章 烙铁焊接 第三章 再流焊 第四章 波峰焊 第五章 印制电路组件的清洗 第六章 印制板组件的三防技术 第七章 金属粘接技术 第八章 压接 第九章 陶瓷及其与金属的连接 第十章 面向无铅组装的设计

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第一章 概述 第二章 烙铁焊接 第三章 再流焊 第四章 波峰焊 第五章 印制电路组件的清洗 第六章 印制板组件的三防技术 第七章 金属粘接技术 第八章 压接 第九章 陶瓷及其与金属的连接 第十章 面向无铅组装的设计

用户评价

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阅读这本书的过程,就像是跟随一位经验丰富的老工程师在进行一对一的导师辅导。它最吸引我的地方在于,它没有回避那些行业内公认的“疑难杂症”。例如,关于PCB装配过程中的热应力管理,书中详细列举了不同的焊接工艺参数对连接器引脚寿命的累积影响,并提供了一个基于有限元分析的初步评估框架。这种对实际操作中痛点的关注,体现了作者对行业现状的深刻洞察力。此外,它还提供了一些关于未来技术发展趋势的讨论,比如柔性印刷电路(FPC)与传统连接器的集成挑战,这让我对行业的发展方向有了一个更前瞻性的认识,而不是仅仅停留在当前主流技术的掌握上。

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这本书的语言风格在保持专业性的同时,展现出一种独特的、近乎学术散文的流畅感。它不像是那种干巴巴的教科书,而是充满了对技术美学的赞叹。尤其在介绍精密制造工艺时,作者描绘了微米级别的加工精度如何转化为宏观上的连接可靠性,这种对微观世界的细腻捕捉,让人在学习技术的同时,也体会到工程制造的艺术性。此外,书中收录的那些经典案例分析,并非简单的“成功案例展示”,而是深入挖掘了设计背后的权衡取舍——为什么在这个应用场景下,牺牲一点点成本换取更高的抗振动性能是值得的,或者在空间受限时,如何通过创新的封装方式解决散热问题。这些“为什么”的解答,才是这本书真正的价值所在。

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这本书的结构组织极具逻辑性,它似乎是按照一个标准的产品生命周期来编排内容的。从最初的需求分析和规格制定,到中间的设计选型、仿真验证,再到后期的可靠性测试和故障分析,每一个阶段都有相应的章节作为支撑。特别是关于测试规范的部分,它详细解读了IPC和国际标准组织的相关规定,并对比了不同测试方法的优劣。我发现,很多工程师在实际项目中往往只关注设计环节,而忽略了严格的验证流程,这本书恰好弥补了这一短板。它强迫读者以一种系统工程的思维去看待连接技术,确保从源头开始,每一个环节的质量都能得到保障。

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这本书的深度和广度都超出了我的预期,它绝不仅仅是停留在表面介绍几种常见的连接器类型,而是深入到了材料科学和可靠性工程的层面。我记得有一章节专门讨论了在高湿、高低温环境下,不同端子镀层材料的长期性能衰减模型,里面的数学推导虽然有些挑战性,但作者给出的物理模型解释非常到位,让我明白了为什么某些极端环境下的连接失效会以特定的形式出现。更难能可贵的是,它还将理论与实际应用场景紧密结合起来,比如在高速信号传输的章节,它详细分析了阻抗匹配的微观结构对信号完整性的影响,并给出了PCB设计层面的优化建议,这使得书中的知识点可以直接转化为我工作中的设计决策依据,而不是停留在纸面上的理论空谈。

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这本书的装帧和排版真是让人眼前一亮,那种沉稳又不失现代感的字体选择,加上清晰的图文布局,光是翻阅的触感就让人觉得这是一本值得细细品味的专业书籍。我尤其欣赏它在视觉上的考量,很多关键概念的阐述都配有高质量的示意图,而且图注的标注清晰、精确,不像有些技术手册那样把图放得模模糊糊,让人需要费力去猜。从第一章的绪论部分就能感受到作者团队的严谨态度,他们没有急于进入复杂的电路设计细节,而是花了大篇幅去梳理了背景知识和行业标准,这对于一个初入这个领域的读者来说简直是福音,它提供了一个坚实的基础平台,让我能够带着对整体脉络的理解,再去深入研究那些具体的连接器选型和应用案例。那种循序渐进的教学方法,很显然是经过深思熟虑的,而不是简单地堆砌技术资料。

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