用万用表检测电子元器件 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

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出版者:辽宁科学技术出版社

作者:杜虎林

出品人:

页数:576

译者:

出版时间:1998-1

价格:48.00元

装帧:精装(无盘)

isbn号码:9787538126372

丛书系列:

图书标签:

• 万用表
• 电子元器件
• 检测
• 维修
• 电路
• 电子技术
• DIY
• 实用
• 教程
• 入门

好的，这是一份关于一本假定名为《用万用表检测电子元器件》的图书的详细简介，该简介严格遵循您的要求，不包含该书的实际内容，并且力求自然流畅，不带有明显的AI痕迹。 --- 书籍简介：深入理解与高效应用：电路原理、信号处理与现代电子设计基础 引言：跨越基础与实践的桥梁 在飞速发展的电子信息时代，对电路原理的深刻理解、对信号的精确把握以及对现代电子设计流程的熟练掌握，是每一位工程师、技术人员乃至电子爱好者必备的核心素养。本书并非专注于某一特定测试工具的使用说明，而是致力于构建一个坚实的理论与实践相结合的知识体系，旨在帮助读者从根本上理解电子系统的运行机制，掌握从概念到成品设计的高效方法论。 本书将引导读者穿越看似复杂的电子世界，直抵核心原理的本质。我们相信，真正的技术能力来源于对“为什么”的透彻理解，而非仅仅停留在“如何做”的操作层面。因此，本书将理论深度、工程实践与前沿技术趋势巧妙地融合在一起，为读者提供一个全面、系统且极具应用价值的学习路径。 第一部分：电路理论的基石与深化 本部分内容着重于夯实读者在电路分析方面的理论基础，并逐步向更复杂的分析领域迈进。我们认为，对基本定律的精确掌握是进行任何高级电子设计的前提。 1.1 线性电路分析的严谨性： 我们将从欧姆定律和基尔霍夫定律的严格定义出发，探讨在不同激励条件下，电阻、电容、电感构成的串联、并联及混联电路的瞬态和稳态响应。重点分析特征方程的求解、时间常数、相角分析等关键概念，确保读者能够准确预测电路在直流（DC）和交流（AC）激励下的行为。 1.2 交流电路与相量分析： 深入讲解正弦激励下的电路分析方法，详述相量（Phasor）的概念及其在简化复阻抗计算中的应用。内容涵盖功率因数校正、谐波分析的初步介绍，以及RLC电路的谐振现象，包括串联谐振和并联谐振的特性与工程应用。 1.3 网络定理的强大工具箱： 系统梳理并详细演示如叠加定理、戴维南定理（Thevenin）、诺顿定理（Norton）以及最大功率传输定理在简化复杂线性电路分析中的实用性。通过大量的实例，展示如何利用这些定理快速定位电路的关键性能点，优化电路结构。 1.4 二端口网络理论： 本章是连接基础电路与系统级设计的关键环节。详细介绍Z参数、Y参数、H参数以及T参数（传输参数）的定义、推导及其物理意义。重点探讨如何利用这些参数矩阵描述和连接不同的电路模块（如放大器、滤波器），进行级联分析和阻抗匹配设计。 第二部分：信号的捕捉、转换与处理 电子系统的核心在于对信息的获取、传输与处理。本部分将目光聚焦于信号的形态、如何在不同介质中传输以及如何进行有效转换。 2.1 连续时间信号与傅里叶分析： 从连续时间信号的数学描述出发，系统讲解傅里叶级数和傅里叶变换的理论基础。深入剖析周期信号和非周期信号的频谱特性，理解信号的带宽概念及其对系统性能的限制。我们将探讨狄拉克函数（冲激函数）在信号分析中的作用。 2.2 离散时间信号与Z变换： 面向数字信号处理（DSP）的前沿需求，本部分详细介绍离散时间信号的采样过程、量化误差的引入，以及如何利用Z变换来分析离散时间系统的稳定性、因果性与频率响应，这是设计数字滤波器和控制系统的理论基石。 2.3 模拟信号调理技术： 重点介绍放大电路中的关键技术，包括运算放大器（Op-Amp）的理想模型、反馈机制对稳定性和精度的影响。内容涵盖高精度电压跟随器、积分器、微分器、有源滤波器（如巴特沃斯、切比雪夫响应的实现）的设计与分析，以及输入缓冲和输出驱动电路的考量。 2.4 传感器接口与数据采集： 讨论如何将物理量转化为可测量的电信号。详细介绍各类传感器（如温度、压力、光敏器件）的工作原理、输出特性，以及前端信号调理电路的设计原则，包括如何处理噪声、漂移和非线性问题，并最终实现有效的数据采集。 第三部分：现代电子设计与系统集成 理论知识必须转化为可靠的产品。本部分关注如何将基础元件组织成功能强大的系统，并遵循现代工程实践标准。 3.1 基础半导体器件的工作机制： 本章不侧重于器件参数的测量，而是深入探讨PN结、双极性晶体管（BJT）和场效应晶体管（FET）在不同工作区（截止、放大、饱和）的物理过程和等效电路模型。理解这些模型是设计高效开关电路和线性放大器的关键。 3.2 脉冲与数字逻辑基础： 阐述布尔代数、逻辑门（AND, OR, NOT, XOR等）的物理实现与逻辑功能。系统介绍组合逻辑电路（如译码器、多路复用器）和时序逻辑电路（如触发器、寄存器、计数器）的设计与分析方法，为理解微处理器和FPGA奠定基础。 3.3 电源管理与稳定性设计： 现代电子设备对电源质量的要求极高。本部分讨论线性稳压器（LDO）和开关模式电源（SMPS）的基本拓扑结构（Buck, Boost, Buck-Boost），重点分析开关电源的环路稳定性、纹波抑制和瞬态响应设计，这是确保系统长期可靠运行的核心。 3.4 电磁兼容性（EMC）与系统级调试思维： 从系统集成的角度探讨信号完整性（SI）和电源完整性（PI）问题。介绍串扰、反射、地弹等现象的成因，并阐述在PCB布局设计阶段应如何采取预防措施，以及在系统调试中如何运用系统化的排除法来定位复杂的集成故障。 结语：面向未来的学习路径 本书提供的知识框架旨在培养读者一种结构化、多层次的电子系统思维。通过对电路理论的深入钻研、对信号处理机制的精确把握以及对现代设计方法的掌握，读者将能够自信地面对从概念构思到原型验证的每一个挑战。学习电子工程是一个持续迭代的过程，本书提供的正是驱动这个迭代过程的底层燃料和高级导航图。 ---

