新编通用电子元器件替换手册

新编通用电子元器件替换手册 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

出版者:7-122
作者:姜艳波 编
出品人:
页数:710
译者:
出版时间:2007-8
价格:95.00元
装帧:
isbn号码:9787122001474
丛书系列:
图书标签:
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具体描述

本手册收集了上万种国内外新型实用的二极管、三极管、场效应管等半导体器件的资料,包括型号名称、用途和主要技术指标、生产厂家、替换型号及封装类型。

本手册均为表格排列,在每部分前有简单说明,介绍了替换原则。在书后还有各类封装形式的外形和尺寸图。

本手册实用性强,面向电子产品的设计开发人员、维修人员和广大电子爱好者。可供电器维修、设计、生产、制作人员及电子元器件销售人员阅读和参考。

电子技术前沿探索:新型器件应用与电路设计前瞻 内容提要 本书聚焦于当前电子信息技术领域快速发展背景下,对新型、高性能电子元器件的深入剖析与实际应用指导。本书并未涵盖传统通用电子元器件的替换指南,而是将视角完全投向了未来几年的技术热点和产业升级方向。全书结构严谨,内容前沿,旨在为从事高端电路设计、系统集成以及技术研发的工程师和专业人员提供一套超越现有通用标准的、具有前瞻性的技术参考。 第一章 宽禁带半导体器件的崛起与应用深度解析 本章全面论述了碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN)两大核心宽禁带半导体材料的物理特性、制造工艺的最新突破,以及它们在电力电子领域带来的颠覆性变革。 1.1 SiC功率MOSFET与肖特基二极管的动态特性: 详细分析了SiC器件在高频开关、高温工作环境下的损耗机制与热管理策略。重点探讨了在电动汽车(EV)的牵引逆变器、快速充电桩、以及可再生能源并网逆变器中,SiC器件如何实现更高的功率密度和效率。内容涵盖了器件的雪崩特性、短路耐受能力(SCR)的精确测试与建模,以及在实际应用中对栅极驱动电路的特殊要求。 1.2 GaN HEMT在射频与高频开关中的性能极限: 本章深入研究了GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)在毫米波通信(如5G/6G基站)和数字电源领域的应用瓶颈与突破口。对比了增强型和结型HEMT的差异,着重讲解了如何通过优化封装和布局设计来抑制高频开关引起的寄生振荡和电磁兼容(EMC)问题。具体案例分析了GaN器件在超声波电源和激光驱动电源中的应用,强调了其在瞬态响应速度上的绝对优势。 1.3 驱动与保护:宽禁带器件的配套技术: 鉴于SiC和GaN器件极快的开关速度,本节专门阐述了高压、高速驱动电路的设计准则。包括隔离驱动器的抗共模瞬变抑制能力(CMR)、光耦隔离技术在安全电压隔离方面的局限性,以及基于磁耦合或电容耦合的最新驱动方案。同时,对过压保护(OVP)和浪涌保护元件在新型功率模块中的集成设计进行了探讨。 第二章 先进传感器与智能感知技术 本章聚焦于超越传统电阻、电容传感范畴的新一代智能感知元件,及其在工业物联网(IIoT)和自动驾驶中的关键作用。 2.1 固态激光雷达(LiDAR)核心芯片技术: 详细介绍了基于硅光子学(Silicon Photonics)和集成VCSEL阵列的固态LiDAR解决方案。分析了直接检测(Direct Time-of-Flight, dToF)和相位检测技术的精度差异,以及在恶劣天气条件下如何利用多波长或频率调制技术提升抗干扰能力。内容侧重于ASIC设计中对光电探测器(APD或SPAD)阵列的控制与数据预处理电路。 2.2 新型磁阻传感器与高精度角位移检测: 阐述了巨磁阻(GMR)和隧道磁阻(TMR)传感器在无刷电机控制和精密角度测量中的应用。探讨了如何通过多轴集成和磁场梯度补偿算法,消除外部磁场干扰,实现亚微弧度的角度分辨率。