Handbook of Monochromatic XPS Spectra, The Elements of Native Oxides pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

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出版者:Wiley

作者:B. Vincent Crist

出品人:

页数:548

译者:

出版时间:2000-10-02

价格:USD 1320.00

装帧:Hardcover

isbn号码:9780471492658

丛书系列:

图书标签:

• 000
• XPS
• X射线光电子能谱
• 氧化物
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• 手册

《单色XPS谱图手册：原生氧化物的元素解析》是一本为材料科学、表面化学、物理学以及相关工程领域的研究人员和工程师量身打造的实用参考工具书。本书致力于提供一套全面、详尽且高度集成的X射线光电子能谱（XPS）数据，重点关注元素在原生氧化物环境下的光谱特征。 在现代材料表征技术中，XPS以其高表面灵敏度和化学态分析能力，成为揭示材料表面成分和化学性质不可或缺的手段。然而，精确识别和解析XPS谱图，尤其是对于复杂多变的氧化物体系，往往需要大量的参考数据和深入的理解。本书正是为了弥合这一需求而生，它不仅收录了广泛元素的单色XPS谱图，更侧重于分析这些元素在天然形成氧化物中的谱线形状、峰位偏移、多重峰以及俄歇峰特征。 本书的结构设计清晰，逻辑严谨。首先，在开篇部分，作者会简要介绍XPS的基本原理，重点阐述单色XPS的优势，以及化学位移、谱峰拟合等关键概念，为读者建立坚实的理论基础。随后，本书的核心内容——元素谱图的详细收录——将逐一展开。每一章节将聚焦于一个或一组密切相关的元素。对于每一种元素，书中都会提供其在不同氧化态下的典型XPS谱图。这些谱图不仅包含了高分辨率的能量范围，还可能包含低能量范围的俄歇电子谱。 本书的独特之处在于其对“原生氧化物”的专注。原生氧化物是指材料在暴露于空气或其他环境时，自然形成的氧化层。这些氧化层在许多实际应用中至关重要，它们直接影响着材料的性能，如催化活性、腐蚀防护、电子器件的接触电阻等。本书精心收集和整理了大量在标准大气环境下，常见金属、半导体及其合金等材料表面形成的氧化物的XPS数据。这使得研究人员能够更准确地比对和判断自己样品表面所存在的氧化物种类及其程度。 在谱图展示方面，本书力求详尽。对于每个元素，除了标准的结合能数据外，还可能包含以下重要信息： 高分辨率谱图： 重点展示核心电子的结合能峰，精确标示出峰位、半高全宽（FWHM）以及相对强度。 化学位移分析： 详细解释不同氧化态（如 +1, +2, +3 等）下，相同核心电子所表现出的化学位移规律，并提供具体的偏移量参考。这对于区分不同价态的金属离子至关重要。 多重峰和卫星峰： 对于某些元素，特别是过渡金属，其XPS谱图中可能出现复杂的裂分或卫星峰。本书会针对这些现象进行详细的解释和归属，帮助读者理解其来源，如 4f 电子在稀土元素中的自旋-轨道分裂，或d轨道未填满金属氧化物中的库仑相互作用。 俄歇电子谱： 在某些能量范围内，俄歇电子的信号可能比光电子信号更强。本书也会收录部分关键元素的俄歇电子谱，并分析其特征峰，为谱图解析提供补充信息。 俄歇参数： 俄歇参数是区分元素和化学态的一种非常有用的辅助手段，本书也会提供相关数据。 背景扣除与拟合： 书中会讨论常用的背景扣除方法，并提供不同拟合模型（如高斯-洛伦兹函数）的参考，指导读者如何进行准确的谱峰分析。 常见元素氧化物实例： 除了单个元素的谱图，本书可能还会收录一些典型合金或复合材料表面原生氧化物的整体谱图，并进行深入解析，帮助读者理解多组分体系的谱图特点。 本书的另一大亮点是其实用性。它不是一本理论探讨性质的书籍，而是作为一本“工具箱”供读者随时查阅。无论您是在研究新型催化剂的表面活性，评估金属材料的耐腐蚀性，分析半导体器件的界面特性，还是在探索生物材料的表面生物相容性，本书都能提供直接、可靠的参考数据。通过与本书提供的谱图进行对比，研究人员可以快速、准确地鉴定样品表面的元素组成、化学态和氧化程度，从而大大缩短实验周期，提高研究效率。 此外，本书的编写风格力求简洁明了，图表清晰，专业术语使用规范。每一张谱图都配有详细的文字说明，解释了其特征、可能存在的干扰因素以及在特定应用中的意义。 总而言之，《单色XPS谱图手册：原生氧化物的元素解析》是一本集数据、方法和应用指南于一体的宝贵资源。它将成为材料科学、表面化学等领域研究人员案头不可或缺的参考手册，帮助您在复杂的XPS谱图世界中，精准锁定目标，深入洞察材料的表面奥秘。

