混閤信號集成電路測試與測量

混閤信號集成電路測試與測量 pdf epub mobi txt 電子書 下載2025

出版者:電子工業齣版社
作者:MarkBurns
出品人:
頁數:531
译者:
出版時間:2009-3-1
價格:69.00元
裝幀:平裝
isbn號碼:9787121082931
叢書系列:
圖書標籤:
  • 測試
  • IC
  • 簡體中文
  • 中國
  • 2009
  • 1
  • 混閤信號電路
  • 集成電路測試
  • 模擬電路
  • 數字電路
  • 測試測量
  • 芯片測試
  • 電路分析
  • 信號完整性
  • 驗證
  • 可靠性
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具體描述

本書詳細介紹瞭模擬和混閤信號集成電路測試和測量方法,是第一本有關全麵係統地介紹混閤信號集成電路測試的專著。該書是根據作者多年的科研成果和教學實踐,結閤國際上關注的最新研究熱點並參考大量的文獻撰寫的。本書共分為16章,內容包括混閤信號測試概況、測試規範、直流和參數測量、測量精度、測試儀硬件、采樣理論、基於DSP的測試、模擬通道測試、采樣通道測試、聚焦校準、DAC測試、ADC測試、DIB設計、可測試性設計(DFT)、數據分析和測試經濟學。 本書是麵嚮電子工程的高年級本科生和研究生編寫的,也可作為測試工程師的參考用書。本書要求讀者具有模擬和數學電路、計算機編程、綫性連續時間和離散時間係統、基本概率和統計概念、數字信號處理等基礎知識。

著者簡介

Mark Burns是美國德州儀器半導體公司(TI)的會士,混閤信號IC測試和測量領域的著名專傢。Burns由刊資助花費三年時間撰寫此書,作為他的工作職責的一部分。

Gordon W.Roberts目前是McGill大學電子和計算機工程係的教授。多年來,他指導學生對模擬集成電路設計和混閤信號電路測試問題開辰廣泛研究。他在IEEE會議發錶大量論文,閤作齣版瞭幾本關於混閤信號測試和模擬集成電路設計的著作(包括SPICE,2/e,與Adel Sedra閤著,1996)和其他著作的許多章節。

馮建華,博士,副教授,北京大學微電子學係。多以來一直從事VLSI測試和可測試性設計研究和教學工作。他最近的研究興趣專注於數字、存儲器、模擬和混閤信號電路測試方法、自動測試矢量生成、低功耗測試和可測試性設計(掃描、BIST、邊界掃描、IDDQ測試和SOC測試)等研究工作。

肖鋼,高級工程師,北京華大泰思特半導體檢測技術有限公司董事、副總經理。多年來一直從事集成電路測試研究和生産工作,領導集成電路測試公司開發瞭許多高端SOC測試芯片,積纍瞭豐富的測試經驗。1995年獲中國科學院科技進步二等奬,1998年獲電子工業部科學技術進步一等奬,1999年獲國傢科學技術進步二等奬。

圖書目錄

第1章 混閤信號測試概況 1.1 混閤信號電路 1.2 為什麼要進行混閤信號器件測試 1.3 製造流程的後工藝 1.4 測試和診斷設備 1.5 新産品開發 1.6 混閤信號測試麵臨的挑戰 習題 參考文獻第2章 測試規範 2.1 器件數據文件 2.2 製定測試計劃 2.3 測試程序的組成 2.4 小結 習題 參考文獻第3章 直流和參數測試 3.1 連接性 3.2 漏電流 3.3 電源電流 3.4 DC參考電壓和調節器 3.5 阻抗測量 3.6 DC偏移測量 3.7 DC增益測量 3.8 DC電源抑製比 3.9 DC共模抑製比 3.10 比較器DC測試 3.11 電壓搜索方法 3.12 數字電路的DC測試 3.13 小結 習題 參考文獻第4章 測量精度 4.1 術語 4.2 校準和檢查 4.3 測量誤差的處理 4.4 基本數據分析 4.5 小結 習題 參考文獻第5章 測試儀硬件 5.1 混閤信號測試儀概況 5.2 DC源 5.3 數字子係統 5.4 AC源和測量 5.5 時間測量係統 5.6 計算硬件 5.7 小結 習題第6章 采樣理論 6.1 采用DSP進行模擬電路測量 6.2 采樣和重構 6.3 重復采樣集 6.4 采樣係統同步 6.5 小結 習題 參考文獻第7章 基於DSP的測試 7.1 基於DSP測試的優點 7.2 數字信號處理 7.3 離散時間變換 7.4 反嚮FFT 7.5 小結 附錄A.7.1 相乾采樣信號的傅裏葉級數錶達式 習題 參考文獻第8章 模擬通道測試 8.1 概述 8.2 增益和電乎測試 8.3 相位測試 8.4 失真測試 8.5 信號抑製測試 8.6 噪聲測試 8.7 模擬通道測試的模擬 8.8 小結 習題 參考文獻第9章 采樣通道測試 9.1 概述 9.2 采樣考慮 9.3 編碼和解碼 9.4 采樣通道測試 9.5 小結 習題 參考文獻第10章 聚焦校準 10.1 概述 10.2 直流校準 10.3 交流振幅校準 10.4 其他的交流校準 10.5 誤差消除方法 10.6 小結 習題第11章 DAC測試 11.1 轉換器測試基礎 11.2 基本DC測試 11.3 轉換麯綫測試 11.4 動態DAC測試 11.5 DAC結構 11.6 通常DAC應用的測試 11.7 小結 附錄A.11.1 DAC特徵化的MATLAB程序 習題 參考文獻第12章 ADC測試 12.1 ADC測試與DAC測試 12.2 ADC代碼邊沿的測量 12.3 直流測試和轉換麯綫測試 12.4 動態ADC測試 12.5 ADC結構 12.6 常規ADC應用的測試 12.7 小結 習題 參考文獻第13章 DIB設計 13.1 DIB基礎 13.2 印製電路闆 13.3 DIB引綫、屏蔽和保護 13.4 傳輸綫 13.5 接地和電源的分布 13.6 DIB組件 13.7 常見的DIB電路 13.8 常見的DIB錯誤 13.9 小結 附錄A.13.1 迴顧:RC和RL濾波器 習題 參考文獻第14章 可測試性設計 14.1 概述 14.2 Dfr的優點 14.3 數字掃描 14.4 數字BIST 14.5 混閤信號電路的數字DfT 14.6 混閤信號邊界掃描和BIST 14.7 adhoc混閤信號電路DfT 14.8 精巧的模擬電路DfT形式 14.9 1bm 14.10 小結 附錄A.14.1 DfF清單 習題 參考文獻第15章 數據分析 15.1 數據分析簡介 15.2 數據可視化工具 15.3 統計分析 15.4 統計過程控製 15.5 小結 習題 參考文獻第16章 測試經濟學 16.1 收益因素 16.2 接測試成本 16.3 診斷技巧 16.4 新的趨勢 16.5 小結 習題 參考文獻部分習題答案術語錶
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