贝氏体球墨铸铁 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

简体网页||繁体网页

☆☆☆☆☆

出版者:

作者:

出品人:

页数:0

译者:

出版时间:

价格:21.00元

装帧:

isbn号码:9787111088783

丛书系列:

图书标签:

• 球墨铸铁
• 贝氏体
• 铸造
• 材料科学
• 金属材料
• 机械工程
• 热处理
• 组织结构
• 力学性能
• 铸件

好的，这是一本关于高精度光学测量技术及其在现代制造业中的应用的图书简介。 --- 现代光学计量：从基础理论到前沿应用 领略超越微米的世界：一本全面解析精密光学测量的权威指南 在这个追求极致性能与零缺陷的时代，任何制造过程的成功都依赖于对其几何形貌和表面质量的精确把握。《现代光学计量：从基础理论到前沿应用》是一部旨在为工程技术人员、科研人员和高端制造从业者提供深度洞察的专业著作。本书聚焦于非接触式、高精度的光学测量方法，系统梳理了从经典干涉理论到最新AI增强型计量系统的完整技术链条。 本书深刻理解光学测量的核心在于光与物质的相互作用，因此，我们摒弃了浮于表面的操作指南，转而深入探讨了支撑这些精密技术的物理基础、数学模型以及信号处理算法。我们的目标是培养读者不仅能使用仪器，更能理解、优化乃至设计新型计量系统的能力。 --- 第一部分：光学测量的基石——理论与方法论的重构 本部分奠定了全书的理论基础，详细阐述了构成现代光学测量的核心物理现象和数学框架。 第一章：光波与物质的相互作用基础 精确计量始于对光与被测对象表面（无论是光滑金属、漫反射涂层还是透明介质）相互作用的深刻理解。本章详细剖析了电磁波在不同介质中的传播特性，重点讨论了菲涅尔反射系数、布儒斯特角效应以及表面粗糙度对散射光场的影响。我们引入了矢量衍射理论，解释了高数值孔径系统中的傍轴近似失效问题，为后续讨论高分辨率成像奠定基础。 第二章：干涉计量学的核心原理与误差源分析 干涉法是实现亚波长精度测量的核心技术。本章超越了基础的杨氏干涉，深入探讨了相移干涉测量（PSI）、傅里叶变换光谱干涉（FTSI）和电子散斑图样干涉（ESPI）的数学模型。重点分析了环境扰动（温度梯度、气流脉动）如何转化为相位误差，并提出了基于数字信号处理的自适应噪声抑制算法，用以提高弱信号条件下的测量稳定性。 第三章：结构光与相位展开的拓扑难题 三维形貌测量是现代工业检测的刚需。本章详细介绍了多频正弦光栅投影系统的工作原理，并着重探讨了相位展开这一关键步骤的鲁棒性。我们对比分析了基于绝对相位编码、混合频率和时间序列三种主要的展开策略的优劣，并引入了拓扑缺陷检测与修复的机器学习辅助方法，确保在复杂曲面和遮挡区域测量的连续性。 第四章：衍射光学与微纳结构计量 随着半导体、微电子和生物芯片制造的发展，对微米乃至纳米结构进行精确三维表征的需求日益迫切。本章集中于离散傅里叶变换（DFT）方法在分析周期性结构（如光栅、晶格）中的应用，并深入讲解了共聚焦显微成像和偏振成像技术在区分材料光学各向异性方面的独特优势。 --- 第二部分：前沿计量系统的集成与优化 本部分将理论知识应用于实际工程系统，探讨如何构建高性能、高可靠性的现代光学计量平台。 第五章：高分辨率成像系统的设计与校准 仪器的精度受限于其光学系统的设计。本章指导读者如何根据测量任务需求，选择合适的数值孔径（NA）、调制传递函数（MTF）和视场（FOV）。详细阐述了点扩散函数（PSF）的精确标定过程，以及如何利用泽尼克多项式对成像系统中的像差（彗差、像散、球差）进行量化和实时补偿。 第六章：动态测量与实时反馈控制 在航空航天、高速列车等领域，被测对象往往处于运动或受力变化之中。本章聚焦于高速相移采集卡的性能指标和同步机制，探讨了如何利用高帧率数字微镜器件（DMD）实现快速结构光投射。更进一步，本章详细介绍了基于卡尔曼滤波的运动补偿算法，实现对高速动态目标的稳定跟踪和测量。 第七章：计量数据的后处理与可信度评估 原始测量数据中往往混杂着噪声、异常值和系统偏差。本章是关于数据科学在计量学中应用的集中体现。我们系统介绍了主成分分析（PCA）在降维和特征提取中的应用，讨论了贝叶斯推断在不确定度量化中的优势，并提出了符合ISO 15530系列标准的计量学可信度评估流程。 第八章：面向工业4.0的智能计量解决方案 计量不再是孤立的检测环节，而是融入制造闭环的智能节点。本章展望了人工智能在光学计量领域的应用前景。重点分析了卷积神经网络（CNN）在自动缺陷分类（ADC）和表面缺陷敏感度提升上的潜力。此外，还讨论了如何通过数字孪生技术，在虚拟环境中预先模拟不同测量参数对实际输出结果的影响，实现测量的“先知”优化。 --- 本书的特色与价值 本书的撰写严格遵循“原理先行，应用驱动”的原则。它不仅是理论的汇编，更是工程实践的路线图。我们通过大量的实际案例分析（例如，涡轮叶片的叶形误差分析、半导体光刻胶厚度均匀性检测），将抽象的数学模型与具体的工业难题紧密联系起来。 面向的读者群： 从事精密光学仪器研发的高级工程师。 致力于表面科学、无损检测和计量学研究的研究生及学者。 在航空、汽车、半导体和精密机械行业从事质量控制和工艺优化的技术骨干。 阅读完《现代光学计量：从基础理论到前沿应用》，读者将能够掌握构建下一代高精度非接触式测量系统的全部核心知识体系，有力推动我国高端制造向更高精度、更高效率的目标迈进。

评分☆☆☆☆☆

评分☆☆☆☆☆

评分☆☆☆☆☆

评分☆☆☆☆☆

评分☆☆☆☆☆

评分☆☆☆☆☆

评分☆☆☆☆☆

评分☆☆☆☆☆

评分☆☆☆☆☆

评分☆☆☆☆☆