Fourier Transform Infrared Spectrometry pdf epub mobi txt 电子书下载 2026

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出版者:John Wiley & Sons Inc

作者:Griffiths, Peter R./ Haseth, James A. De

出品人:

页数:560

译者:

出版时间:2007-4

价格:1540.40元

装帧:HRD

isbn号码:9780471194040

丛书系列:

图书标签:

傅里叶变换红外光谱
红外光谱
光谱学
分析化学
物理化学
材料分析
化学分析
分子振动
光谱技术
仪器分析

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具体描述

A bestselling classic reference, now expanded and updated to cover the latest instrumentation, methods, and applications

The Second Edition of Fourier Transform Infrared Spectrometry brings this core reference up to date on the uses of FT-IR spectrometers today. The book starts with an in-depth description of the theory and current instrumentation of FT-IR spectrometry, with full chapters devoted to signal-to-noise ratio and photometric accuracy. Many diverse types of sampling techniques and data processing routines, most of which can be performed on even the less expensive instruments, are then described. Extensively updated, the Second Edition:

* Discusses improvements in optical components

* Features a full chapter on FT Raman Spectrometry

* Contains new chapters that focus on different ways of measuring spectra by FT-IR spectrometry, including fourteen chapters on such techniques as microspectroscopy, internal and external reflection, and emission and photoacoustic spectrometry

* Includes a new chapter introducing the theory of vibrational spectrometry

* Organizes material according to sampling techniques

Designed to help practitioners using FT-IR capitalize on the plethora of techniques for modern FT-IR spectrometry and plan their experimental procedures correctly, this is a practical, hands-on reference for chemists and analysts. It's also a great resource for students who need to understand the theory, instrumentation, and applications of FT-IR.

