原子光谱联用技术

原子光谱联用技术 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

出版者:化学工业出版社
作者:严秀平
出品人:
页数:230
译者:
出版时间:2005-4
价格:20.00元
装帧:
isbn号码:9787502567323
丛书系列:
图书标签:
  • 原子光谱
  • 仪器分析
  • 原子光谱
  • 联用技术
  • 光谱分析
  • 原子发射光谱
  • 原子吸收光谱
  • ICP-AES
  • ICP-MS
  • 分析化学
  • 元素分析
  • 环境监测
  • 食品安全
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具体描述

本书是《原子光谱分析技术丛书》中的一本。

本书系统扼要地介绍各种原子光谱分析联用技术,重点放在接口技术及分析应用上。全书共分6章,分别介绍了气相色谱、高效液相色谱、超临界流体色谱、毛细管电泳、流动注射与原子吸收光谱、原子发射光谱、原子荧光光谱和等离子体质谱分析的联用技术。

本书可供从事环境分析、生物分析、商品检验、食品安全以及中草药分析等科研人员和分析工作者参考,也可作为大专院校和科研院所相关专业师生的教学参考书。

现代材料科学中的先进表征技术 一部聚焦于前沿无损与微观分析方法的综合性著作 本书旨在为材料科学、化学工程、物理学以及相关交叉学科的研究人员、工程师和高级学生提供一个全面且深入的视角,探讨当前用于材料结构、成分和性能分析的尖端技术。内容严格围绕那些对理解材料内部机制至关重要的方法展开,完全避开原子光谱联用技术本身,转而聚焦于其他互补且同样关键的表征工具。 全书结构与核心内容概览: 本书共分为七个主要部分,每一部分都详细阐述了一类或一组紧密相关的先进表征技术,强调其基本原理、实验操作、数据解析以及在解决复杂材料问题中的应用实例。 --- 第一部分:高分辨率电子显微学与成像技术 (High-Resolution Electron Microscopy and Imaging) 本部分是全书的基石之一,重点阐述了透射电子显微镜 (TEM)、扫描透射电子显微镜 (STEM) 在纳米尺度材料分析中的最新进展。 1. 基础与进阶操作 (TEM/STEM Fundamentals and Advanced Operation): 深入讲解了电子束与物质的相互作用,高角度环形暗场 (HAADF-STEM) 衬度机制,以及亚埃级分辨率成像的实现条件。 2. 形貌与缺陷分析 (Morphology and Defect Analysis): 详细论述如何利用高分辨TEM图像识别晶体缺陷(如位错、堆垛层错、晶界),以及测量纳米颗粒的尺寸分布和晶体取向。 3. 聚焦离子束技术 (Focused Ion Beam, FIB) 在样品制备中的应用: 专门探讨FIB如何与TEM/STEM结合,实现对特定区域、特定界面的定向、无损伤(或最小损伤)的薄膜切片和制备,这是进行界面分析的关键前置步骤。 4. 电子衍射与晶体结构解析 (Electron Diffraction and Crystallographic Analysis): 探讨单晶、多晶以及非晶材料的选区电子衍射 (SAED) 和高分辨成像中的傅里叶变换分析在确定晶格常数和空间群方面的作用。 第二部分:X射线衍射与结构解析 (X-ray Diffraction and Structural Elucidation) 本部分系统地介绍了X射线衍射 (XRD) 技术,特别是针对复杂结构材料的分析方法。 1. 粉末X射线衍射 (PXRD) 的定量分析: 重点讲解谢勒公式在计算晶粒尺寸上的局限与修正,以及Rietveld精修方法在分离多种相、确定晶格参数和原子位置上的强大能力。 2. 单晶X射线衍射 (SC-XRD) 实例: 阐述如何通过单晶数据解析出分子结构(特别是金属有机框架材料或复杂无机化合物)的完整三维结构信息,包括手性确定和氢原子定位的挑战。 3. 