Infrared Ellipsometry On Semiconductor Layer Structures

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出版者:Springer Verlag

作者:Schubert, Mathias

出品人:

頁數:193

译者:

出版時間:

價格:199

裝幀:HRD

isbn號碼:9783540232490

叢書系列:

圖書標籤:

半導體
橢偏儀
薄膜
材料科學
光學
錶徵
物理
納米技術
層結構
紅外光譜學

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