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出版者:电子工业出版社

作者:Sung-Mo Kang

出品人:

页数:496

译者:王志功

出版时间:2005-1-1

价格:48.00

装帧:平装(无盘)

isbn号码:9787505399518

丛书系列:

图书标签:

• 电子
• 李小进
• 数字集成电路
• 经典
• 简体中文
• 电路设计
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《微电子学原理与实践》 本书旨在全面系统地介绍半导体器件的物理基础、集成电路的设计与制造工艺，以及现代电子系统中的关键技术。 本书内容涵盖了从基本的PN结特性到复杂的CMOS、BJT等器件的工作原理，深入剖析了半导体材料科学在微电子领域的应用，并对集成电路的设计流程、版图实现、测试与可靠性等方面进行了详尽的阐述。 --- 第一部分：半导体物理基础与器件原理 本部分是理解现代电子技术基石，重点在于构建坚实的理论框架。 第一章 半导体材料与能带理论 本章从量子力学的基本原理出发，阐述晶体结构、晶格振动以及电子在周期性势场中的运动。详细介绍了本征半导体的能带结构（价带、导带、禁带宽度），并深入探讨了费米能级、有效质量等关键概念。随后，分析了杂质的掺杂过程（N型与P型半导体），以及由此产生的载流子浓度与迁移率。重点对比了硅、锗及砷化镓等常用半导体材料的物理特性及其在微电子领域的优势与局限性。 第二章 PN结与二极管 本章聚焦于最基本的半导体结构——PN结。详细分析了PN结的形成机制、内建电势的计算、空间电荷区的宽度及其对偏置电压的依赖关系。着重讨论了零偏、正偏和反偏条件下二极管的I-V特性曲线，并解释了雪崩击穿和齐纳击穿的物理过程。此外，本章还涵盖了肖特基势垒二极管（SBD）的结构、特性及其在高速开关电路中的应用，以及光电二极管和LED的基本工作原理。 第三章 双极性晶体管（BJT） 本章深入探讨了双极性结型晶体管的工作机理。首先分析了NPN和PNP晶体管的结构、电流控制机制（扩散与漂移）。详细推导并分析了晶体管在不同工作区（截止区、饱和区、放大区）下的电流关系和跨导特性。重点阐述了Ebers-Moll模型和简化模型在电路分析中的应用。同时，讨论了BJT的频率响应特性、早期效应以及小信号模型（$pi$模型与T模型）的建立与应用，为后续模拟电路设计奠定基础。 第四章 场效应晶体管（FET）——MOS结构基础 本章聚焦于场效应晶体管，尤其是金属-氧化物-半导体（MOS）结构。首先解析了MOS电容器的结构、工作原理，详细分析了“平带”、“耗尽”、“反型”三种工作状态下的电容-电压（C-V）特性曲线，并计算了阈值电压。随后，系统介绍了增强型和结型场效应晶体管的结构与工作原理，特别是MOSFET的输出特性曲线、跨导、饱和区与线性区的欧姆定律行为。本章为理解CMOS逻辑电路奠定了核心器件基础。 --- 第二部分：集成电路制造工艺与器件优化 本部分关注如何将理论器件转化为可制造、高性能的集成电路。 第五章 半导体集成电路制造工艺基础 本章详细介绍了集成电路的制造流程，从硅片制备开始，涵盖了主要的薄膜沉积技术（如化学气相沉积CVD、物理气相沉积PVD），关键的光刻技术（包括光刻胶的选用、曝光、显影过程）以及关键的刻蚀工艺（干法刻蚀与湿法刻蚀）。深入讨论了离子注入技术在精确控制掺杂区域中的作用，以及退火处理对器件性能的影响。 第六章 互补金属氧化物半导体（CMOS）器件的深度剖析 本章是关于CMOS技术的核心章节。系统分析了NMOS和PMOS晶体管的特性差异，包括阈值电压的调控（如利用沟道掺杂实现Vt调控）、栅氧厚度和宽长比对器件性能（如驱动能力、亚阈值斜率）的影响。深入探讨了短沟道效应（SCE）及其对器件特性的影响，如阈值电压的降低、漏致势垒降低（DIBL）等。此外，还涵盖了先进的SOI（绝缘体上硅）技术及其在降低寄生效应方面的优势。 第七章 互连线与集成电路的寄生效应 现代集成电路的性能越来越受限于互连线。本章分析了集成电路中导线的材料（多晶硅、金属）、结构和工艺。重点讨论了导线电阻、电容（自电容、互连电容）的计算模型，以及由此产生的RC延迟。详细阐述了互连线寄生电感的影响，尤其是在高速电路中。