具体描述
本书系统地介绍了常用低压电器、电气控制基本原理、典型设备电气控制电路分析、PLC及其工作原理、FX2N系列可编程序控制器、S7-200系列可编程序控制器、可编程序控制器的编程技巧及程序设计、可编程序控制器应用系统设计和可编程序控制器的通信与通信网络等。主要可概括为工厂电气控制与可编程序控制器控制应用技术两部分内容。工厂电气控制突出其控制原理和逻辑控制思路，加强工厂实际电路的分析；PLC应用技术以典型机型三菱FX2N和西门子S7-200系列为主线，突出了PLC的程序设计和应用技术实践。
本书既可作为高等学校自动化、电气工程及其自动化、机电一体化等相关专业的本、专科教材，也可供相关工程技术人员参考、阅读。
好的，以下是针对您提供的书名《工厂电气与可编程序控制器应用技术》的图书简介，该简介聚焦于其他领域的专业技术书籍内容，完全不涉及电气工程或PLC应用： --- 《高精度光学精密测量技术与误差分析》 内容概要： 本书深入探讨了现代光学精密测量领域的理论基础、核心技术及其在高端制造业中的实际应用。全书共分七个章节，力求为从事光学设计、精密仪器制造、质量控制及相关科研领域的人员提供一套系统化、前沿性的技术参考与操作指南。 第一章：光学系统设计基础与像差理论 本章首先回顾了经典几何光学与物理光学的基本原理，重点阐述了成像系统中的关键参数定义，如数值孔径、分辨率和畸变。随后，我们详细剖析了五大类主要像差（球差、彗差、像散、场曲和色差）的成因、数学模型以及消除策略。特别引入了现代评价函数法（如MTF分析）在像差校正中的应用，强调了如何通过优化镜片结构和材料选择来控制复杂光学系统的性能边界。本章内容旨在奠定扎实的理论基础，使读者能够从根本上理解光学成像的内在规律。 第二章：干涉测量技术及其在形貌分析中的应用 本章聚焦于非接触式精密测量的核心手段——光学干涉技术。我们系统梳理了傅里叶变换光学（FTO）在相位提取中的作用，并详细介绍了相移干涉、载波干涉和数字全息干涉等主流技术的工作原理。针对表面粗糙度、微纳结构高度测量等实际需求，本书着重分析了共聚焦显微镜、白光干涉仪（WLI）和相位扫描干涉仪（PSI）在测量范围、垂直分辨率和抗振动能力方面的技术权衡。第三部分详细讲解了如何利用快速傅里叶变换（FFT）和小波分析技术，从采集的干涉条纹图中精确反演出待测表面的三维形貌数据。 第三章：散射测量与光谱分析原理 本章讨论了基于光散射特性的测量方法。内容涵盖了瑞利散射、米氏散射的基本理论，以及如何利用动态光散射（DLS）技术来确定纳米颗粒或高分子溶液的粒径分布。在光谱分析方面，本书深入介绍了吸收光谱法、荧光光谱法（包括激发态动力学分析）和拉曼散射光谱法（SERS增强机制）。重点阐述了如何通过构建精密的积分球系统和高分辨率光谱仪，实现对材料光学常数（折射率、消光系数）的精确反演，这对于新型薄膜材料的研发至关重要。 第四章：精密光学元件的制造与表征 本章将理论与实践相结合，详细介绍了精密光学元件的制造工艺流程。内容涵盖了传统研磨抛光技术（如CPC技术）的工艺控制参数，以及现代超精密加工技术，如磁流变抛光（MRF）、离子束抛光（IBF）和飞点扫描抛光（DSC）的原理与优缺点。在元件表征方面，重点阐述了表面形貌的扫描探针显微镜（SPM）技术，以及如何使用激光散射测试设备对元件的表面粗糙度和散射函数进行量化评估，确保产品符合亚纳米级的精度要求。 第五章：激光测距与三维扫描技术 本章专注于激光在距离和空间重建中的应用。详细介绍了脉冲式激光雷达（LiDAR）的时间飞行（ToF）原理，以及调频连续波（FMCW）激光测距技术在高精度、短距离测量中的优势。针对复杂场景的三维建模需求，本书深入分析了结构光扫描仪和双目立体视觉系统的标定方法、数据配准技术和点云后处理流程，包括噪声滤波、特征提取和网格重建算法的优化策略。 第六章：测量不确定度与误差源的量化评估 这是本书理论深度的核心体现。本章严格遵循ISO/BIPM的《测量不确定度表示指南》，系统性地介绍了标准不确定度、合成不确定度和扩展不确定度的计算方法。读者将学习如何识别系统误差（如仪器漂移、环境影响）和随机误差，并应用蒙特卡洛模拟、最小二乘法等统计工具对误差源进行全面溯源。本章提供的案例分析着重于如何量化由仪器精度、环境波动和操作人员技能差异共同构成的复合不确定度。 第七章：高稳定度光源与光电探测技术 本章探讨了精密测量系统中作为“探针”和“接收器”的关键部件。内容涉及高稳定度激光器的锁频技术（如碘稳定He-Ne激光器和外腔半导体激光器），以及光电探测器的性能指标（如量子效率、噪声等效功率NEP）。特别关注了面阵CCD/CMOS在高速成像和弱光检测中的性能瓶颈及前置信号处理技术，包括低噪声放大电路设计和数字化采集系统的同步控制。 本书适合高等院校的物理学、光学工程、精密仪器科学等专业的本科高年级学生及研究生作为教材或参考书，同时也是光学仪器研发工程师、计量检测人员必备的专业参考资料。 ---
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