本节提供了针对TMR传感器的线性化处理电路设计指南。 2.3 生物阻抗与化学传感器的微型化与集成: 探讨了在可穿戴设备和医疗诊断领域,基于微机电系统(MEMS)技术制造的生物阻抗传感器和离子敏感场效应晶体管(ISFET)的工作原理。重点讲解了如何设计低噪声、高精度的前端放大电路(如斩波放大器)来处理微弱的生物信号,并确保器件与人体环境的生物兼容性。 第三章 存储器技术的迭代与系统级影响 本章着眼于非易失性存储器(NVM)的最新发展,及其对嵌入式系统和数据中心架构的深远影响。 3.1 磁阻随机存取存储器(MRAM)的成熟化: 深入剖析了自旋转移矩(STT-MRAM)和自旋轨道矩(SOT-MRAM)的技术差异。重点分析了MRAM在替代SRAM和Flash存储器方面的优势,尤其是在需要极高耐久性、快速读写速度和保持数据完整性的工业控制领域。提供了MRAM阵列的寻址电路设计和数据保持电流优化方案。 3.2 相变存储器(PCM)与阻变存储器(ReRAM)的交叉点: 对比了PCM和ReRAM在突触网络(类脑计算)和存储级计算(Processing In-Memory, PIM)中的潜力。探讨了非线性选择器件(如SEL)在交叉点阵列中的作用,以及如何应对这些新型存储器固有的电阻漂移和单元间干扰问题。 3.3 内存/计算一体化(CIM)的硬件实现: 阐述了如何利用ReRAM或MRAM的物理特性,在存储单元内部执行简单的逻辑运算(如乘积累加运算)。分析了为支持CIM架构所需定制的DAC/ADC单元设计,以及如何将这些单元与标准数字逻辑单元进行混合集成。 第四章 先进封装与异构集成技术 本章脱离传统的PCB级设计,转向芯片级别的三维集成和系统级封装(SiP)的前沿技术。 4.1 2.5D/3D封装技术与中介层(Interposer)设计: 详细介绍了硅中介层和有机中介层(EMC)在连接多个芯片(如CPU/GPU、HBM内存)时的关键作用。探讨了微凸点(Micro-bump)技术在实现高密度互连(HDI)中的挑战,包括热应力管理和共形涂覆工艺。重点分析了TSV(硅通孔)的制造良率与电学性能的优化。 4.2 扇出型晶圆级封装(Fan-Out Wafer Level Packaging, FOWLP): 阐述了FOWLP技术(如eWLB或PLP)如何提供更小的封装尺寸和更高的I/O密度,特别适用于移动设备中的射频模块和基带处理器。对比了传统的引线键合(Wire Bonding)和倒装芯片(Flip-Chip)方案在I/O性能上的局限性,以及FOWLP如何有效缩短信号路径。 4.3 异质集成中的热管理与可靠性: 在多芯片堆叠的环境下,热耗散成为首要限制因素。本章引入了先进的界面材料(TIMs),如高导热率的超薄金属箔和液体金属解决方案。讨论了热应力建模在预测长期可靠性(如疲劳失效)中的应用,以及如何通过结构设计优化热路径,确保不同工艺节点芯片的协同工作寿命。 结语 本书内容旨在引导读者超越当前主流元件的知识边界,掌握驱动未来电子系统创新的核心技术。书中所有内容均围绕新型、高性能、集成化元器件的原理、设计考量及实际应用展开,是追求技术前沿的工程师不可或缺的深度参考资料。

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我必须强调这本书在解决“兼容性黑洞”问题上的卓越贡献。在电子设计中,最让人头疼的往往不是找不到新的元器件,而是如何处理旧设备维修或升级中遇到的“停产件”难题。这本书似乎就是为解决这个痛点而生的。它不仅列举了元器件的初始规格,更重要的是,它详细记录了不同厂商、不同年代产品之间的细微电气特性差异,以及为了实现无缝替换需要做出的电路调整建议——哪怕是一个小小的滤波电容值调整,或者一个限流电阻的微调。这种对“兼容性陷阱”的预警和指导,是任何纯粹的线上数据库或厂商规格书都难以提供的整体性视角。它教会我们如何“阅读”元器件背后的工程哲学,而不仅仅是抄录它们的参数,这对于保持电子系统的长期稳定运行具有不可估量的价值。

