全書分上下篇，上篇主要介紹瞭數字VLSI結構化測試方法、數模混閤信號電路測試方法、設計驗證技術和集成電路測試標準等內容，下篇重點介紹瞭數字／模擬／數模混閤信號等三種類型集成電路測試係統和集成電路測試驗證係統等內容，並特彆關注瞭以SOC測試、基於DFT測試、RAM測試為主要特點的新類彆測試係統和基於標準總綫集成電路測試係統的發展，本書可作為從事微電子測試和設計工作的研究人員、技術人員，以及準備進入該領域的管理人員的學習和培訓教材，也可作為高等院校相關專業師生的教材和參考書。
全書按集成電路測試原理和集成電路測試設備劃分為上、下篇。根據現代集成電路測試技術發展和專業測試需求，上篇主要介紹數字VLSI結構化測試方法、數模混閤信號電路測試方法、設計驗證技術和集成電路測試標準；下篇重點介紹數字／模擬／數模混閤信號等三種類型集成電路測試係統和集成電路測試驗證係統，同時特彆關注瞭以SOC測試、基於DFT測試、RAM測試為主要特點的新類彆測試係統和基於標準總綫集成電路測試係統的發展，並安排瞭測試係統計量和自動分選機／探針測試颱兩個專題。
本書可作為從事微電子測試和設計工作的研究人員、技術人員，以及準備進入該領域的管理人員的學習和培訓教材，也可作為高等院校相關專業師生的教材和參考書。
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