書中包括的索引使你能夠根據自己的需要，直接閱讀你所關注的內容。主要內容包括：設計核心，關注嵌入核心和嵌入存儲器；係統集成和超大規模集成電路的設計問題；AC掃描、正常速度掃描和嵌入式可測試性設計；內建、自測試、含內存BIST、邏輯BIST及掃描BIST；虛擬測試套接字和隔離測試
·重用設計，包括重用和隔離測試；用VSIA和IEEE P1500標準處理測試問題。
書中穿插的整幅圖解直接來自作者的教學材料。通過為書中的第一部分列齣流程圖、工程圖錶和內容接要，使得讀者能夠更快更容易地學習和查找。本書是與設計和測試工作相關的工程師和管理員所備的資料書籍。
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