Power-Constrained Testing of Vlsi Circuits pdf epub mobi txt 電子書 下載2025
出版者:Kluwer Academic Pub
作者:Nicolici, Nicola/ Al-Hashimi, Bashir
出品人:
頁數:180
译者:
出版時間:
價格:2110.64元
裝幀:HRD
isbn號碼:9781402072352
叢書系列:
圖書標籤:
- VLSI Testing
- Power-Constrained Testing
- Low-Power VLSI
- Fault Modeling
- Test Generation
- Design for Testability
- IC Testing
- Digital Circuits
- Hardware Testing
- Reliability
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