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这本书的实用性体现在其独特的交叉引用系统上。很多技术文档都有索引,但这本书的“连接性”做得尤为出色。当你查阅一个特定型号的芯片时,它不仅仅是给出该芯片的基本规格,还会明确指出:与此功能相似、但封装或电压等级不同的替代品有哪些,以及在特定应用场景下(比如高低温环境、高频信号处理)推荐的优先替换方案。这种“问你所想,答你所问”的设计,极大地优化了设计迭代和物料采购的流程。我曾经遇到过一个因为供应链中断必须更换核心传感器的项目,正是依靠书中提供的详尽的替代方案矩阵,我得以在不重新进行大规模电路修改的前提下,快速完成了物料的替换和验证。这种由点及面的信息组织方式,充分体现了编纂者对整个电子产品生命周期管理的深刻理解。

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从内容的广度来看,这本书的编纂团队显然投入了巨大的精力去搜集和整合全球范围内的元器件信息。它所涵盖的元器件种类之丰富,令人叹为观止。我注意到,除了常见的电阻、电容、电感这些基础元件外,即便是那些相对小众、但在特定工业控制或射频应用中不可或缺的特殊器件,也都有详细的介绍和参数列表。更让我惊喜的是,它似乎还能跟上技术迭代的速度,其中一些新型的、采用先进封装技术(比如BGA或QFN)的集成电路,其引脚定义和推荐工作条件也被收录其中。这种与时俱进的更新速度,对于电子行业这个日新月异的领域来说至关重要。它不仅仅是一本“手册”,更像是一个不断生长的数据库,确保读者在面对前沿项目时,手头依然握有可靠的参照物,不会因为找不到最新资料而束手无策。

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这本书的语言风格极其务实,没有丝毫的故作高深或故弄玄虚,完全是以解决实际问题为导向。作者群显然深谙一线工程师的痛点,他们没有在理论上做过多的冗余阐述,而是直奔主题,用最精炼、最准确的工程术语来描述每一个元器件的参数特性和应用限制。例如,在描述某个晶体管的饱和压降时,它不会用一大段文字绕圈子,而是直接给出一个典型工作条件下的精确数值范围,并辅以表格对比不同封装形式下的微小差异。这种“少废话,多干货”的叙事方式,极大地节省了工程师在紧急故障排查或快速选型时的宝贵时间。我感觉这更像是一本与经验丰富的老技师并肩工作的记录,充满了实战智慧,而不是一本冰冷的教科书。读着它,我能想象到很多次在深夜机房里,正是这种直截了当的信息,帮助我迅速锁定了那个导致系统崩溃的“罪魁祸首”。

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这本书的排版和设计真是让人眼前一亮,完全超出了我对工具书的刻板印象。打开扉页,首先映入眼帘的是那种沉稳又不失现代感的字体选择,让人立刻感受到里面内容的专业性和严谨性。更别提那些电路图和元器件实物照片的印刷质量,色彩还原度极高,细节丰富到连焊盘的纹理都能看清楚。我尤其欣赏它在结构上的巧妙安排,虽然内容庞杂,但通过清晰的章节划分和直观的图表索引,即便是初次接触电子领域的新手,也能迅速定位到自己需要的信息。不像有些手册,内容堆砌得密密麻麻,让人望而生畏,这本书的版式设计仿佛在对读者说:“别怕,我们为你梳理好了脉络,请按步骤来。” 这种对用户体验的关注,让查找资料的过程不再是一件枯燥的任务,反而变成了一种高效且愉悦的探索。我想,光是这份对细节的打磨,就足以让它在众多同类产品中脱颖而出,成为案头必备的参考资料。

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