数字电路与逻辑设计 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

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出版者:

作者:林红

出品人:

页数:312

译者:

出版时间:2009-4

价格:29.00元

装帧:

isbn号码:9787302193845

丛书系列:

图书标签:

• 数字电路
• 逻辑设计
• 计算机组成原理
• 电子技术
• 电路分析
• 数字系统设计
• FPGA
• Verilog
• VHDL
• 电子工程

现代计算的基石：半导体器件与集成电路原理 本书导读： 在信息爆炸的时代，我们习以为常的智能手机、高速计算机乃至复杂的工业控制系统，其核心驱动力都来源于对微观世界的精确掌控——半导体物理与集成电路技术。本书并非聚焦于数字逻辑的布尔代数层面，而是深入探究构成所有数字及模拟系统的物质基础：半导体材料的奇特行为、晶体管的物理机制，以及如何将这些微观元件集成到功能强大的芯片上。我们旨在为读者构建一个从原子到系统的完整认知框架，理解现代电子设备“为什么能工作”的根本原理。 --- 第一部分：半导体物理基础与器件原理 本部分将带领读者穿越微观世界，理解电子在特定材料中如何流动与被操控，这是设计任何电子电路的先决条件。 第一章：晶体结构与能带理论 我们将从固体物理的视角出发，考察晶体材料的周期性结构，重点分析硅（Si）和锗（Ge）等半导体的晶格排列。随后，引入能带理论，这是解释导体、绝缘体和半导体之间本质区别的核心概念。我们将详细阐述价带、导带以及禁带宽度（Bandgap）对材料电学特性的决定性影响。通过对费米能级（Fermi Level）的深入讨论，理解在不同温度和掺杂条件下，载流子的分布情况。 第二章：本征与杂质半导体 本章聚焦于纯净半导体（本征半导体）与掺杂半导体（外质半导体）的特性差异。我们将详细讲解N型掺杂（施主杂质）和P型掺杂（受主杂质）的过程、机理及其对载流子浓度的影响。通过求解少子与多子的浓度平衡方程，读者将掌握计算材料电阻率的方法，为后续理解PN结特性奠定基础。 第三章：PN结：电子学的基本单元 PN结是所有半导体器件的基石。本章将从物理机制上剖析PN结的形成过程，重点分析空间电荷区（耗尽层）的建立与内建电场。随后，我们将详细推导在零偏、正向偏置和反向偏置条件下，PN结的伏安特性曲线（I-V特性）。特别地，我们将探讨二极管的击穿现象（齐纳击穿与雪崩击穿），并介绍齐纳二极管在稳压电路中的应用。 第四章：双极性晶体管（BJT）的物理模型 双极性结型晶体管（BJT）是电流控制型器件的典范。本章将剖析NPN和PNP结构的原理，阐述其三个工作区（截止区、线性区、饱和区）的物理图像。我们将详细研究载流子在基区中的扩散与复合过程，推导出Ebers-Moll模型的基础形式，并分析晶体管的直流电流增益（$eta$）与过渡频率（$f_T$）的限制因素。 第五章：场效应晶体管（FET）的工作原理 场效应晶体管（FET），特别是MOSFET，是现代数字电路的主流器件。本章将从电场效应的角度引入JFET和MOSFET。对于MOSFET，我们将细致分析其四种工作模式：深结、弱反型、强反型和饱和区。本章的重点在于理解阈值电压（$V_{th}$）的形成机制，以及沟道电流如何通过栅源电压精确调制。 --- 第二部分：集成电路制造与基本结构 本部分将从微观的器件扩展到宏观的电路功能实现，介绍芯片制造的基本流程和基础集成电路的搭建。 第六章：集成电路制造工艺概述 本章将提供一个关于现代半导体集成电路（IC）制造流程的全面概述，重点在于光刻（Photolithography）技术在图案转移中的核心作用。我们将探讨薄膜沉积（如化学气相沉积CVD）、刻蚀（干法与湿法）、离子注入等关键工艺步骤，解释这些步骤如何精确地在硅片上构建出数百万乃至数十亿个晶体管。 第七章：半导体器件的寄生效应与噪声分析 理想的晶体管在实际集成中会伴随不可避免的寄生参数。本章将分析晶体管内部和互连线产生的寄生电阻、电容和电感。随后，我们将深入探讨电路中的热噪声（Johnson-Nyquist Noise）和散粒噪声（Shot Noise）的来源、统计特性以及对电路性能（特别是低噪声放大器）的影响。 第八章：集成电路中的电阻与电容元件 在集成电路内部，电阻和电容的实现方式与分立元件有显著区别。本章将介绍集成电阻的类型（如扩散电阻、薄膜电阻）及其优缺点。对于集成电容，我们将分析MOS电容和结电容的工作特性，以及它们在电路布局设计中的限制。 第九章：CMOS反相器的高速与功耗分析 尽管本书不侧重数字逻辑设计，但CMOS反相器作为最基础的逻辑单元，其性能是理解整个数字IC的起点。本章将从器件级的角度分析CMOS反相器的静态和动态特性。我们将详细推导其传输特性曲线，并量化分析其动态功耗（开关功耗）和短路功耗的产生机制，从而阐明低功耗设计的基本原则。 第十章：集成电路的互连线建模与延迟分析 随着芯片尺寸的缩小，互连线延迟已成为限制电路速度的主要瓶颈。本章将引入RC延迟模型，分析信号在金属导线上传播时所经历的延迟。我们将探讨Elmore延迟模型，并介绍通过优化布线层级和采用缓冲器（Buffer）来减轻互连线延迟的方法。 --- 结语： 本书的目标是提供一个扎实的、基于物理学的视角，去理解现代电子设备的心脏——半导体芯片是如何从原子层面被精确构造并实现复杂功能的。它为后续深入学习高级模拟集成电路、射频电路或更复杂的半导体器件物理学提供了不可或缺的理论基础。