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作为一名长期从事薄膜沉积与表征的研究人员，我一直在寻找一本能够系统梳理“自然氧化层”光谱特性的权威指南，而这本手册完美地填补了这一空白。它的价值在于其广度和深度兼备的视角，尤其是在处理那些在常压环境下极易形成的、结构复杂的原生氧化物时。书中对于不同晶型氧化物（例如，α-Al2O3与γ-Al2O3在XPS上的细微区分）的谱学指纹的描述，极其到位。作者显然投入了巨大的精力去整合跨学科的文献，将纯物理的光谱学原理与实际的化学反应过程紧密结合起来。我特别欣赏它对“背景扣除”和“拟合模型选择”的讨论，这些细节往往决定了最终结果的准确性，但在很多入门级教材中常常被一带而过。这本书的编排逻辑清晰，从基础的元素光谱学出发，逐步过渡到复杂的化合物系统分析，为初学者提供了坚实的入门路径，同时也为资深专家提供了深入验证和交叉对比的平台。

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这部著作无疑是一次对表面分析领域内一个至关重要但常常被忽视的侧面的深入探索。它聚焦于单色X射线光电子能谱（XPS）中针对本征氧化物的研究，这为材料科学家和工程师提供了一个宝贵、详尽的参考工具。我之所以如此推崇，是因为它不仅仅是简单地罗列数据，而是建立了一个严谨的分析框架。书中对不同元素在不同氧化态下的特征峰位、峰形对称性以及结合能漂移的细致描绘，简直可以称得上是教科书级别的范例。例如，对于半导体材料的表面钝化层分析，我们往往需要区分化学态的细微差别，这本书提供了清晰的基准线。它强调了在不同仪器条件下，如何通过系统的光谱解析技术来准确量化界面层厚度和化学组分，这对于理解材料的实际性能至关重要。在阅读过程中，我深刻体会到作者在数据处理和光谱解释上的严谨态度，它有效弥补了现有通用XPS手册中对特定、窄化主题覆盖不足的缺陷。这种深度聚焦，使得它成为处理复杂氧化物界面问题的必备案头书。

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阅读这本书的过程，更像是一场对材料表面微观世界的精密勘探之旅。它超越了仅仅展示能谱图的层面，而是深入挖掘了导致这些光谱特征变化的深层物理化学机制。那种对实验细节的执着，使得任何一个使用它进行数据分析的人都能立刻感受到其权威性。比如，书中对过渡金属氧化物中，由于库仑斥力和电荷转移效应导致的峰分裂和半高宽变化的解释，简直是洞若观 আগুনে。它不仅仅告诉你“峰在这里”，更解释了“为什么它会在这里，以及如何利用这一点来推断其电子结构”。对于需要进行痕量分析和界面电荷转移研究的课题组而言，这本书提供的标准光谱库和参数集，无疑是黄金标准。它使得我们不再需要花费大量时间去重新验证已知的标准光谱，而是可以直接利用这些经过充分验证的数据，将精力集中在解决更前沿、更具挑战性的材料科学问题上。这本书的实用价值，远远超过了其纸质本身的重量。

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这本书的结构设计非常巧妙，它遵循了一种由简入繁、层层递进的教学思路，使得原本枯燥的谱学数据变得极具条理性和可操作性。最令人印象深刻的是，它并没有止步于理想化的真空条件下的XPS数据，而是深入讨论了大气暴露、样品制备引入的伪氧化物（Artifacts）对真实本征氧化物信号的干扰与区分方法。这种对“真实世界”复杂性的坦诚面对，极大地提升了其作为工具书的可靠性。我尝试将其中的分析流程应用于我正在进行的一个新型催化剂载体研究中，结果发现，先前分析中无法解释的次级峰，在对照书中提供的特定金属氧化物组合光谱后，立刻找到了合理的归属。这无疑是极大地加速了我的研究进程。可以说，它不仅是一本参考书，更像是一位经验丰富、循循善诱的资深分析师，随时在你的实验桌旁提供指导和校准。

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从排版和图表的清晰度来看，这部手册也体现了极高的专业水准。高分辨率的谱图展示，精确的能量刻度，以及详尽的表格对比，都表明编者对“信息传递效率”有着近乎苛刻的要求。尤其是在对比不同元素体系时，作者采用的统一参照系和归一化处理，使得不同材料之间的横向比较成为可能，这在以往的文献中是极为罕见的。它为标准操作程序（SOP）的制定提供了坚实的基础，无论是对于工业质量控制还是学术研究，都能确保数据的可重复性和一致性。对于那些刚刚接触XPS定性和半定量分析的学生来说，这本书可能略显专业和深入，但对于需要深入挖掘材料表面电子态信息的工程师和博士后而言，它绝对是不可或缺的基石。它的存在，极大地提升了我们对“表面氧化层”这一概念在谱学层面上的理解深度和分析的准确性。

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