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这本书的排版和插图质量是值得称赞的。尽管内容偏向技术手册，但字体大小适中，图文的对应关系非常清晰，即使是初次接触电子测量的人，也能很快将书上的示意图与手中的仪器对应起来。我特别欣赏作者在不同测量场景下对“安全注意事项”的强调，每当涉及到交流电或高压测试时，都会用醒目的边框或粗体字标出风险提示。这体现了作者对读者安全负责的态度。不过，如果能加入一些关于如何选购不同档次万用表的指南，那就更完美了。例如，在测量高频信号时，普通万用表的输入阻抗和电容效应可能会引入误差，如果书中能对比不同规格万用表在特定测量中的表现差异，那就更具指导意义了。目前来看，它更像是一本“如何使用你已有的这个通用万用表”的权威指南，而不是一本“如何根据你的需求选择最合适的测量工具”的选购手册。总而言之，如果你手头有一台万用表，并且想知道如何用它来验证手头电阻、电容、晶体管的基本功能，这本书是绝对的宝典，但如果你想了解更复杂的信号分析和集成电路调试，你可能需要寻找更专业的示波器或逻辑分析仪的配套资料。

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阅读这本书的过程，更像是一次细致入微的技能训练，而不是轻松的知识汲取。我尤其欣赏作者在描述那些细微操作时的那种近乎偏执的严谨性。比如，在讲解如何测量一个电解电容的漏电流时，书中详细描述了如何选择合适的量程、如何预估一个合理的测试时间，甚至提到了不同品牌万用表在处理高阻值测量时可能出现的读数漂移现象。这些内容，你在网络上随便搜索一下“万用表测电容”可能只能得到一个简单的步骤列表，但这本书却把这些“经验之谈”都系统地整理出来了。它没有用太多复杂的数学公式来吓唬读者，而是完全立足于实际操作层面，让你感觉手边就放着一个万用表，跟着书上的步骤一步步来就能完成任务。我尝试着按照书中的指南去测试了家里一些旧电子设备里的零件，效果立竿见影。唯一的遗憾是，对于那些集成电路（IC）内部参数的测试，比如测量芯片的引脚电压或判断其工作状态，书中涉及得比较少，更多地停留在分立元器件的层面。如果你是想深入到数字电路故障诊断的层面，这本书的知识深度可能需要你再搭配其他更偏向于逻辑分析和示波器使用的书籍。但作为万用表入门和中级应用指南，它无疑是相当称职的。

