Es&t Presents the Test Equipment Guide

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出版者:Thomson Learning
作者:Harris, Natalie F. (EDT)/ Leisure, Loretta (EDT)
出品人:
页数:203
译者:
出版时间:
价格:41.95
装帧:Pap
isbn号码:9780790610894
丛书系列:
图书标签:
  • 测试设备
  • 电子测试
  • 仪器仪表
  • 电子工程
  • 测试测量
  • 设备指南
  • Es&t
  • 技术手册
  • 工业设备
  • 电子元器件
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具体描述

探秘电子测量世界的全景指南:《数字时代的信号解析与精密仪器操作手册》 导言:理解电流的脉动,驾驭电子的洪流 在今日的电子工程、电气维护乃至复杂的科学研究领域,对信号的精确测量与深入理解,是技术进步的基石。我们生活在一个由无数电子信号编织而成的网络中,从智能手机内部的微弱脉冲,到大型工业设备的稳定输出,没有可靠的测试设备作为“眼睛”,任何设计、调试或故障排除都将如同在黑暗中摸索。 本书,《数字时代的信号解析与精密仪器操作手册》,并非专注于特定品牌或某一类测试工具的目录式罗列,而是旨在构建一个宏大而坚实的理论与实践框架,帮助读者从根本上理解“测量”的意义,掌握现代电子测试设备的核心功能、工作原理以及在复杂系统中的应用方法。本书的视野横跨了基础的电压、电流测量,深入到高速数字信号的完整性分析,为工程师、技术人员、高级爱好者提供了一套系统、深入且实用的知识体系。 第一部分:电测基础理论的重塑与深化 本部分着重夯实读者对电学测量的基础认知,超越教科书上对欧姆定律的简单引用,深入探讨实际测量环境下的误差来源与校准艺术。 第一章:测量的本质与不确定性分析 理想与现实的差距: 探讨测量误差的四大来源——系统误差、随机误差、人为误差和环境影响。如何通过科学的计量学方法识别和量化这些误差? 有效数字与精度等级: 深入解析不同测试设备标注的精度等级(如 3.5 位、4.5 位等)背后的数学含义,以及如何根据应用需求选择恰当的测量工具,避免“过度测量”或“精度不足”的困境。 探头与被测电路的耦合效应: 详细分析示波器探头(1X, 10X, 有源探头)对被测信号的负载效应(容性、阻性加载),并提供最小化探头对高频信号影响的实践技巧。 第二章:万用表(DMM)的进阶应用与限制 虽然万用表是基础工具,但其在复杂应用中的潜力往往被低估。 真有效值(True RMS)的必要性: 解释在测量非正弦波形(如开关电源输出、电机驱动信号)时,普通平均值测量与真有效值测量的巨大差异及其对功率计算的影响。 低阻抗测量与四线法(开尔文连接): 针对毫欧级别电阻、电池内阻和接触电阻的精确测量,详细阐述四线测量法的原理、接线方法以及如何消除引线电阻带来的误差。 数据记录与趋势分析: 探讨如何利用具有数据记录功能的万用表进行长时间的参数漂移监测,并利用统计工具分析数据趋势。 第二部分:波形分析的艺术——示波器精通指南 示波器是电子工程师的“眼睛”,本部分旨在将示波器从一个简单的电压显示工具,提升为强大的信号分析平台。 第三章:示波器架构与采样理论 模拟与数字的演变: 简要回顾模拟示波器的局限性,重点解析实时数字示波器(DSO)的信号采集链:前端放大器、模数转换器(ADC)的速度与位深。 奈奎斯特频率与混叠效应: 深入理解采样定理在高速测量中的应用。如何根据待测信号的带宽预估所需的采样率,以及如何识别和避免由欠采样导致的频率混叠。 