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坦率地说，这本书的难度曲线设置得非常陡峭，它似乎是为那些已经具备一定电子学基础，并渴望挑战系统性、理论化知识体系的读者准备的。在前几章对数制和基本逻辑运算的介绍后，内容的推进速度明显加快，直接进入了数字系统化的设计流程。书中对于标准元器件的介绍相对精简，更侧重于讲解如何从零开始构建复杂的运算单元，例如乘法器、快速傅里叶变换（FFT）的核心结构等，这要求读者必须具备极强的抽象思维能力。我个人在处理到关于存储器组织结构和总线控制逻辑的部分时，感受到了巨大的思维压力，因为它需要同时掌握时序逻辑的时钟控制和大规模数据流的管理。这本书对理论的深度挖掘是毋庸置疑的，它不满足于停留在“能用”的层面，而是力求探究“为何如此高效”的设计。如果把学习过程比作攀岩，这本书提供的可能是最专业的绳索和工具，但攀爬的力度和技巧，最终还是需要学习者自身去磨练。它更像是研究生阶段参考书的深度，而不是本科入门教材的广度，阅读它需要极高的专注力和持续的知识储备支撑。

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我必须承认，这本书的排版和视觉呈现是我近期读过的技术书籍中最令人耳目一新的。它在保持学术严谨性的前提下，极大地提升了阅读的舒适度。彩色的电路图和波形图的运用达到了教科书级别的标准，不再是那种黑白灰的单调乏味。很多关键的逻辑门和组合电路的示意图，通过不同颜色的高亮和分组，使得复杂的连接关系一目了然。更值得称赞的是，它对公式和推导过程的处理。它不是把公式一股脑塞给你，而是通过精心设计的版式，将输入、中间步骤、最终结果用清晰的层次结构展示出来，有效避免了阅读疲劳。我尤其喜欢书中对“设计实例”的呈现方式。它往往会先提出一个实际应用场景，然后一步步引导读者构建解决方案，其中的仿真结果截图和实际电路板的对照，极大地增强了理论与实践的关联性。这种注重视觉体验的设计哲学，让长时间的深度阅读变得不再是煎熬，反而成了一种享受。它成功地证明了，严肃的工程学科教材也可以拥有出色的工业设计美感，这对于希望在学习过程中保持高昂动力的读者来说，无疑是一个巨大的加分项。

