第1章 概述 1．1 低速设计和高速设计的例子 【案例1-1】 简化的存储电路模块 1．1．1 低速设计 1．1．2 高速设计 1．2 如何区分高速和低速 1．3 硬件设计流程 1．3．1 需求分析 1．3．2 概要设计 1．3．3 详细设计 1．3．4 调试 1．3．5 测试 1．3．6 转产 1．4 原理图设计 第2章 高速电路中的电阻、电容、电感和磁珠的选型及应用 2．1 电阻的应用 2．1．1 与电阻相关的经典案例 【案例2-1】 串联电阻过大，导致板间告警失败 【案例2-2】 电阻额定功率不够造成的单板潜在缺陷 【案例2-3】 电阻在时序设计中的妙用 2．1．2 电阻应用要点 2．2 电容的选型及应用 2．2．1 与电容相关的经典案例 【案例2-4】 电容失效导致低温下硬盘停止工作 【案例2-5】 多次带电插拔子板导致母板上钽电容损坏 【案例2-6】 高速电路中电容应用问题导致CPU工作不稳定 2．2．2 高速电路设计中电容的作用及分析 【案例2-7】 交流耦合电容选择不当引起数据帧出错 【案例2-8】 利用0612封装的电容增强滤波性能 【案例2-9】 LDO电源应用中的滤波电容ESR问题 【案例2-10】 高频电路中1?F +0．01?F是否能展宽低阻抗频带 2．2．3 高速电路设计常用电容及其应用要点 【案例2-11】 陶瓷电容选型错误导致单板丢数据包 【案例2-12】 根据电路要求进行钽电容选型 2．2．4 去耦电容和旁路电容 2．3 电感的选型及应用 2．3．1 与电感相关的经典案例 【案例2-13】 LC低通滤波导致输出电源电压纹波偏大 【案例2-14】 大电流通路PI型滤波造成电压衰减 2．3．2 高速电路设计中电感的作用 2．3．3 高速电路设计常用电感及其应用要点 2．4 磁珠的选型及应用 2．4．1 磁珠的滤波机理 2．4．2 高速电路设计中磁珠的选型及其应用要点 【案例2-15】 误用磁珠造成过流保护电路失效 2．4．3 磁珠和电感的比较 第3章 高速电路中的逻辑器件选型及高速逻辑电平应用 3．1 与逻辑器件相关的经典案例 【案例3-1】 逻辑器件输入端上拉太弱造成带电插拔监测功能失效 3．2 逻辑器件应用要点 3．2．1 逻辑器件概要 【案例3-2】 逻辑器件驱动能力过强造成信号振铃 【案例3-3】 同一型号逻辑器件的差异性造成PHY配置错误 3．2．2 逻辑器件参数介绍 3．2．3 逻辑器件功耗计算 3．2．4 逻辑器件热插拔功能介绍 3．2．5 逻辑器件使用中注意事项的总结 3．3 高速逻辑电平应用 3．3．1 高速逻辑电平概述 【案例3-4】 差分对走线附近信号分布不均衡造成电磁辐射 3．3．2 LVDS逻辑电平介绍及其应用要点 【案例3-5】 空闲输入引脚处理有误导致FPGA检测到错误输入 3．3．3 LVPECL逻辑电平介绍及其应用要点 3．3．4 CML逻辑电平介绍及其应用要点 3．3．5 高速逻辑电平的比较 3．3．6 高速逻辑电平的互连及其应用要点 第4章 高速电路中的电源设计 4．1 与电源相关的经典案例 【案例4-1】 LDO输出电源电平低于设置值 【案例4-2】 电源芯片欠压保护电路导致上电时序不满足设计的要求 【案例4-3】 多电源模块并联工作时的均压措施 4．2 高速电路设计的电源架构 4．2．1 集中式电源架构 4．2．2 分布式电源架构 4．3 高速电路电源分类及其应用要点 4．3．1 LDO电源介绍及其应用要点 【案例4-4】 计算LDO工作时的结温 【案例4-5】 SENSE功能导致电源芯片输出电压不稳定 4．3．