光刻技术是所有微纳器件制造的核心技术。在集成电路制造中,正是由于光刻技术的不断提高才使得摩尔定律得以继续。本书覆盖现代光刻技术的重要方面,包括设备、材料、仿真(计算光刻)和工艺。在设备部分,对业界使用的主流设备进行剖析,介绍其原理结构、使用方法、和工艺参数的设置。在材料部分,介绍了包括光刻胶、抗反射涂层、抗水涂层、和使用旋图工艺的硬掩膜等材料的分子结构、使用方法,以及必须达到的性能参数。本书按照仿真技术发展的顺序,系统介绍基于经验的光学邻近效应修正、基于模型的光学邻近效应修正、亚曝光分辨率的辅助图形、光源-掩模版共优化技术和反演光刻技术。如何控制套刻精度是光刻中公认的技术难点,本书有一章专门讨论曝光对准系统和控制套刻精度的方法。另外,本书特别介绍新光刻工艺研究的方法论、光刻工程师的职责,以及如何协调各方资源保证研发进度。
2013年 – 至今: 中国科学院微电子研究所研究员、博士生导师;国家科技重大专项“300mm晶圆匀胶显影设备”首席科学家(沈阳芯源微电子设备公司)。
2009年 – 2013年: 美国格罗方德纽约研发中心光刻经理。
2007年 – 2 008年: 美国安智公司新泽西研发中心,高级科学家(Senior Staff Scientist)。
2001年 – 2007年: 德国英飞凌公司美国纽约研发中心,高级工程师(Senior/Staff Engineer)。
1998年 – 2001年: 美国能源部橡树岭国家实验室,博士后
光刻一直是集成电路制造工艺中极其重要的一步,是保证微电子产业按照摩尔定律的驱动继续发展的关键。 但真正的光刻技术不只有曾经在半导体制造技术课堂上面学到的掩膜、投影、曝光等步骤,当我对光刻技术有了更进一步的接触和了解之后,我才发现实际的光刻工艺需要考虑的更多更...
评分由科学出版社出版,中国科学院微电子研究所韦亚一研究员所著的《超大规模集成电路先进光刻理论与应用》是一部关于先进光刻工艺和理论的著作,该书从光刻设备、材料、仿真和工艺等角度对业界领先的先进光刻进行了系统总结和理论概述,收录了大量先进光刻相关的实际工艺图像,编...
评分光刻一直是集成电路制造工艺中极其重要的一步,是保证微电子产业按照摩尔定律的驱动继续发展的关键。 但真正的光刻技术不只有曾经在半导体制造技术课堂上面学到的掩膜、投影、曝光等步骤,当我对光刻技术有了更进一步的接触和了解之后,我才发现实际的光刻工艺需要考虑的更多更...
评分以往介绍光刻的书籍多出版于较早的时间,介绍的也都是较早技术结点的相关知识。随着光刻技术水平的发展,需要一本介绍最新的光刻技术方面的书籍。韦亚一老师的《超大规模集成电路先进光刻理论与应用》,贵在“先进”,该书全面介绍了现代光刻工艺的各个方面,都是28纳米以...
评分本书全面介绍了光刻设备,工艺,材料和仿真,还加入了针对2X纳米及以下节点的前沿知识,更是凝聚了作者多年来从事半导体先进光刻工艺的经验。书中给出了大量光刻相关的实际工艺图像,详细阐述了光刻技术概念,有助于读者更好的理解。相比于之前的同类书籍,韦亚一老师的《超大...