固体材料的微观结构与表面化学分析图书简介本书聚焦于固体材料的微观结构、化学组成及其表面性质的深入研究与表征技术。它旨在为材料科学家、化学工程师以及相关领域的研究人员提供一个全面、系统的理论框架与实践指导，用以理解和分析复杂固体体系的行为机制。第一章：固体材料的结构基础与表征挑战本章首先系统阐述了固体材料的晶体结构与非晶结构的基本原理，包括晶格点阵、晶胞概念、晶体缺陷（如点缺陷、线缺陷和界面）对材料宏观性能的影响。随后，深入探讨了理解固体材料特性的关键挑战，特别是当材料尺寸缩小至纳米尺度时，表面原子与体相原子的比例变化如何导致新的物理和化学性质出现。我们讨论了传统分析方法在处理多相混合物、梯度材料以及极薄涂层时的局限性，从而引出对高灵敏度、高空间分辨分析技术的需求。重点内容包括固体材料的界面能、表面重构现象及其对催化、吸附和摩擦性能的影响建模。第二章：X射线衍射技术（XRD）在晶体结构解析中的应用本章详细介绍了X射线衍射（XRD）的基本物理原理，包括布拉格定律的推导、衍射峰的形成机理以及不同几何配置（如掠射角、平行光束）的适用场景。核心内容在于如何利用XRD数据解析材料的晶相结构、计算晶粒尺寸（基于谢乐公式的修正）、确定晶格常数和识别微观应力与形变。我们特别辟出章节探讨了粉末衍射与单晶衍射的区别，并着重讲解了同步辐射光源在复杂材料（如高熵合金、金属有机骨架材料MOFs）的结构精修中的前沿应用，包括原位（in-situ）反应过程的实时监测。第三章：扫描电子显微学（SEM）与透射电子显微学（TEM）电子显微镜是研究材料微纳形貌和晶体结构最强大的工具之一。本章系统地介绍了扫描电子显微镜（SEM）的工作原理，包括电子束与样品相互作用的几种主要信号（背散射电子、二次电子、X射线）及其成像对比度的物理机制。重点讲解了能量色散X射线谱学（EDS）在元素定性和半定量分析中的应用，以及背散射电子衍射（EBSD）如何提供晶粒取向和晶界信息。随后，本章转向高分辨率的透射电子显微学（TEM）。我们详细阐述了电子束透过样品后产生的衍射图样分析，包括明场像、暗场像的构建，以及高分辨透射电镜（HRTEM）在原子尺度成像中的关键技术——相衬（Phase Contrast）的形成和解释。对于软物质和生物材料，低剂量成像技术和像差校正技术在保持样品完整性方面的进展也被纳入讨论。第四章：拉曼光谱与弹性散射：分子振动与晶格振动拉曼光谱作为一种非破坏性的光学分析技术，在本章中被深入剖析。本章首先解释了拉曼散射的量子力学基础，并区分了其与荧光散射的区别。重点讨论了晶格振动模式（声子）在无机材料中的表征，例如半导体材料的缺陷激活模式和应力对峰位移动的影响。对于有机物和聚合物，我们详细分析了特征官能团的振动指纹区，以及如何利用偏振拉曼光谱获取分子取向信息。此外，还涵盖了表面增强拉曼散射（SERS）的机理及其在痕量分析中的巨大潜力。第五章：X射线光电子能谱（XPS）与俄歇电子能谱（AES）本章集中讨论利用高能光子或电子激发原子内部电子，从而分析材料表面元素组成和化学态的技术。X射线光电子能谱（XPS）被详细介绍，包括光电子的产生、电子的能量分析，以及通过峰位移动识别元素氧化态和化学环境的原理（化学位移）。我们提供了详尽的谱峰拟合方法，用于区分不同配位环境下的金属离子或非金属原子。俄歇电子能谱（AES）则被用作高空间分辨的表面分析技术。本章阐述了俄歇跃迁过程，并讨论了AES在半导体界面分析和薄膜沉积过程监测中的优势。此外，如何结合离子溅射技术进行深度剖析（Depth Profiling）成为本章的关键实践环节。第六章：热分析技术：DSC, TGA 与 TMA 理解材料在温度变化过程中的稳定性、相变行为和热力学响应，是材料工程中的核心环节。本章详细介绍了差示扫描量热法（DSC），用于测量吸热或放热转变（如熔点、玻璃化转变、结晶度），并探讨了其在聚合反应动力学研究中的应用。热重分析（TGA）部分，重点讲解了质量随温度变化的记录及其在确定材料分解温度、挥发物含量和氧化稳定性方面的作用。我们还讨论了复合材料的热解行为分析。热机械分析（TMA）则用于测量材料在特定载荷下的热膨胀系数和软化点，是理解材料装配性能的关键。本章还整合了这些技术在聚合物老化研究和无机粉体制备中的协同应用案例。第七章：原子力显微镜（AFM）及其力学性能探针原子力显微镜（AFM）是研究固体表面形貌、粗糙度和局部力学性质的强大工具。本章首先解释了AFM的基本成像模式（接触模式、轻敲模式和非接触模式）的物理差异及其适用范围。核心内容包括如何通过扫描探针获取高分辨率的三维表面形貌数据，并进行定量粗糙度参数分析。本章的重点拓展部分在于力学性能测量。我们深入探讨了基于原子力显微镜的压电力显微镜（LFM）和纳米压痕技术，用以测量局部杨氏模量、硬度和粘附力。这对于理解涂层、复合材料界面和生物材料的力学响应至关重要。此外，还介绍了动态力学分析模式（Damping measurements）在聚合物弛豫行为分析中的应用。第八章：光谱分析的信号处理与数据校准本章旨在提供将原始谱学数据转化为可靠物理化学信息的实践指导。我们涵盖了光谱数据的基本预处理步骤，包括基线校正、背景扣除、噪声抑制技术（如Savitzky-Golay平滑）和峰位校正。对于复杂的谱图，本章详细讲解了多元曲线解析方法，如主成分分析（PCA）和非负矩阵分解（NMF），这些方法在处理多组分混合物或时间序列数据时，用于解耦不同物理过程的贡献。此外，还提供了不同分析技术之间数据交叉验证和校准的标准流程，确保实验结果的准确性和可比性。结论：多技术联用与材料系统集成分析最后一章总结了单一技术分析的局限性，并强调了多技术联用（如XPS-TEM-XRD联用）在解决复杂材料科学问题中的必要性。我们提供了多个案例研究，展示如何通过集成不同尺度的信息，从原子配位到微米形貌，最终构建起完整的材料性能与结构关系模型。本书为读者提供了全面的理论基础和实用的操作指南，以应对现代材料研究中日益增长的表征复杂性需求。