Microelectronics Packaging Handbook

Microelectronics Packaging Handbook pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

出版者:Kluwer Academic Pub
作者:Tummala, Rao R. (EDT)/ Rytmaszewski, Eugene J. (EDT)/ Klopfenstein, Alan G. (EDT)
出品人:
页数:747
译者:
出版时间:1997-1
价格:$ 331.09
装帧:HRD
isbn号码:9780412084317
丛书系列:
图书标签:
  • Microelectronics
  • Packaging
  • Semiconductor
  • Integrated Circuits
  • Electronics
  • Engineering
  • Materials Science
  • Technology
  • Design
  • Manufacturing
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具体描述

This thoroughly revised and updated three volume set continues to be the standard reference in the field, providing the latest in microelectronics design methods, modeling tools, simulation techniques, and manufacturing procedures. Unlike reference books that focus only on a few aspects of microelectronics packaging, these outstanding volumes discuss state-of-the-art packages that meet the power, cooling, protection, and interconnection requirements of increasingly dense and fast microcircuitry. Providing an excellent balance of theory and practical applications, this dynamic compilation features step-by-step examples and vital technical data, simplifying each phase of package design and production. In addition, the volumes contain over 2000 references, 900 figures, and 250 tables. Part I: Technology Drivers covers the driving force of microelectronics packaging - electrical, thermal, and reliability. It introduces the technology developer to aspects of manufacturing that must be considered during product development. Part II: Semiconductor Packaging discusses the interconnection of the IC chip to the first level of packaging and all first level packages. Electrical test, sealing, and encapsulation technologies are also covered in detail. Part III: Subsystem Packaging explores board level packaging as well as connectors, cables, and optical packaging.