**评价二** 对于长期在光刻领域耕耘的从业者而言,《超大规模集成电路先进光刻理论与应用》无疑是一部宝贵的精神食粮。我曾尝试阅读过不少相关的学术论文和技术报告,但很多时候都因过于碎片化和专业性过强而难以形成系统性的认知。这本书的出现,恰好弥补了这一空白。它不仅梳理了光刻技术发展历程中的关键节点,更深入剖析了每一种技术背后的科学原理和工程挑战。例如,在讨论“先进光刻技术”章节时,作者对浸没式光刻的原理讲解,从液体的折射率如何影响焦深,到如何克服液体对光刻胶的化学影响,都做了极为细致的阐述。更让我受益匪浅的是,书中对“计算光刻”(Computational Lithography)的详细介绍,包括源极掩模优化(Source Mask Optimization, SMO)、辅助图案形成的插值(Assist Feature Placement)、以及光刻过程中的像差和畸变补偿等。这些内容不仅提供了解决当下技术瓶颈的思路,更指明了未来光刻技术发展的方向。它让我重新审视了光刻工艺中的“逆向工程”思维,理解了如何通过软件算法来弥补硬件的不足,从而实现更精密的图案制造。读罢此书,我感觉自己对光刻技术的理解又上升了一个新的高度,对未来工作中可能遇到的各种技术难题,也更有信心去应对。
评分**评价八** 《超大规模集成电路先进光刻理论与应用》这本书,为我打开了一个充满奇妙逻辑和精巧设计的世界。在理解了光刻的基本原理之后,我对“掩模版”的设计细节产生了极大的好奇。书中对“掩模版制造”这一环节的详细描述,让我看到了科学理论如何转化为精密的产品。作者不仅介绍了传统的激光光刻掩模版制造工艺,还深入探讨了用于EUV光刻的反射式掩模版制造的复杂性。我尤其对掩模版上用于修正光学邻近效应的“辅助图案”(Assist Features)和“遮蔽结构”(Shadow Mask)的精确设计和制造过程印象深刻。书中通过大量的仿真结果和实验数据,展示了这些微小结构如何影响最终的图案形成,以及如何通过优化设计来最大程度地减小工艺误差。此外,作者还对掩模版缺陷的检测和修复技术进行了介绍,这让我了解到,在如此微观的尺度下,任何微小的瑕疵都可能对芯片性能产生严重影响,因此,对掩模版质量的严格控制至关重要。这本书让我对“精益求精”有了更深刻的理解。
评分**评价九** 我一直认为,任何技术的进步都离不开对基础科学的深刻理解和不懈追求,而《超大规模集成电路先进光刻理论与应用》正是这一观点的绝佳体现。书中对“光学成像系统”的详细解析,从透镜的设计到光源的特性,都进行了详尽的阐述。我特别对书中关于“像差”(Aberration)的讨论产生了浓厚的兴趣,理解了球差、色差、彗差、像散等不同类型的像差如何影响光刻系统的分辨率和图案保真度。作者还介绍了各种先进的光学设计技术,如“变形镜”(Deformable Mirror)和“光栅”(Diffractive Optical Elements, DOE),以及它们在补偿和修正像差方面的作用。这让我意识到,光刻机的设计本身就是一个高度复杂的工程挑战,需要集光学、机械、电子、控制等多个领域的尖端技术于一体。书中还对不同光源(如深紫外DUV、极紫外EUV)的特性及其对光学系统的要求进行了对比分析,这进一步加深了我对光刻技术发展背后驱动力的理解。
