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《集成电路的电磁兼容:低发射·低敏感度技术》的宗旨是综述集成电路的电磁兼容现象，介绍最新的EMC测量方法和EMC建模方法。《集成电路的电磁兼容:低发射·低敏感度技术》给出了集成电路辐射和敏感度的历史与现状、基本概念及原理，并通过各种案例给出了详细的建模方法、测量方法，以及一些企业和科研实验室的仿真与测量结果，有助于集成电路和电子系统设计人员减少IC和电子系统的寄生发射，以及对射频干扰的敏感度。
《集成电路的电磁兼容:低发射·低敏感度技术》是在集成电路的EMC方面的专门的信息汇总，希望能够为广大集成电路电磁兼容的专家、学者、设计工程师、电子工程学爱好者提供帮助。
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目录信息
第1章 集成电路电磁兼容的基本概念 1.集成电路的电磁兼容 1.1 芯片内的EMC 1.2 外部耦合的EMC 2.集成电路的电磁兼容测量基础 2.1 骚扰测量 2.2 抗扰度试验 3.IC的EMC模型 4.总结 5.参考文献第2章 历史与现状第3章 基础和理论——EMC现象的数学背景第4章 测量方法——集成电路的发射和敏感度第5章 EMC建模——集成电路中骚扰发射和抗扰度现象的建模概览第6章 案例研究——EMC测试芯片、低发射的微控制器第7章 准则——用于改进EMC的规程附录A 有用的相关表格附录B 术语集——用于集成电路电磁兼容领域的缩写
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