薄膜与表面敏感的衍射技术: 介绍掠射角X射线衍射 (GXRD) 和X射线反射率 (XRR) 在分析超薄膜厚度、界面粗糙度以及层间堆积顺序上的应用。 第三部分:表面与界面化学分析技术 (Surface and Interface Chemical Analysis) 由于许多材料的性能(如催化、腐蚀、电子学)主要由其表面决定,本部分集中介绍几种高灵敏度的表面元素和化学态分析方法。 1. X射线光电子能谱学 (XPS) 的深入解读: 不仅涵盖了元素鉴定,更侧重于化学位移的精确分析,用于区分金属的氧化态(如Fe$^{2+}$/Fe$^{3+}$)、配位环境变化以及污染物的识别。强调对C 1s的准确校正方法。 2. 俄歇电子能谱 (AES) 与深度剖析: 论述AES在纳米尺度上对表面元素分布的快速成像能力,以及结合离子刻蚀技术实现元素随深度的定量剖析(Depth Profiling)流程。 3. 二次离子质谱 (SIMS) 的高灵敏度应用: 介绍SIMS在痕量元素(ppm/ppb级别)检测中的优势,特别是在半导体掺杂分析和地质年代学中的应用,并讨论其局限性——次级离子产额的矩阵效应。 第四部分:光学与电磁波谱分析 (Optical and Electromagnetic Spectroscopy) 本部分聚焦于材料的电子结构、分子振动模式及光学响应的表征。 1. 拉曼光谱 (Raman Spectroscopy) 与振动分析: 详解拉曼散射机制,及其在区分不同晶型(如金刚石 vs. 石墨)、监测材料应力/应变(应力效应在拉曼峰的移动)以及表征二维材料的层数方面的应用。 2. 傅里叶变换红外光谱 (FTIR) 的化学键合信息: 重点讨论FTIR在聚合物、有机物和生物材料中官能团的识别,以及如何通过吸收峰的强度变化监测反应进程。 3. 紫外-可见-近红外光谱 (UV-Vis-NIR): 阐述其在测量材料的带隙能量、载流子浓度以及光吸收/透射特性中的作用,特别是对半导体和光电材料的评估。 第五部分:热分析与宏观性能关联 (Thermal Analysis and Macroscopic Property Correlation) 此部分关注材料在温度变化过程中的物理化学响应。 1. 差示扫描量热法 (DSC) 与热重分析 (TGA): 详细区分玻璃化转变、熔融、结晶、分解等热事件,并探讨如何将TGA数据与气体分析装置联用,以确定分解产物。 2. 动态热机械分析 (DMA): 阐述DMA如何量化聚合物和复合材料的粘弹性行为,包括储能模量、损耗模量和阻尼因子随温度和频率的变化关系。 第六部分:电化学与输运性能测试 (Electrochemical and Transport Testing) 针对能源材料和电子材料,本部分介绍了关键的电化学和输运性能测量方法。 1. 循环伏安法 (CV) 与阻抗谱 (EIS): 深入解析CV曲线中氧化还原峰的机理,以及EIS在分离电化学系统中不同界面(如双电层、电荷转移电阻)的贡献。 2. 霍尔效应测量 (Hall Effect Measurement): 阐述如何通过霍尔测量精确确定半导体材料的载流子类型(电子或空穴)、浓度以及迁移率。 第七部分:数据处理、建模与交叉集成 (Data Processing, Modeling, and Cross-Technique Integration) 本书最后部分强调先进表征技术并非孤立存在,而是需要强大的数据处理能力和跨技术的整合。 1. 多技术数据融合策略: 讨论如何结合来自TEM(结构)、XPS(表面化学)和XRD(晶体学)的数据,构建一个更完整、更可靠的材料模型。 2. 定量分析中的误差源与不确定性评估: 强调科学严谨性,讨论每种技术特有的系统误差和随机误差来源,以及如何进行不确定性量化。 --- 本书特色: 本书的编写风格严谨、注重实验细节和数据解释的深度。它避免了理论推导的冗长,而将重点放在“如何选择合适的工具解决特定的材料问题”上。所有示例均来源于近十年内发表于高影响力期刊的真实研究案例,确保内容的先进性和实用性。读者将通过本书掌握一套完整的、独立于原子光谱方法的先进材料表征工具箱。

