具體描述
《集成電路的電磁兼容:低發射·低敏感度技術》的宗旨是綜述集成電路的電磁兼容現象，介紹最新的EMC測量方法和EMC建模方法。《集成電路的電磁兼容:低發射·低敏感度技術》給齣瞭集成電路輻射和敏感度的曆史與現狀、基本概念及原理，並通過各種案例給齣瞭詳細的建模方法、測量方法，以及一些企業和科研實驗室的仿真與測量結果，有助於集成電路和電子係統設計人員減少IC和電子係統的寄生發射，以及對射頻乾擾的敏感度。
《集成電路的電磁兼容:低發射·低敏感度技術》是在集成電路的EMC方麵的專門的信息匯總，希望能夠為廣大集成電路電磁兼容的專傢、學者、設計工程師、電子工程學愛好者提供幫助。
著者簡介
圖書目錄
第1章 集成電路電磁兼容的基本概念 1.集成電路的電磁兼容 1.1 芯片內的EMC 1.2 外部耦閤的EMC 2.集成電路的電磁兼容測量基礎 2.1 騷擾測量 2.2 抗擾度試驗 3.IC的EMC模型 4.總結 5.參考文獻第2章 曆史與現狀第3章 基礎和理論——EMC現象的數學背景第4章 測量方法——集成電路的發射和敏感度第5章 EMC建模——集成電路中騷擾發射和抗擾度現象的建模概覽第6章 案例研究——EMC測試芯片、低發射的微控製器第7章 準則——用於改進EMC的規程附錄A 有用的相關錶格附錄B 術語集——用於集成電路電磁兼容領域的縮寫
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