MS-DOS6.X用户短期培训教程 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

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出版者:北京工业大学出版社

作者:王明天

出品人:

页数:184

译者:

出版时间:1998-7-1

价格:15.00

装帧:精装(无盘)

isbn号码:9787563906918

丛书系列:

图书标签:

• MS-DOS
• DOS6
• X
• 操作系统
• 计算机基础
• 入门教程
• 培训教程
• 软件教程
• 电脑技能
• 90年代
• 经典教材

好的，以下是一本完全不包含《MS-DOS 6.x 用户短期培训教程》内容的图书简介，内容详尽，旨在介绍一个与DOS系统操作截然不同的主题。 --- 《高精度光学仪器装调与误差分析：从理论基础到现场应用》 导言：精密测量的艺术与科学 在现代工业、科研以及前沿技术领域，对物理量的精确测量是保障产品质量、推动科学发现的基石。本专著深入剖析了高精度光学仪器的装调工艺、复杂的误差来源及其系统的量化分析方法。它并非一本关于计算机操作系统或命令行界面的手册，而是一部聚焦于物理光学、精密机械与计量科学的综合性技术指南。本书旨在为光学工程师、计量技术人员以及相关领域的研究生提供一套严谨、实用的理论框架与操作流程，以确保仪器在复杂环境下的最高性能表现。 第一部分：光学系统的基础理论与设计回顾 本部分内容将系统回顾现代光学系统设计中必须掌握的核心理论，重点在于超越基础的几何光学范畴，深入到波动光学和成像理论的前沿。 第一章：衍射成像与像差理论的深化 详细阐述了傅里叶光学在描述成像过程中的应用，重点分析了夫琅禾费衍射和菲涅尔衍射的实际应用场景，如干涉仪和相控阵列。对七大标准像差（球差、彗差、像散、场曲、色差等）进行了深入的数学建模，并引入了更高阶像差（如畸变和枕形畸变）对高分辨率成像质量的影响。内容涵盖了如何利用Zernike多项式对这些像差进行量化描述和优化设计。 第二章：计量光学元件的材料选择与制造公差 讨论了不同光学玻璃、晶体材料（如熔融石英、氟化钙、铌酸锂）在特定波段（紫外、可见光、红外）的透过率、热光系数和双折射特性。重点分析了制造公差对最终光学性能的敏感性，包括表面精度（PV值）、粗糙度（RMS）以及镀膜均匀性对系统点扩散函数（PSF）的直接影响。 第二部分：精密仪器装调的实践工程 装调环节是将理论设计转化为实际可用设备的关键步骤，本部分提供了详尽的步骤指导和工程经验。 第三章：装调环境控制与基础工装 强调了洁净室（ISO等级）对超精密装调的重要性，涵盖了振动隔离台的选择与调试，以及温度梯度控制对光学元件热变形的影响分析。详细介绍了高精度对心仪、自准直仪、激光干涉仪在装调过程中的正确使用方法，重点在于如何避免测量工具本身引入的系统误差。 第四章：光学系统的逐级装配与调试流程 本书提供了一套通用的复杂光学系统（如变焦显微物镜、高倍率共聚焦扫描系统）的模块化装调流程。内容细致到： 1. 粗对中与定心： 使用千分尺和角度传感器对光轴进行初步校准。 2. 初调焦与像面定位： 利用共聚焦法或干涉法确定最佳像面位置。 3. 像差最小化调控： 针对不同系统的特点，采用迭代优化算法，通过微调镜架的倾斜（Tip/Tilt）和离心（Centering）参数，使得系统的调制传递函数（MTF）达到设计指标。特别讲解了如何使用相位恢复算法对波前进行实时监测和补偿。 第五章：精密机械结构与热力学考量 探讨了影响光学稳定的机械设计因素，如温漂对焦距的影响、镜筒的蠕变效应。内容包括了应力消除技术在精密反射镜固定中的应用，以及如何通过有限元分析（FEA）模拟装配过程中的机械应力分布，避免导致光学元件双折射（光致应力）的产生。 第三部分：系统误差的量化分析与补偿 精准的计量依赖于对所有潜在误差源的识别、量化和有效补偿。 第六章：系统误差的分类与源项识别 将误差源系统地分为三类：设计误差（与理论模型偏差）、制造误差（元件的物理缺陷）和装调误差（元件的相对位置和姿态偏差）。对于每一种误差源，我们提供了量化评估的指标体系，例如，如何将环境温湿度变化引起的空气折射率波动转化为等效的系统焦距误差。 第七章：基于波前传感的误差分析方法 重点介绍现代计量技术中广泛应用的 Shack-Hartmann 波前传感器的工作原理及其在现场测试中的应用。详细阐述了如何利用采集到的波前数据，反演出系统的Zernike系数，并据此指导装调人员进行精确的相位补偿。 第八章：不确定度评估与质量控制 遵循ISO GUM（测量不确定度指南）的原则，系统地介绍了如何构建复杂光学测量的误差传递模型。通过对随机误差和系统误差的有效分离，计算出最终测量结果的扩展不确定度。内容包括蒙特卡洛模拟在评估多因素耦合误差中的应用，确保仪器的输出结果具备可溯源性和可靠性。 结论：迈向下一代计量标准 本书的价值在于将深奥的光学物理理论与高难度的工程装调实践紧密结合，为读者提供了一套科学、系统的工具集，用以应对现代光学仪器在亚微米乃至纳米尺度上的挑战。它代表着对精密测量的极致追求，而非对基础软件操作的简单描述。 ---

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