Diagnostic Microbiology pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

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☆☆☆☆☆

出版者:C. V. Mosby Company

作者:W. Robert Bailey

出品人:

页数:0

译者:

出版时间:1974

价格:USD 14.95

装帧:Hardcover

isbn号码:9780801604201

丛书系列:

图书标签:

• 医学微生物学
• 诊断
• 微生物学
• 医学
• 实验室
• 细菌学
• 病毒学
• 真菌学
• 寄生虫学
• 感染性疾病

好的，以下是一份关于一本名为《Advanced Analytical Techniques in Materials Science》的图书简介，该书内容与您提到的《Diagnostic Microbiology》完全无关，且力求详实自然： 《Advanced Analytical Techniques in Materials Science》 —— 探索微观世界的尖端钥匙 本书导言 在当代科学与工程领域，材料的性能与应用，在很大程度上取决于对其微观结构、化学成分和界面特性的精确理解。从纳米电子器件的开发到高性能合金的研发，再到生物医学植入物的优化，无不依赖于先进的表征手段。《Advanced Analytical Techniques in Materials Science》正是为满足这一核心需求而编写的。本书并非对基础的材料科学理论进行复述，而是聚焦于一系列现代材料研究人员和工程师必须掌握的前沿分析方法，深入剖析这些技术的工作原理、数据解读，以及它们在解决复杂材料问题时的实际应用。 目标读者群体 本书主要面向高年级本科生、研究生（硕士及博士阶段），以及从事材料研发、质量控制和失效分析的专业工程师与科研人员。读者应具备基础的物理化学和固体物理知识。 核心内容结构与深度解析 本书结构设计遵循从宏观结构到原子尺度的递进逻辑，涵盖了从电学、光学到散射与光谱学的多个分析维度。全书共分为七个主要部分，详细阐述了二十余种关键分析技术。 第一部分：基础结构与形貌分析的深化（Microstructure and Morphology） 本部分侧重于材料的宏观到微观形貌的获取与量化。 1. 高分辨率透射电子显微镜 (HR-TEM) 与扫描透射电子显微镜 (STEM) 的进阶应用： 深入探讨亚埃级分辨率成像的物理限制与突破，重点介绍像差校正技术的原理、图像重建算法（如相位恢复技术），以及如何通过环形暗场（ADF）和高角度环形暗场（HAADF）STEM来精确确定晶格缺陷、位错核心结构及原子配位环境。内容将涉及对非晶态材料和软物质三维结构的重建挑战。 2. 聚焦离子束 (FIB) 样品制备与同步辐射成像： 详细描述FIB在制备高质量电子显微镜薄片中的精确控制（如双束系统的工作流程），并结合同步辐射X射线断层扫描（SR-CT）技术，展示如何对复杂多孔结构（如燃料电池电极或地质岩心）进行非破坏性的三维定量分析。 第二部分：化学成分与元素分布的谱学革命（Spectroscopic Chemical Analysis） 本部分专注于如何“读取”材料内部的化学指纹，尤其关注局部化学态的识别。 1. 能量色散X射线光谱学 (EDS/EDX) 的定量修正： 超越定性分析，本书详细讲解了ZAF（原子序数、吸收、荧光）校正模型的局限性，并引入了基于蒙特卡洛模拟的定量分析方法，特别是在低电压和超薄膜体系中的准确率提升。 2. 电子能量损失谱 (EELS) 的高阶应用： EELS被视为确定原子价态、键合结构和电子轨道占用的“黄金标准”。内容将深入解析共振吸收边（Near-Edge Structure, NEXAFS）的物理意义，如何用它来区分金属氧化物中的不同铁价态，以及进行高信噪比的化学成像。 3. X射线光电子能谱 (XPS) 的深度剖析： 侧重于高级处理技术，包括俄歇参数的计算、谱线拟合中的背景扣除策略（Shirley, Tougaard模型），以及如何利用角分辨XPS（ARXPS）来表征表面几层原子的电子结构变化。 第三部分：晶体结构与缺陷的衍射物理（Diffraction Physics for Crystalline Systems） 本部分关注如何通过散射现象来重构材料的原子排列。 1. 粉末X射线衍射 (PXRD) 的精细结构解析： 重点讲解Rietveld精修方法的全面应用，包括如何处理晶体学中的空间群选择、微应变和尺寸效应的建模，以及如何从衍射峰形中提取残余应力信息。 2. 中子衍射与同步辐射高能X射线衍射： 探讨中子源（如高通量散裂中子源）在探测轻元素（如氢、锂）和区分同一种元素不同同位素方面的独特优势，以及如何利用高能X射线穿透厚重材料进行原位（In-situ）研究。 第四部分：界面与表面敏感技术（Interfacial and Surface Probing） 材料的性能往往由其表面和界面决定。本部分介绍表面的专属工具。 1. 二次离子质谱 (SIMS) 的高灵敏度分析： 详述动态SIMS与静态SIMS的区别，重点讨论溅射效率、矩阵效应的校正，以及如何利用飞行时间SIMS（ToF-SIMS）对表面分子污染进行二维和三维成像。 2. 扫描隧道显微镜 (STM) 与原子力显微镜 (AFM) 的高阶操作： 不仅限于形貌获取，更深入到扫描隧道谱学（STS）在电子态密度测定中的应用，以及AFM在测量粘附力、杨氏模量（纳米压痕）和磁性（MFM）方面的定量技术。 第五部分：动态过程与原位表征（Dynamic Processes and In-Situ Studies） 现代材料科学要求实时观察材料在受力、加热或电化学反应过程中的演变。 1. 原位/非原位测试平台集成： 详细介绍如何将TEM/SEM、X射线衍射仪与环境控制单元（如加热台、电化学池、拉伸装置）相结合，实现对电池充放电、催化反应或相变过程的实时监控。 2. 超快光谱技术： 简要介绍飞秒激光光谱（如时间分辨光电子能谱）在追踪电子弛豫、载流子动力学等超快现象中的基本概念和数据解析框架。 第六部分：热力学与输运性能的关联分析 本部分探讨如何利用分析手段量化材料的宏观物理性质与微观结构之间的联系。内容涵盖热机械分析（TMA, DMA）与差示扫描量热法（DSC）的高级数据解读，尤其关注玻璃化转变温度的精确测定及其与分子链运动的关系。 第七部分：数据处理、模拟与人工智能辅助分析 本部分着眼于未来趋势，讨论如何从海量复杂的谱学和衍射数据中高效提取有用信息。内容包括：贝叶斯分析在谱峰反卷积中的应用，基于密度泛函理论（DFT）计算对XPS/EELS边缘结构的预测，以及利用机器学习辅助进行图像识别和数据降噪的方法论。 总结与展望 《Advanced Analytical Techniques in Materials Science》力求提供一个全面、深入且具有实战指导意义的分析工具箱。本书强调理论深度与操作实践的结合，旨在培养读者批判性地选择、操作和解释复杂分析数据的能力，从而推动材料科学研究向更精细、更前沿的方向发展。掌握这些技术，便是掌握了理解和设计下一代先进材料的钥匙。

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