Journey to Data Quality

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出版者:Mit Pr

作者:Lee, Yang W. (EDT)/ Pipino, Leo L./ Funk, James D./ Wang, Richard Y.

出品人:

頁數:226

译者:

出版時間:

價格:36

裝幀:HRD

isbn號碼:9780262122870

叢書系列:

圖書標籤:

數據質量
數據治理
數據管理
數據分析
數據清洗
數據驗證
數據完整性
數據準確性
數據可靠性
數據策略

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