内容简介
本书是在工业辐射温度测量这一重要科技领域中我国自己编写的
一本很有特色的专著。由于作者在这一方面的贡献，将会有力地推动我
国辐射测温技术的进一步发展。
作者在阐述红外辐射各定律、红外探测器和单、双色辐射温度计原
理的基础上，全面介绍了红外辐射测温中的各种干扰，尤其是关于黑体
辐射源的理论和技术的论述，有很高的理论和应用价值，如对基尔霍夫
理想黑体的物理模型的证明，以及作者首次提出的第二类黑体辐射源
的新概念、物理模型、有效发射率的理论公式、在线发射率和全热流测
量方法等。
本书理论和实践并茂，论述简明，可读性强，适于对研究生的教学，
是有关的科技人员的颇为有益的参考读物。
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