超大规模集成电路测试

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出版者:
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页数:319
译者:
出版时间:2008-5
价格:45.00元
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isbn号码:9787121063077
丛书系列:
图书标签:
  • 集成电路测试
  • 超大规模集成电路
  • VLSI测试
  • 芯片测试
  • 数字电路测试
  • 模拟电路测试
  • 故障诊断
  • 测试方法
  • 可靠性
  • 半导体测试
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小错误不断,大错误又看不懂,水货

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