Applied Scanning Probe Methods III pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

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出版者:Springer Verlag

作者:Bhushan, Bharat (EDT)/ Fuchs, Harald (EDT)

出品人:

页数:378

译者:

出版时间:

价格:169

装帧:HRD

isbn号码:9783540269090

丛书系列:

图书标签:

• Scanning Probe Microscopy
• SPM
• AFM
• STM
• NSM
• Surface Analysis
• Nanotechnology
• Materials Science
• Microscopy
• Nanoscale Characterization

电子材料与器件的微观结构分析：探索纳米世界的边界 图书简介 本书深入探讨了现代材料科学和半导体器件领域中，对物质微观结构进行高分辨率表征的关键技术与理论基础。内容聚焦于扫描隧道显微镜（STM）、原子力显微镜（AFM）及其相关的高级成像技术，旨在为研究人员和工程师提供一套全面的工具集，以理解和控制从原子尺度到纳米尺度的材料特性。 第一部分：扫描探针显微技术的基本原理与发展 本部分详细阐述了扫描探针显微镜（SPM）技术的核心物理机制。我们首先回顾了扫描隧道效应的量子力学基础，包括费米能级、势垒穿透概率以及隧道电流对间隙距离的指数依赖性，这是STM成像的根本。随后，内容过渡到AFM的机械动力学模型，重点分析了探针与样品之间的范德华力、静电力、磁力以及表面形貌引起的相互作用。 关键章节聚焦： 隧道效应与局域态密度（LDOS）的关联： 深入解析了$dI/dV$谱（微分电导谱）如何直接反映电子态的能量分布，这是理解化学键合和电子结构的关键。 AFM模式的精细控制： 详尽比较了接触模式、非接触模式（AC模式）和振幅调制模式（Tapping Mode）的优缺点及其在不同样品环境（如液体、高真空）下的适用性。特别强调了高频振荡对探针尖端形貌稳定性的影响。 探针尖端的构建与校准： 探讨了制造具有高尖锐度和化学惰性的探针（如Pt/Ir、Si/SiO₂基探针）的技术挑战，以及如何通过标准样品进行定量高度和力曲线的校准。 第二部分：先进表征技术与功能成像 本部分超越了单纯的形貌成像，着重介绍了如何利用SPM技术测量材料的物理、化学和电子功能。这些技术是解析复杂异质结、二维材料界面以及纳米器件性能瓶颈的利器。 1. 电子功能成像技术： 开尔文探针力显微镜（KPFM）： 详细阐述了KPFM测量表面功函数和电势分布的原理，包括振幅调制与频率调制技术在消除电荷陷阱影响上的应用。这对于分析有机半导体和钝化层上的电荷积累至关重要。 电子全息术与STM成像结合： 探讨了如何通过傅里叶变换的STM图像来重建电子波函数的空间分布，揭示电子衍射和表面重构的细节。 2. 机械与形变分析： 力谱学与力弛豫研究： 介绍了如何通过精确控制探针在样品表面的压入力，测量材料的弹性模量（杨氏模量）和粘弹性行为。这对于评估涂层材料的机械耐久性和软物质的粘附特性具有重要意义。 压电力显微镜（PFM）： 聚焦于铁电材料和压电薄膜的畴结构成像。详细分析了驱动电压、扫频与畴翻转阈值之间的关系，以及如何通过PFM确定材料的介电响应各向异性。 3. 谱学与化学分析： 振动光谱与光热诱导力显微镜（TIPS-AFM）： 介绍了利用局部加热诱导的红外吸收来识别特定分子振动模式的技术，从而实现亚衍射极限的化学成像。 第三部分：纳米器件的界面工程与缺陷分析 本部分将理论和技术应用于实际的工程问题，关注高性能电子和光电器件中的关键界面现象。 1. 界面电子结构与传输： 扫描库仑作用显微镜（SCM）： 用于测量局部电荷密度和掺杂不均匀性。本章详细分析了SCM信号如何受探针尖端电容和样品表面几何形状的耦合影响，并提出了针对异质结界面电荷扩散的定量模型。 隧道电流的非局部效应： 探讨了在超薄膜和量子点结构中，隧道电流如何受到周边环境和尖端形貌的非局域影响，这直接关系到器件的漏电机制。 2. 缺陷与位错成像： 高衬度成像策略： 针对半导体材料（如SiC、GaN）中的位错线和晶界，阐述了如何通过优化AFM的振幅、偏压和环境气体，以最大化结构缺陷与背景晶格的衬度差异。 表面吸附与重构： 深入研究了在特定气氛（如氧气、水蒸气）下，半导体表面原子排列的变化及其对电学性能的瞬时影响，这对于理解器件的长期稳定性至关重要。 第四部分：数据处理、环境控制与未来趋势 本部分关注实验的实施细节和数据分析的复杂性，并展望SPM技术在更极端条件下的应用潜力。 图像处理与去噪算法： 介绍傅里叶滤波、地形校正以及基于机器学习的图像重建方法，以有效分离真实形貌信号与由探针振动或漂移引入的噪声。 极端条件下的SPM： 讨论了在超高真空（UHV）、低温（mK级）以及高压/高温环境下的SPM操作。特别是低温STM如何用于研究超导体的分数量子霍尔效应和拓扑绝缘体的表面态。 集成化与自动化： 展望了SPM与其他光谱技术（如XPS、Raman）的集成趋势，以及利用自动化反馈系统实现高通量材料筛选的可能性。 本书内容严谨，理论推导清晰，并通过大量来源于前沿研究的案例分析，展示了扫描探针方法在解析复杂功能材料微观世界中的不可替代性。它不仅是高级材料物理、固态物理和纳米电子学研究人员的必备参考书，也是精密仪器设计工程师的重要技术指南。

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