Infrared Characterization for Microelectronics

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出版者:World Scientific Pub Co Inc

作者:Lau, W. S.

出品人:

頁數:160

译者:

出版時間:

價格:$ 53.11

裝幀:HRD

isbn號碼:9789810223526

叢書系列:

圖書標籤:

紅外光譜學
微電子學
材料錶徵
半導體
失效分析
質量控製
無損檢測
器件分析
薄膜
光學性質

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