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这本教材的讲解方式真是太深入了，每一个概念的引入都像是在铺设一条通往深层理解的道路。它没有那种浮于表面的罗列知识点，而是着重于剖析背后的原理和设计思想。比如，在谈到组合逻辑电路的化简时，作者并没有直接给出卡诺图的使用技巧，而是先用大量篇幅阐述了布尔代数公理在实际电路中的意义，以及如何从物理层面理解冗余项的产生。读完这一章，我感觉自己不再是简单地套用公式，而是真正理解了“为什么”要进行这种化简。特别是对于时序逻辑部分，书中的时序图和状态转移图的绘制规范与解读，清晰得让人拍案叫绝。它将那些原本抽象的时序关系具象化了，使得分析和设计同步、异步电路的流程变得有迹可循。即便是像触发器这种基础元件，书中也对其内部结构和不同工作模式进行了细致的剖析，让我对‘边沿敏感’和‘电平敏感’的差异有了全新的认识。对于初学者来说，可能会觉得前期铺垫稍显冗长，但坚持读下去，你会发现这种厚重感正是构建坚实基础的关键所在，后续学习高级内容时会发现受益匪浅，完全不会有‘只知其然而不知其所以然’的困惑。这本书更像是一位经验丰富的工程师在手把手地教你如何思考电路问题，而不是简单地给你一本工具书。

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这本书在算法和硬件描述语言（HDL）的结合应用方面，展现了超前的教学理念。它没有将硬件描述语言仅仅作为一个工具章节来对待，而是将其深度嵌入到整个数字系统设计流程的核心。书中通过大量的VHDL/Verilog代码示例，清晰地展示了如何将抽象的逻辑设计转化为可综合的硬件描述。最让我受益匪浅的是它对“并发性”和“顺序性”在HDL描述中的处理。很多初学者在用代码描述时会混淆这两者，但本书用对比鲜明的例子，详细解释了`always`块和`assign`语句的内在区别及其对综合结果的影响。它不仅仅是教你语法，更是教你如何“像硬件一样思考”代码的结构。例如，在设计一个有限状态机（FSM）时，它会展示同步逻辑和异步逻辑在代码实现上的细微差别，以及这种差别如何直接影响到最终时序仿真的结果。这种强调代码与硬件行为直接映射的教学方法，极大地弥补了传统纯理论教材在这方面的不足，使得读者在学习完理论后，能够立即掌握现代数字电路设计中至关重要的工程技能。

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我发现这本书在处理数字化系统中的错误检测与纠正机制时，展现出了一种极为严谨的系统安全视角。它并非简单地罗列了奇偶校验或CRC校验的公式，而是从信息论的基础出发，探讨了如何在信道传输中引入冗余信息以对抗噪声干扰。其中关于汉明（Hamming）码的设计与解码过程的推导，非常详尽，它不仅展示了如何找到最小的校验位数量来纠正特定数量的错误，还深入剖析了校验矩阵的构造原理，这在许多其他教材中往往是一笔带过的内容。此外，书中对故障诊断和可测性设计（DFT）的介绍也令人印象深刻。它提出了如何通过扫描链（Scan Chain）等技术来简化大规模集成电路的测试流程，这使得读者能从一个更高维度的角度去审视电路设计的“可制造性”和“可维护性”。这本书成功地将纯粹的逻辑设计与可靠性工程、测试工程的理念融合在一起，培养了一种更全面的数字系统工程师思维，认识到电路设计远不止于功能实现，更关乎其在真实世界中的鲁棒性和可验证性，这一点对于未来从事关键任务系统的设计工作至关重要。

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