目錄
第一章 放射性測量中的統計學
第一節 核衰變數和計數的統計分布
一、核衰變的統計分布
二、計數的統計分布
三、閤成分布
第二節 放射性測量的統計誤差
一、統計誤差的産生和錶示方法
二、計數統計誤差的計算
三、平均效應的統計誤差
第三節 測量數據的檢驗
一、兩次測量計數值差異的檢驗
二、一組測量數據的檢驗
三、可疑測量值的捨棄
第四節 脈衝幅度分辨率
一、電離的統計漲落
二、倍增過程統計學
第五節 核輻射事件的時間分布
一、核輻射事件的時間間隔分布
二、包括多個脈衝的時間分布
三、分辨時間和漏計數校正
四、脈衝重迭數的計算
習題
參考文獻
第二章 射綫與物質的相互作用
第一節 帶電粒子與靶物質原子的碰撞
一、帶電粒子在靶物質中的慢化
二、帶電粒子與靶物質原子的碰撞過程
第二節 重帶電粒子與物質的相互作用
一、重帶電粒子在物質中的能量損失
二、重帶電粒子在物質中的射程
第三節 重離子與物質的相互作用
一、電荷交換
二、重離子的電子阻止本領
三、重離子的核阻止本領
四、重離子的射程
第四節 β射綫與物質的相互作用
一、電子的能量損失
二、電子的散射
三、β射綫的射程和吸收
四、正電子與物質的相互作用
第五節Υ射綫與物質的相互作用
一、Υ射綫與物質相互作用的一般特性
二、光電效應
三、康普頓效應
四、電子對效應
五、Υ射綫的吸收
習題
參考文獻
第三章 氣體探測器
第一節 氣體中電子和離子的運動規律
一、氣體的電離
二、電子和離子的漂移與擴散
三、負離子的形成和離子的復閤
四、離子的收集和電壓電流麯綫
第二節 電離室
一、概述
二、脈衝電離室
三、電流電離室和纍計電離室
第三節 正比計數器
一、概述
二、氣體放大機製
三、脈衝的波形
第四節 G－M計數器
一、概述
二、放電與猝熄的機製
三、脈衝幅度和波形
四、G－M計數管的特性
習題
參考文獻
第四章 閃爍探測器
第一節 概述
第二節 閃爍體
一、閃爍體種類
二、閃爍體的物理特性
三、幾種主要閃爍體介紹
四、閃爍體的選擇
五、光的收集與光導
第三節 電子倍增器件
一、光電倍增管
二、通道型電子倍增器件
第四節 閃爍計數器
一、閃爍探測器的脈衝輸齣
二、閃爍探測器應用舉例——NaI（Tl）單晶Υ譜儀
三、時間特性
四、能量分辨率
習題
參考文獻
第五章 半導體探測器
第一節 半導體探測器的基本原理
第二節 PN結的性質
一、結區的電場分布
二、結區的寬度
三、PN結的反嚮偏壓
四、PN結的電容
五、PN結的漏電流
第三節 金矽麵壘半導體探測器
一、金矽麵壘譜儀裝置
二、能量分辨率
三、電荷的收集和時間特性
四、輻射損傷
五、全耗盡探測器
第四節 高純鍺探測器
一、HPGe探測器的結構
二、同軸型HPGe探測器的電場和電容
三、HPGe探測器的主要性能
第五節 其它半導體探測器
一、鋰漂移矽探測器
二、化閤物半導體探測器
三、位置靈敏探測器
習題
參考文獻
脈衝探測器性能小結
第六章 其它探測器
第一節 原子核乳膠
一、原子核乳膠的作用原理
二、原子核乳膠的特性
三、原子核乳膠的應用
第二節 固體徑跡探測器
一、固體徑跡探測器的工作原理
二、固體徑跡探測器的特性
三、固體徑跡探測器的優缺點
四、固體徑跡探測器的應用
第三節 氣泡室
一、氣泡室徑跡形成的初步理論
二、氣泡室的構造
三、氣泡室的特性和徑跡測量
四、氣泡室的應用
第四節 火花放電室
一、火花放電室的工作原理
二、火花放電室的結構
三、火花放電室的特性及應用
四、流光室
第五節 多絲正比室
一、多絲正比室的工作原理
二、多絲正比室的結構
三、多絲正比室的主要性能和應用
四、漂移室
第六節 切倫科夫計數器
一、切倫科夫輻射的原理
二、切倫科夫輻射的産生和收集
三、切倫科夫計數器的應用
第七節 熱釋光探測器
一、熱釋光探測器基本原理
二、對熱釋光磷光體的要求
三、加熱發光測量裝置的主要部分
四、熱釋光探測器的應用
參考文獻
第七章 核物理實驗中的符閤法
