VLSI测试方法学和可测性设计

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出版者:电子工业出版社

作者:雷绍充

出品人:

页数:300

译者:

出版时间:2005-1-1

价格:29.80元

装帧:平装(无盘)

isbn号码:9787121003790

丛书系列:

图书标签:

VLSI测试
可测性设计
DFT
测试方法学
集成电路测试
芯片测试
数字电路测试
故障诊断
测试向量生成
边界扫描

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