电子与嵌入式系统设计丛书

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张强,资深验证工程师,毕业于浙江大学超大规模集成电路研究所,研究方向为模拟及数模混合集成电路,主要从事模拟电源管理芯片、运算放大器及应用于高性能CPU的SRAM的研究与设计,持有两个与SRAM相关的专利。毕业后一直从事数字集成电路的设计和验证工作,曾经参与过高速智能列车数据采集及通信系统、高性能智能投影仪芯片的研究与开发。目前主要从事手机等消费电子低功耗图形显示芯片的研究。2011年年底,在熟读UVM源代码的情况下,在网上发布了《UVM1.1应用指南及源代码解析》,深受读者肯定。

出版者:机械工业出版社
作者:张强
出品人:
页数:368
译者:
出版时间:2014-7-1
价格:CNY 79.00
装帧:平装
isbn号码:9787111470199
丛书系列:
图书标签:
  • UVM 
  • IC 
  • 硬件 
  • ic验证 
  •  
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《UVM实战(卷1)》主要介绍UVM的使用。全书详尽介绍了UVM的factory机制、sequence机制、phase机制、objection机制及寄存器模型等的使用。此外,本书还试图引导读者思考UVM为什么要引入这些机制,从而使读者知其然,更知其所以然。本书以一个完整的示例开篇,使得读者一开始就对如何使用UVM搭建验证平台有总体的概念。本书提供大量示例代码,这些代码都经过实际的运行。全书内容力求简单易懂,尽量将UVM中的概念与读者已有的概念联系起来。在第11章还专门介绍了OVM与UVM的区别,为那些从OVM迁移到UVM的用户提供很大帮助。本书主要面向UVM的初学者及想对UVM追根寻底的中级用户。针对没有面向对象编程基础的用户,本书在附录中简要介绍了面向对象的概念及SystemVerilog中区别于其他编程语言的一些特殊语法。

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读后感

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用户评价

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比上一本讲的清楚多了(也是UVM的发展所致)。排版上还有不少错误

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死磕uvm源代码,书很不错。但,没有methodology方面的

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最好的中文uvm入门书籍

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必读,多读,细读

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写得很明白很易懂,三个晚上看完,推荐给所有验证人员!uvm入门必选

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