第一節 符閤法的基本原理
一、符閤法的基本概念
二、符閤測量的基本關係式
三、快慢符閤原理
第二節 符閤裝置的主要參量和測量數據的分析
一、符閤裝置的主要參量
二、延遲符閤測量數據的分析
第三節 符閤測量裝置
一、定時信號的拾取
二、符閤能譜儀
三、時間分析譜儀
習題
參考文獻
第八章 α、β源活度測量
第一節 概述
第二節 α放射源活度的測量
一、小立體角法測薄α源活度
二、厚樣品的放射性比活度測量
第三節 β放射源活度的測量
一、小立體角法測β放射源活度
二、4π計數法
三、符閤法測源活度
第四節 液體閃爍計數器測源活度
參考文獻
第九章 帶電粒子的能量及能譜測量
第一節 射程測量方法
第二節 能量靈敏探測器方法
一、電離室
二、正比計數器
三、閃爍計數器
四、半導體探測器
第三節 磁分析法
一、引言
二、基本工作原理
三、描述譜儀性能的幾個量
四、半圓聚焦譜儀
五、譜儀性能的比較
六、磁譜儀的應用
第四節 重離子磁譜儀
一、α磁譜儀
二、Q3D磁譜儀
三、若乾有關的實驗技術
習題
參考文獻
第十章 Υ射綫強度和能量的測量
第一節 Υ射綫測量的一般考慮
第二節 Υ射綫能譜分析與能量刻度
一、Υ射綫的譜形及影響因素
二、能量刻度
第三節Υ射綫強度測量與效率刻度
一、全能峰法確定Υ射綫強度
二、NaI（Tl）閃爍譜儀的效率刻度
三、HPGe［或Ge（Li）］譜儀的效率刻度
第四節 低能Υ與x射綫的測量
一、NaI（Tl）薄片閃爍計數器
二、氣體正比計數器
三、Si（Li）半導體探測器
第五節 符閤反符閤譜儀
一、全吸收反符閤譜儀
二、康譜頓譜儀
三、電子對譜儀
四、多探頭符閤能譜儀
第六節 Υ能譜的數據分析
一、峰麵積的求法
二、NaI（Tl）Υ射綫譜的解析
三、Ge探測器Υ譜的解析
四、多探頭Υ－Υ符閤的數據分析
習題
參考文獻
第十一章 中子探測技術
第一節 中子探測的基本原理
一、核反應法
二、核反衝法
三、核裂變法
四、活化法
第二節 常用的中子探測器
一、氣體探測器
二、閃爍探測器
三、半導體探測器
四、其它中子探測器
第三節 中子能譜的測量
一、氫反衝法
二、6Li和3He譜儀
三、飛行時間法
四、晶體衍射法
第四節 中子通量密度及中子源強度的測量
一、概述
二、氫反衝法測量快中子通量密度
三、中子活化法測量中子通量密度
四、錳浴法測量中子源強度
五、用伴隨粒子法測量快中子通量密度
習題
參考文獻
第十二章 低水平放射性測量
第一節 測量係統的優質因子及探測極限
一、探測裝置的優質因子
二、從統計學角度對探測極限的認識
第二節 本底來源及降低本底的措施
一、源外因素引起的本底及其降低措施
二、源內因素引起的本底及其降低措施
第三節 幾種低水平放射性測量裝置
一、低水平α計數
二、低水平β計數
三、低水平Υ放射性的測量
習題
參考文獻
第十三章 核反應截麵測量
第一節 帶電粒子反應截麵測量
一、物理原理
二、微分截麵和積分截麵測量
三、共振反應截麵測量
四、重離子反應截麵測量
第二節 靶室和製靶技術
一、靶室
二、製靶技術
第三節 快中子反應截麵測量
一、中子全截麵測量
二、中子散射截麵測量
三、中子俘獲截麵測量
四、中子裂變截麵測量
參考文獻
第十四章 粒子鑒彆技術
第一節 脈衝形狀甄彆方法
一、甄彆根據
二、優質因子
三、甄彆方法
第二節 飛行時間方法
一、工作原理
二、裝置描述
三、定時探測器
第三節 探測器望遠鏡方法
一、工作原理
二、探測器
三、鑒彆能力
四、多重探測器望遠鏡係統
第四節 磁分析方法與組閤粒子鑒彆係統
一、磁分析方法
二、探測器望遠鏡與飛行時間方法的組閤
三、超靈敏加速器質譜儀
參考文獻
第十五章 核壽命的測量
第一節 引言
第二節 短核壽命的測量方法
一、直接測量的方法
二、延遲符閤和微波調製方法
三、核反衝法
四、確定能級寬度的方法
五、非彈性散射方法
六、阻塞效應
· · · · · · (收起)