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Advances in Scanning Probe Microscopy pdf epub mobi txt 電子書 下載 2024

Advances in Scanning Probe Microscopy
☆☆☆☆☆
簡體網頁||繁體網頁
Sakurai, T.; Watanabe, Y.; Sakurai, Toshio
Le Lezard Noir
2008
341
$ 154.81
9783540667186

圖書標籤: 渡邊安治  ✿攝影集   

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发表于2024-09-19

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圖書描述

This book covers several of the most important topics of current interest at the forefront of scanning probe microscopy. These include a realistic theory of atom-resolving atomic force microscopy (AFM), fundamentals of MBE growth of III-V compound semiconductors and atomic manipulation for future single-electron devices.

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