此外，本章还分析了衬底噪声耦合、串扰（Crosstalk）等影响电路可靠性和速度的物理现象，并提出了降低寄生效应的设计策略。 --- 第三部分：模拟与射频电路设计基础 本部分侧重于基于半导体器件构建功能电路模块。 第八章 晶体管的偏置与放大器基础 本章讲解如何通过偏置电路使晶体管工作在特定的工作点（如晶体管的饱和区）。重点分析了单级放大器（共源极、共射极、共源共基极结构）的直流分析、小信号交流分析、增益计算、输入/输出阻抗的确定。详细对比了BJT和MOSFET作为放大器件的优缺点，并引入了晶体管的非理想效应（如有限的跨导、寄生电容）对放大器带宽的影响。 第九章 运算放大器（Op-Amp）与反馈理论 本章系统介绍反馈理论在线性电路设计中的应用，包括负反馈的稳定性、相位裕度与增益裕度。深入分析了经典的运算放大器结构，如两级CMOS运放、折叠式输入级等，重点研究其开环增益、带宽（GBW）、压摆率（Slew Rate）以及失调电压的来源和抑制方法。讨论了如何通过补偿技术（如密勒补偿）确保反馈系统的稳定性。 第十章 匹配、噪声与低功耗设计 本章探讨电路设计中不可避免的非理想因素。详细分析了器件失配（Mismatch）对精密电路（如电流镜、差分对）性能的影响及其统计学处理。系统性地介绍了电路中的主要噪声源（热噪声、闪烁噪声、散弹噪声），并推导了不同电路配置下的等效输入噪声电压和电流。最后，探讨了低功耗设计技术，包括亚阈值偏置、电源门控（Power Gating）以及动态电压与频率调整（DVFS）等技术。 第十一章 基础射频（RF）电路概念 本章引入了高频电路设计的挑战。介绍了S参数（散射参数）在描述高频器件和电路时的重要性，并解释了史密斯圆图（Smith Chart）在阻抗匹配中的应用。分析了射频放大器的噪声系数（NF）和P1dB（1dB压缩点）等关键指标。简要介绍了高Q因子无源元件（电感、电容）在射频集成电路中的实现方式。 --- 第四部分：数字集成电路与系统级考虑 本部分将视角从器件和模块提升到系统级的逻辑实现与功耗管理。 第十二章 静态CMOS逻辑电路 本章专注于现代数字电路的基石——静态CMOS逻辑门。详细分析了标准反相器的工作特性，包括其直流传输特性、噪声容限和动态行为。推导并分析了标准两输入逻辑门（NAND, NOR）的面积、功耗和延迟。深入讨论了传输门（Transmission Gate）及其在MUX、Latch等电路中的应用，以及CMOS电路的静态功耗与动态功耗的精确计算方法。 第十三章 组合逻辑与时序电路 本章涵盖了数字系统的基本构建模块。分析了组合逻辑电路的设计与优化，包括使用标准单元库进行逻辑综合。随后，深入研究了同步数字系统的核心——时序电路，包括基本锁存器（Latch）和触发器（Flip-Flop）的结构、工作原理及其对建立时间（Setup Time）和保持时间（Hold Time）的要求。重点讨论了时钟偏移（Clock Skew）和毛刺（Glitch）对时序性能的影响。 第十四章 存储器电路 本部分详细介绍半导体存储器的原理与结构。深入剖析了静态随机存取存储器（SRAM）单元（如6T Cell）的读写时序、噪声容限和稳定性。随后介绍了动态随机存取存储器（DRAM）的结构，包括电荷存储机制、刷新周期和读出过程中的损失问题。简要概述了非易失性存储器（如Flash Memory）的工作原理及其在系统中的应用。 第十五章 互连线延迟与时序分析 在高速数字系统中，互连线延迟往往超过器件延迟。本章聚焦于先进工艺节点下的时序分析。利用Elmore延迟模型对长导线的RC延迟进行精确估算。详细阐述了静态时序分析（STA）的方法论，包括关键路径的识别、时序裕度（Timing Margin）的计算，以及如何通过布局布线优化来满足时序约束。 第十六章 低功耗数字电路设计 本章针对移动和嵌入式系统的功耗挑战，系统介绍低功耗数字设计技术。讨论了电源管理的关键策略，包括时钟频率和电压的动态调节。重点分析了功耗的分解（动态功耗、短路功耗、漏电功耗），并提出了降低各部分功耗的电路和架构级技术，如门控技术、多阈值电压设计以及数据流的优化。 --- 本书适合对象： 电子工程、微电子学、集成电路设计专业的本科生、研究生，以及从事半导体器件研发、集成电路设计与制造领域的工程师和研究人员。本书提供了从底层物理到上层系统级的完整知识体系，强调理论深度与工程实践的结合。