存储深度与波形捕获率: 解释存储深度如何影响长时间波形捕获的能力,并介绍高波形捕获率(Waveform Capture Rate)在捕捉偶发性毛刺(Glitch)时的决定性作用。 第四章:高级触发、测量与光标应用 复杂触发机制的实战: 掌握边沿触发之外的模式触发、脉冲宽度触发、序列触发(Serial Trigger)在协议调试中的应用。如何利用这些工具精准捕获瞬态事件。 数学运算与眼图分析: 深入讲解示波器内置的数学运算功能(如滤波、FFT)。特别针对高速数字系统,详细阐述眼图(Eye Diagram)的生成、关键参数(抖动、上升时间)的提取与判读,这是评估数据链路质量的关键步骤。 自动测量功能的校准与验证: 解释 Vpp, Vrms, 频率、占空比等自动测量结果背后的算法基础,并教授如何使用内置的信号源或外部标准源来验证测量的准确性。 第三部分:功能源与特定领域测试工具的驾驭 功能源是注入特定信号以测试系统响应的必要工具,而特定工具则提供了对特定物理量进行量化的能力。 第五章:函数/任意波形发生器(AWG)的信号合成 波形构建的底层逻辑: 探讨如何利用 AWG 产生标准正弦波、方波、锯齿波,以及任意波形(如脉冲序列、调制信号)的编程与输出。 调制技术与信道仿真: 详细介绍调幅(AM)、调频(FM)、脉冲宽度调制(PWM)的生成方法,以及如何模拟实际通信信道中的噪声和衰减,用于系统抗干扰测试。 阻抗匹配与输出阻抗设置: 强调功能源输出阻抗(通常为 50 欧姆)与负载匹配的重要性,避免信号反射对测试结果造成的干扰。 第六章:电源测试与 LCR 表的精密计量 本章聚焦于能源和元件级别的测试,要求极高的稳定性和准确性。 直流电源供应器的动态响应测试: 如何设置可编程电源,模拟负载突变,并使用示波器或电子负载测量其电压调整率(Line Regulation)和负载调整率(Load Regulation)。 电子负载(Electronic Load)的应用: 区分恒流(CC)、恒压(CV)、恒阻(CR)和恒功率(CP)模式,并说明在电池放电测试和瞬态功率吸收测试中的最佳实践。 LCR 表的精确测量原理: 深入解析 LCR 表测量电感(L)、电容(C)和电阻(R)时,如何通过不同的测试频率来区分元件的寄生参数,如电容的损耗角正切(D)和品质因数(Q)。 第四部分:高级系统级诊断与自动化 现代测试越来越依赖于仪器间的协同工作和测试流程的自动化。 第七章:逻辑分析仪与协议解码 并行与串行数据的捕获: 区分逻辑分析仪(LA)在捕获多通道数字信号和时序关系中的作用。 嵌入式通信协议的解码: 详细介绍主流串行协议(如 I2C, SPI, UART, CAN, Ethernet)的帧结构、时序要求,以及如何利用现代示波器或专用 LA 的内置解码功能,快速定位协议层面的错误。 第八章:测试自动化与接口标准 PC 控制测试的桥梁: 介绍 GPIB, USB, Ethernet 等通信接口在仪器控制中的应用。重点讲解 SCPI (Standard Commands for Programmable Instruments) 语言的基础结构,这是实现测试自动化的通用语言。 LabVIEW 与 Python 在测试中的集成: 探讨如何利用高层编程语言调用仪器驱动程序(如 VISA 库),构建重复性高、可记录的自动化测试序列,实现“一键式”的复杂测试流程。 结语:持续学习与工具的迭代 电子测试领域的技术迭代速度极快,新的信号标准和更快的处理速度不断涌现。本书提供的不仅是当前仪器的操作指南,更是一套面向未来的思维框架——理解信号的物理本质,选择合适的工具,并掌握系统集成的能力。只有这样,才能在不断变化的电子世界中,始终保持对信号的清晰洞察力。

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