2 DC／DC电源介绍及其应用要点 【案例4-6】 计算栅极电流 【案例4-7】 MOSFET同时导通导致MOSFET损坏 【案例4-8】 -48V缓启电路中MOSFET烧坏 【案例4-9】 基于ADMl066对多路电源实现监控 【案例4-10】 基于LTCl422实现上电速度的控制 【案例4-11】 基于电源芯片实现上电速度的控制 【案例4-12】 基于RC阻容电路实现延时功能 【案例4-13】 上电电流过大引起电感啸叫 【案例4-14】 输入电源上电过缓造成输出电源上电波形不单调 4．3．3 电源管理 4．3．4 保险管的选型及应用 【案例4-15】 热插拔单板的保险管选型第5章 高速电路中的时序设计 5．1 时序设计概述 5．2 时序参数介绍 5．3 源同步系统时序设计 5．3．1 源同步系统时序设计原理 5．3．2 源同步系统时序设计范例一 5．3．3 源同步系统时序设计范例二 5．4 共同时钟系统时序设计 5．5 源同步系统与共同时钟系统的比较第6章 高速电路中的复位、时钟设计 6．1 复位电路设计 6．1．1 与复位电路相关的经典案例 【案例6-1】 主控板无法通过PCI-X总线查询到接口板 6．1．2 复位设计介绍及其应用要点 【案例6-2】 存储模块读取的错误 6．1．3 专用复位芯片的使用 6．2 时钟电路设计 6．2．1 与时钟电路相关的经典案例 【案例6-3】 系统时钟偏快的问题 【案例6-4】PHY寄存器无法读取的问题 【案例6-5】 高温流量测试丢包问题 6．2．2 晶体、晶振介绍及其应用要点 【案例6-6】 利用首个时钟沿启动组合逻辑导致CPU工作不稳定 6．2．3 锁相环及其应用 【案例6．7】 两级锁相环的应用导致MPC8280的PCI时钟失锁 6．2．4 时钟抖动与相位噪声第7章 高速电路中的存储器应用与设计 7．1 与存储器相关的经典案例 【案例7-1】 时序裕量不足导致存储器测试出错 7．2 常用存储器介绍及其应用要点 7．2．1 存储器概述 7．2．2 SDRAM介绍及其应用要点 7．2．3 DDR SDRAM介绍及其应用要点 【案例7-2】 DLL缺陷造成DDR SDRAM时序出错 【案例7-3】 ■不稳定造成存储器读写操作出错 7．2．4 DDR2 SDRAM介绍及其应用要点 【案例7-4】 CPU存储系统不识别8位内存条的问题 7．2．5 SRAM介绍及其应用要点 【案例7-5】 片选处理不当导致SRAM数据丢失 7．2．6 FLASH与EEPROM介绍 【案例7-6】 热插拔导致单板FLASH损坏 【案例7-7】 读取百兆光模块信息出错第8章 高速电路中的PCB及其完整性设计 8．1 与PCB及完整性设计相关的经典案例 【案例8-1】 回流路径缺陷对高速信号质量的影响 8．2 PCB层叠结构与阻抗计算 8．2．1 Core和PP 8．2．2 PCB的层叠结构和阻抗设计 8．3 高速电路PCB设计要点 8．3．1 PCB设计与信号完整性 【案例8-2】 传输线的判断 【案例8-3】 反射的计算 【案例8-4】 DDR SDRAM设计时，终端电阻RIT布放位置的选择 【案例8-5】 大驱动电流信号对高速数据信号的串扰 【案例8-6】 高速接口器件批次更换造成辐射超标 【案例8-7】 TcK信号出现回沟导致无法通过JTAG接口对CPLD进行加载 8．3．2 PCB设计与电源完整性 8．3．3 PCB设计中的EMC 【案例8-8】 网口指示灯信号线引发的辐射问题 【案例8-9】 接口芯片与时钟驱动器共用电源，导致辐射超标 8．3．4 PCB设计中的ESD防护 【案例8-10】 TVS管布放位置不合理导致静电放电测试失败 【案例8-11】 GND和HV-GND混用导致电源控制电路失效 8．3．5 PCB设计与结构、易用性 【案例8-12】 网口指示灯排列顺序出错 【案例8-13】 网口连接器堆叠方式与易插拔特性 8．3．6 PCB设计与散热 8．3．7 PCB设计与可测试性参考文献
· · · · · · (收起)