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**读者评价一：** 这本书的排版和印刷质量绝对是顶级的享受。打开书页的那一刻，我就被那种沉稳、厚重的质感所吸引。纸张的选择非常考究，即便是长时间阅读，眼睛也不会感到疲劳。更让我惊喜的是，插图和电路图的清晰度简直无可挑剔。那些复杂的晶体管结构图、逻辑门示意图，每一个细节都锐利得像是用最精密的仪器绘制出来的一样，这对于理解底层物理原理至关重要。在很多其他教材中，图示往往模糊不清，导致我不得不去网上搜索高清版本，但这本书完全没有这个问题。文字的间距和行距也恰到好处，使得阅读过程非常流畅自然，几乎没有卡顿感。我可以全身心地投入到对概念的理解中，而不是被阅读体验上的瑕疵分散注意力。这种对细节的极致追求，体现了出版方对专业读者群体的尊重。它不仅是一本技术资料，更像是一件值得收藏的工艺品，放在书架上都透着一股专业的气息，每次翻阅都是一种享受。

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**读者评价五：** 这本书的例题和习题设置简直是神来之笔，它真正体现了“学以致用”的精髓。不同于那些只有数值计算的枯燥习题，这里的练习题大多是贴近实际项目需求的微型设计挑战。例如，它会要求你根据特定的功耗预算和面积限制，设计一个两级运算放大器的偏置电路，并分析不同晶体管尺寸对裕度和带宽的影响。解答这些问题，需要综合运用书中所学的多个知识点，强迫读者进行批判性思考和权衡取舍。更重要的是，作者在书后提供了相当详尽的解答思路和部分高级习题的深入分析，这使得读者可以检验自己的理解是否到位，并且可以从更优化的角度反思自己的设计决策。这套习题系统，是巩固理论、培养工程直觉的最佳“陪练”。

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**读者评价二：** 我最近开始系统学习高速接口设计，手头已经有好几本相关的书籍了，但坦白说，很多书在理论的深度和实际应用的衔接上总感觉有些脱节。这本书却做得非常平衡。它的理论推导极其严谨，每一个公式的得出都有清晰的脉络可循，绝不是那种只给出结果却不解释推导过程的“填鸭式”教学。特别是关于噪声分析和串扰抑制的部分，作者深入剖析了物理层面的限制，并给出了非常实用的设计技巧。我根据书中的一个关于传输线端接的章节的建议，调整了我们项目中一个关键时钟信号的布局，结果信号完整性指标立竿见影地提升了。这证明了书中的内容绝非纸上谈兵，而是经过了高度的工程实践检验。对于希望从“知道”跃升到“精通”的工程师来说，这本书无疑是提供了那把开启高级应用之门的钥匙。

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**读者评价三：** 这本书的作者群展现了令人钦佩的广度与深度。我特别欣赏它覆盖的知识点的全面性。它不仅仅停留在标准单元库的构建层面，更是将目光投向了前沿的低功耗设计方法，比如亚阈值偏置对电路性能的影响分析，这一点在很多同类书籍中常常被一带而过。更难能可贵的是，它还兼顾了制造工艺的演进对电路设计带来的挑战与机遇，对先进节点工艺下的可靠性问题也有独到的见解。我过去在处理ESD保护结构时总感到力不从心，但在阅读了专门讨论这方面的章节后，对于如何设计出既满足时序要求又具备鲁棒性的保护电路，心里一下子就有底了。这种横跨理论、设计、仿真到制造全流程的视角，极大地拓宽了我对现代集成电路设计的整体认知框架。

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**读者评价四：** 如果要用一个词来形容这本书的叙事风格，我会选择“清晰的逻辑递进”。它不像某些教科书那样，上来就抛出一大堆抽象的概念，让人无所适从。这本书的组织结构是大师级的。从最基本的MOS管工作原理开始，逐步引导读者理解复杂的CMOS器件特性，然后自然而然地过渡到逻辑门电路的设计与优化，最终构建起复杂的系统级模块。每一章的过渡都衔接得天衣无缝，知识点之间环环相扣，让人感觉每读完一页，都能确切地知道自己对整个领域又深入了一层。对于自学者而言，这种循序渐进的引导至关重要，它极大地降低了学习曲线的陡峭程度，让复杂的知识点变得易于消化和吸收，真正做到了化繁为简。

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