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混合信号集成电路测试与测量

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MarkBurns
电子工业出版社
2009-3-1
531
69.00元
平装
9787121082931

图书标签: 测试  IC  简体中文  中国  2009  1   


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发表于2024-12-23

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图书描述

本书详细介绍了模拟和混合信号集成电路测试和测量方法,是第一本有关全面系统地介绍混合信号集成电路测试的专著。该书是根据作者多年的科研成果和教学实践,结合国际上关注的最新研究热点并参考大量的文献撰写的。本书共分为16章,内容包括混合信号测试概况、测试规范、直流和参数测量、测量精度、测试仪硬件、采样理论、基于DSP的测试、模拟通道测试、采样通道测试、聚焦校准、DAC测试、ADC测试、DIB设计、可测试性设计(DFT)、数据分析和测试经济学。 本书是面向电子工程的高年级本科生和研究生编写的,也可作为测试工程师的参考用书。本书要求读者具有模拟和数学电路、计算机编程、线性连续时间和离散时间系统、基本概率和统计概念、数字信号处理等基础知识。

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著者简介

Mark Burns是美国德州仪器半导体公司(TI)的会士,混合信号IC测试和测量领域的著名专家。Burns由刊资助花费三年时间撰写此书,作为他的工作职责的一部分。

Gordon W.Roberts目前是McGill大学电子和计算机工程系的教授。多年来,他指导学生对模拟集成电路设计和混合信号电路测试问题开辰广泛研究。他在IEEE会议发表大量论文,合作出版了几本关于混合信号测试和模拟集成电路设计的著作(包括SPICE,2/e,与Adel Sedra合著,1996)和其他著作的许多章节。

冯建华,博士,副教授,北京大学微电子学系。多以来一直从事VLSI测试和可测试性设计研究和教学工作。他最近的研究兴趣专注于数字、存储器、模拟和混合信号电路测试方法、自动测试矢量生成、低功耗测试和可测试性设计(扫描、BIST、边界扫描、IDDQ测试和SOC测试)等研究工作。

肖钢,高级工程师,北京华大泰思特半导体检测技术有限公司董事、副总经理。多年来一直从事集成电路测试研究和生产工作,领导集成电路测试公司开发了许多高端SOC测试芯片,积累了丰富的测试经验。1995年获中国科学院科技进步二等奖,1998年获电子工业部科学技术进步一等奖,1999年获国家科学技术进步二等奖。


图书目录


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