评分**评价六** 《超大规模集成电路先进光刻理论与应用》这本书,如同一个详尽的百科全书,为我揭示了光刻技术从宏观原理到微观细节的方方面面。我一直对如何将我们肉眼看不见的电子信号转化为微米甚至纳米级别的实体结构感到惊叹。书中对“光刻胶”的详细论述,让我对这种神奇材料有了新的认识。作者不仅介绍了不同类型光刻胶(如正性光刻胶和负性光刻胶)的化学反应机理,还深入探讨了影响其性能的关键因素,如敏感度、分辨率、侧壁形貌和显影过程。书中对“化学放大光刻胶”(Chemically Amplified Resist, CAR)的详细讲解,让我明白了为什么这种技术能够在提高分辨率的同时,还能保持较高的生产效率。作者还分析了光刻胶在不同光刻光源(如深紫外光DUV、极紫外光EUV)下的表现差异,以及如何根据不同的工艺需求选择合适的光刻胶。此外,书中对“后处理工艺”(如显影、刻蚀、光刻胶去除)与光刻过程的协同作用也进行了深入的分析,这让我对整个芯片制造流程有了更全面的理解。
评分**评价十** 《超大规模集成电路先进光刻理论与应用》这本书,让我深刻认识到,科学研究的价值不仅在于理论的突破,更在于它如何转化为实际的生产力,推动社会进步。《超大规模集成电路先进光刻理论与应用》在这一点上做得非常出色。书中对“光刻工艺的稳定性与良率”的探讨,触及到了工业生产的核心问题。作者不仅分析了影响良率的各种因素,如设备稳定性、环境控制、原材料质量等,还详细介绍了如何通过统计过程控制(Statistical Process Control, SPC)和设计为可制造性(Design for Manufacturability, DFM)等方法来提高生产效率和产品质量。我特别对书中关于“工艺集成”的讨论印象深刻,了解了光刻工艺如何与其他制造环节(如刻蚀、薄膜沉积、离子注入)协同工作,共同塑造出复杂的芯片结构。作者还对未来光刻技术的发展趋势进行了展望,例如对下一代光刻技术(如电子束直接成像、纳米压印技术)的潜力和挑战进行了分析。这本书让我看到了科学技术的迭代和演进,也让我对接下来的技术发展充满了期待。
评分**评价七** 这本书所展现的知识体系是如此的庞大且精深,以至于我每次阅读都能有所收获。《超大规模集成电路先进光刻理论与应用》不仅仅是一本技术手册,更是一部关于人类如何通过智慧和毅力不断挑战物理极限的史诗。在探讨“先进光刻技术”时,作者并未拘泥于单一的技术路线,而是全面地分析了包括电子束光刻(E-beam Lithography)、纳米压印光刻(Nanoimprint Lithography, NIL)、聚焦离子束光刻(Focused Ion Beam Lithography, FIB)等多种替代性或互补性技术。我尤其对纳米压印光刻的“转移”过程产生了浓厚的兴趣,了解了如何通过物理压印将图案从模板转移到基底上,以及其在制造成本和分辨率上的优势。书中也详细探讨了这些技术在实际应用中可能遇到的挑战,比如模板的耐久性、转移精度以及与现有工艺流程的兼容性。作者的分析是客观且深入的,既肯定了这些技术在特定领域的潜力,也指出了它们在普适性方面与成熟光刻技术的差距。这本书让我意识到,在半导体制造领域,并没有“银弹”式的技术,而是需要根据具体需求,不断探索和融合各种先进技术。
评分**评价三** 这本书的价值,不仅仅在于其理论的深度,更在于其将前沿的科学理论与实际的工业应用紧密结合。作为一名芯片设计工程师,我一直对光刻过程的精度要求非常关注,因为这直接影响到设计的可实现性和最终的芯片性能。《超大规模集成电路先进光刻理论与应用》在这一点上做得非常出色。书中关于“光刻模型”的章节,详细介绍了多种数学模型,如几何光学模型、波动光学模型以及更复杂的蒙特卡洛仿真模型,并阐述了它们在预测光刻图案畸变、评估工艺窗口方面的作用。这些模型不仅是理解光刻过程的有力工具,更是优化设计布局、减少制造风险的关键。我特别喜欢书中关于“工艺窗口”分析的部分,作者通过大量的图示和案例,直观地展示了不同光刻参数(如曝光剂量、聚焦深度、分辨率)对最终图案质量的影响,以及如何在复杂的参数空间中找到最优的工艺条件。此外,书中对“近场光学”和“远场光学”在光刻中的应用对比,也让我对光刻系统的设计有了更深刻的理解。它让我认识到,光刻不仅仅是简单的“投影”,而是一个高度复杂的物理和化学耦合过程,需要多学科的知识和精密的工程控制才能实现。