作者简介

目录信息

读后感

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用户评价

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我以一个兼顾教学和科研的大学教师的身份来评价这本书。它在构建知识体系的完整性上做得极其出色,几乎涵盖了从基础的原子吸收光谱(AAS)到前沿的激光烧蚀电感耦合等离子体质谱(LA-ICP-MS)之间的所有主流技术路线。最让我感到惊喜的是,作者并没有将不同的技术割裂开来介绍,而是贯穿始终地强调了它们之间的继承和发展关系,比如如何从火焰原子化技术过渡到雾化室概念,再到后来的高能量密度等离子体。这种“时间轴式”的叙事结构,对于帮助学生建立宏观视野非常重要。唯一的不足可能在于,由于其内容的广度和深度,想在标准的研究生课程中完整地覆盖所有章节,时间上会非常紧张,可能需要教师自行取舍侧重点。但作为一本“参考的终极圣经”,它无疑是首选,任何相关的疑问,翻阅这本书总能找到最权威的解答。

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好的,这是一份模仿不同读者风格的图书评价,每段约300字,用

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这本书的排版和图示质量简直堪称行业标杆!我手里有很多老旧的分析化学书籍,图谱模糊不清,结构示意图也过于简化,但**《原子光谱联用技术》**在这方面做到了极致的清晰和专业。特别是那些复杂的仪器结构示意图,每一个进样口、每一个光学路径都标注得清清楚楚,配合高质量的彩色照片,仿佛那台价值连城的仪器就摆在我面前。阅读那些关于等离子体炬管(ICP)内部结构和工作原理的部分时,那些三维示意图简直是神来之笔,让我立刻领悟了气体流动和能量耦合的复杂过程。此外,书中的数据图表也做得非常规范,误差棒的使用、谱线对比的清晰度都体现了作者对科学呈现的尊重。对于需要向非专业人士解释复杂仪器的同事,我直接把书里的图拿过去讲解,效果非常好。这本厚厚的书,光是翻阅那些精美的插图,都觉得物超所值,它让抽象的物理过程变得触手可及。

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说实话,我本来期望这本书能更侧重于实际操作的技巧和故障排除,但读下来发现,它更像是一本关于“设计思路”和“理论基石”的百科全书。比如,当我试图寻找关于特定样品前处理方法(比如高盐度溶液如何影响雾化效率)的详细步骤时,书中给出的更多是基于理论模型的预测和分析,而非具体的“配方”。这对我来说有些遗憾,因为在日常工作中,经验和“诀窍”往往能解决80%的问题。当然,理解了背后的原理,自己推导出更适合特定体系的参数设置也是一种能力,但这需要大量的时间去验证。我尤其喜欢其中关于“基体效应”和“光谱干扰”的章节,作者用非常生动的语言描述了这些现象在实际测量中是如何体现的,并提供了多种定性分析工具。整体而言,这本书更适合于需要进行方法开发和仪器原理深入研究的科研人员,对于常规的质量控制操作人员来说,可能略显繁复和理论化了。

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分隔: 这本书的内容实在是太硬核了,我作为一个刚入行的化学分析师,面对前几章的内容感觉像是在啃一本高深的理论教材。它对基础物理化学原理的阐述非常透彻,尤其是关于原子激发态和电离过程的细节描述,几乎是手把手地带你深入到光与物质相互作用的核心机制中去。我特别欣赏作者在公式推导上毫不含糊的态度,每一个变量的引入和变换都有清晰的逻辑链条。虽然在阅读过程中,我需要频繁地查阅一些物理学的参考资料来跟上思路,但这种深度钻研的感觉对于真正想掌握这个领域的专业人士来说,是无可替代的。它不是那种浅尝辄止的入门读物,而是旨在将读者培养成能够独立理解和优化实验条件的专家。我花了整整一个月才啃完关于光源部分的章节,但收获是巨大的,对目前实验室里使用的空心阴极灯的原理有了前所未有的清晰认识,这直接指导了我后续的灯电流优化工作。这本书的价值就在于其深度和严谨性,它让你明白“为什么”会发生,而不是仅仅告诉你“怎么做”。

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