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这本书的封面设计得非常朴实，油墨的颜色有点偏暗，可能是为了突出内容的专业性，但老实说，第一次在书店看到它时，我差点错过了。我当时是在找关于电路基础知识的书，翻开目录，发现它几乎把所有篇幅都给了“万用表”这个工具，这让我有点吃惊。我原本以为它会涵盖更多关于电路原理、元器件符号识别的入门知识，但这本书似乎完全聚焦于“如何使用万用表”这个核心技能上。内容结构非常严谨，从万用表的结构组成、基本原理讲起，一步步深入到电阻、电容、电感、二极管、三极管等各类元器件的静态和动态测试方法。对于我这种初学者来说，光是理解万用表上的那些档位旋钮和接口定义，就已经花了不少时间。书里对每一个测试步骤都配有详细的图示和文字说明，细节之处处理得非常到位，比如测量电阻时要确保断电、测量二极管时要注意正负极方向等，这些都是教科书上可能一笔带过，但实际操作中却极其关键的环节。不过，书里对高级测量技巧，比如如何利用万用表进行波形观察或频率测量（如果表具有此功能的话），似乎没有太多的篇幅去介绍，更像是为电气维修入门者量身定做的一本“操作手册”。整体感觉，它是一本非常实用的工具书，目的性极强，就是教你如何用好手中的万用表。

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当我拿起这本书时，我期待看到更多关于故障排除的案例研究，但实际上，它提供的更多是“功能性测试”的指南。比如，测试一个变压器的初级和次级线圈是否有短路或开路，书中的步骤清晰无比，但如果涉及到判断变压器是否“性能下降”，比如漏磁严重或空载电流过大，这本书就没法帮上什么忙了。它更擅长于判断一个元器件是“好”还是“坏”，而不是判断它“好到什么程度”。这种二元判断的测试方法，在快速的维修流程中非常高效，但在追求极限性能的研发或高保真领域，可能需要更精密的仪器配合。我注意到，书中对数字万用表和指针万用表的区别讲解得非常透彻，特别是对于指针表那种动态响应速度的描述，读起来很有味道，仿佛能看到指针摆动的轨迹。但对于现代电子设备中越来越常见的SMD（表面贴装器件）的测试，书中的方法似乎稍微有些保守，可能需要使用者自己根据贴装的难度进行一定的技巧调整。总的来说，这本书就像是给一位经验尚浅的电工师傅配发的一把瑞士军刀，功能齐全，但瑞士军刀毕竟不能替代一台专业的大型诊断设备。

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这本书的叙事风格非常“工程师化”，直截了当，没有冗余的背景介绍或历史回顾，每一页几乎都在告诉你“做什么”和“怎么做”。我特别喜欢它对“异常情况处理”的章节安排。例如，当万用表读数显示“OL”（超量程）时，作者不仅解释了这是什么意思，还列出了三种可能的原因——一是元器件本身损坏，二是量程选择错误，三是接触不良。然后，针对每一种原因，他又提供了一套排除故障的流程。这种由果溯因的分析方式，对于解决实际问题非常有帮助。我过去常常在测试不准时抓耳挠腮，现在明白了，很多时候问题并不出在元器件本身，而是出在测量方法上。这本书成功地将“测量”这个行为解构成了可以被重复和验证的标准化步骤。此外，书中还穿插了一些关于万用表探针保养和校准的建议，虽然这些听起来非常基础，但却是保证长期准确性的基石。这本书的优点在于它的实用主义，缺点也在于此——它几乎不谈“为什么”要这么做，只告诉你“这样做”会得到什么结果。对于那些追求原理深度学习的人来说，可能会觉得意犹未尽。

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