评分**评价一** 捧读《超大规模集成电路先进光刻理论与应用》这本书,仿佛打开了一扇通往微观世界精密运作的大门。作为一名对半导体制造怀揣着浓厚兴趣的门外汉,我原以为光刻技术只是一系列高深莫测的公式和晦涩难懂的图表堆砌。然而,这本书以一种令人惊喜的详实和循序渐进的方式,将一个原本在我脑海中模糊不清的概念,描绘得如此生动立体。作者在开篇就花了大量的篇幅,从光学的基本原理讲起,细致地解释了衍射、干涉、相干性等概念如何与光刻过程中的关键要素——光线、掩模版、光刻胶——紧密联系。我尤其对书中对“衍射极限”的探讨印象深刻,作者并没有止步于概念的提出,而是深入剖析了在实际生产中,如何通过优化光路设计、提高光源的相干性、引入先进的光刻技术(如EUV光刻),来突破物理定律的限制,实现更高分辨率的图案转移。书中穿插的丰富案例,无论是对传统光刻工艺的演进,还是对新兴技术的展望,都让我切实体会到人类智慧在不断挑战物理极限上的卓越表现。它让我明白了,每一片微小的芯片背后,都凝聚着无数科学家和工程师对基础理论的深刻理解和对工程实践的极致追求。这本书让我不仅学到了知识,更激发了我对科学探索精神的敬畏。
评分**评价四** 《超大规模集成电路先进光刻理论与应用》这本书,为我这样的非专业读者提供了一个相对易于理解但又不失严谨的入门途径。作者在讲解抽象的物理概念时,总是能找到恰当的比喻和生动的描述,使得像“相干性”、“光程差”这样的术语不再令人望而生畏。我尤其欣赏书中对“掩模版设计”的介绍,它不仅仅是简单地复刻芯片电路图,而是包含了大量为了克服衍射和干涉效应而进行的精心设计,比如“光学邻近效应修正”(Optical Proximity Correction, OPC)和“相移掩模”(Phase Shift Mask, PSM)技术。书中通过对比分析不同OPC算法(如规则型OPC和模型型OPC)的优缺点,以及PSM技术在提高分辨率方面的优势,让我直观地感受到了设计中的智慧和创造力。同时,作者还详细讲解了掩模版的制造过程,包括电子束光刻、激光光刻等技术,以及如何保证掩模版的精度和质量,这进一步加深了我对整个光刻链条的认识。这本书让我明白,芯片制造的每一个环节都至关重要,而光刻更是其中的核心环节,其背后蕴含着深厚的科学理论和精湛的工程技术。
评分**评价五** 当我翻开《超大规模集成电路先进光刻理论与应用》这本书时,我被其严谨的学术态度和广阔的视野所吸引。作为一名对未来科技发展趋势保持高度关注的人,我一直对半导体制造中的“摩尔定律”及其所面临的挑战感到好奇。这本书系统地阐述了在晶体管尺寸不断缩小的背景下,传统光刻技术所遭遇的瓶颈,以及为了突破这些瓶颈而诞生的各种“先进光刻技术”。书中对“极紫外光刻”(Extreme Ultraviolet Lithography, EUV)的详细介绍,让我对这项颠覆性技术有了全面的了解。从EUV光源的产生机制(如激光诱导等离子体光源,LPP),到EUV光学系统的设计(如反射式光学系统),再到EUV光刻胶的开发,作者都进行了深入的探讨。我特别对书中关于“EUV掩模版”的介绍印象深刻,了解了其多层反射膜的结构和制造难度,以及由此带来的高成本和技术挑战。这本书不仅揭示了EUV光刻技术的巨大潜力,也坦诚地指出了其在实际应用中仍然面临的诸多技术难题,这使得我对这项技术的未来发展有了更客观和理性的认识。
评分不值这么贵
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评分Ch1,Ch2,Ch3,Ch6 四章,其他都翻了一下
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