VLSI測試方法學和可測性設計

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出版者:電子工業齣版社

作者:雷紹充

出品人:

頁數:300

译者:

出版時間:2005-1-1

價格:29.80元

裝幀:平裝(無盤)

isbn號碼:9787121003790

叢書系列:

圖書標籤:

VLSI測試
可測性設計
DFT
測試方法學
集成電路測試
芯片測試
數字電路測試
故障診斷
測試嚮量生成
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