《微电子封装技术前沿与实践》 本书旨在深入探讨微电子封装领域的最新发展趋势、关键技术和实际应用,为从事微电子设计、制造、封装以及相关领域研究和工程技术人员提供一份全面的参考指南。本书内容涵盖了从传统封装技术到先进三维集成封装的演进,聚焦于当前产业界最为关注的热点问题,并结合实际案例进行剖析。 第一部分:封装技术基础与演进 本部分将首先回顾微电子封装技术的发展历程,从早期的通孔封装(Through-Hole Technology, THT)和表面贴装技术(Surface Mount Technology, SMT),阐述其各自的原理、优缺点以及在不同时期的应用。接着,我们将深入介绍现代主流的封装技术,包括塑封(Plastic Encapsulation)、陶瓷封装(Ceramic Encapsulation)等,并详细讲解其结构组成、材料选择、制造工艺以及性能评估。 第二部分:先进封装技术解析 随着电子设备集成度不断提高和性能要求日益严苛,先进封装技术应运而生。本部分将重点介绍当前行业内最具代表性的先进封装技术,如: 晶圆级封装(Wafer-Level Packaging, WLP):详细阐述WLP的工艺流程,包括晶圆凸块(Wafer Bumping)、再布线层(Redistribution Layer, RDL)形成、临时支撑、切割等关键步骤。分析WLP在尺寸缩小、成本降低以及电学性能提升方面的优势,并探讨其在移动通信、物联网(IoT)等领域的应用。 倒装芯片封装(Flip-Chip):深入讲解倒装芯片的技术原理,包括焊球(Solder Ball)的制作、芯片键合(Die Bonding)、封装基板(Substrate)的设计与制造。重点分析倒装芯片相比引线键合(Wire Bonding)在电信号传输、散热性能和功率密度方面的优势,并结合高性能计算、服务器等应用场景进行说明。 球栅阵列封装(Ball Grid Array, BGA):介绍BGA的结构特点、焊球阵列的布局方式以及其在提高I/O密度和改善热管理方面的作用。详细阐述不同类型的BGA,如塑封BGA(PBGA)、陶瓷BGA(CBGA)、覆晶BGA(FCBGA)等,以及它们在各种电子产品中的应用。 扇出型晶圆级封装(Fan-Out Wafer-Level Packaging, FOWLP):深入分析FOWLP的独特工艺,特别是其重分布层(RDL)的构建方式,如何实现芯片尺寸外扩以及更高密度I/O的连接。探讨FOWLP在手机 SoC、人工智能(AI)芯片等领域的关键作用,以及其在提升封装性能和集成度方面的潜力。 2.5D/3D封装技术:本部分将聚焦于更高维度的集成技术。详细介绍2.5D封装,如硅中介层(Silicon Interposer)的应用,如何通过硅通孔(Through-Silicon Via, TSV)实现多颗芯片的横向集成,以及其在高性能图形处理器(GPU)、AI加速器等领域的价值。进一步深入探讨3D封装技术,包括垂直堆叠(Vertical Stacking)的挑战与机遇,如3D TSV的工艺集成、功率传递、散热解决方案以及芯片间通信(Chip-to-Chip Communication)的优化。分析3D封装在实现极致集成、性能飞跃以及异构集成(Heterogeneous Integration)方面的巨大潜力。 第三部分:封装材料与可靠性 封装材料的选择对器件的性能、可靠性和成本至关重要。本部分将深入探讨各种封装材料,包括: 塑封材料:重点介绍环氧树脂塑封料(Epoxy Molding Compounds, EMC)的组成、性能要求(如低应力、高可靠性、阻燃性等)及其在注塑成型工艺中的应用。 封装基板材料:分析有机基板(如BT树脂、ABF等)、陶瓷基板(如Alumina、AlN等)以及硅基板(Silicon Substrate)的特性、优势和在不同封装应用中的选择依据。 互连材料:详细介绍焊料(Solder)、铜柱(Copper Pillar)、导电胶(Conductive Paste)等互连材料的成分、性能以及在不同连接方式中的应用。 封装可靠性:本部分将全面阐述影响微电子封装可靠性的关键因素,包括热应力(Thermal Stress)、湿度(Humidity)、机械应力(Mechanical Stress)、电迁移(Electromigration)等。深入介绍相关的可靠性测试方法,如高低温循环测试(Temperature Cycling)、湿热储存测试(Damp Heat Storage)、邦定强度测试(Bond Strength Test)等,并讨论如何通过材料选择、工艺优化和结构设计来提升封装的长期可靠性。 第四部分:先进封装的制造工艺与挑战 本部分将进一步深入探讨先进封装的制造工艺细节,以及在生产过程中面临的挑战。 微凸块(Micro-Bump)与纳米凸块(Nano-Bump):详细介绍用于倒装芯片和WLP的微凸块和纳米凸块的制造工艺,包括电镀、蒸镀、印刷等技术,以及对精度和均一性的要求。 先进的键合技术:阐述如热压键合(Thermocompression Bonding)、超声波键合(Ultrasonic Bonding)、倒装键合(Flip-Chip Bonding)等不同类型的芯片键合技术,以及它们在连接不同材料和结构时的适用性。 TSV制造工艺:深入解析TSV的制造流程,包括深硅刻蚀(Deep Silicon Etching, DRIE)、绝缘层沉积、导电层填充(如铜电镀)、抛平(CMP)等关键步骤,以及其在3D集成中的重要性。 异构集成(Heterogeneous Integration):探讨如何将不同类型、不同功能的芯片(如CPU、GPU、内存、RF器件等)在同一封装中进行集成,以及面临的挑战,如功耗管理、热协同设计、信号完整性以及制造协同性。 封装的测试与检验:介绍封装完成后的电学测试(Electrical Testing)、功能测试(Functional Testing)、X-ray检测、扫描声学显微镜(SAM)、光学显微镜等非破坏性检验(Non-Destructive Testing, NDT)方法,确保产品质量。 第五部分:封装的应用与未来展望 本书最后将结合实际应用案例,展示微电子封装技术在各个领域的关键作用,并对未来发展趋势进行展望。 在高性能计算与服务器领域的应用:分析先进封装如何支持CPU、GPU、FPGA等高性能芯片的集成,提升计算能力和效率。 在移动通信与物联网(IoT)领域的应用:探讨封装技术如何实现移动设备的轻薄化、低功耗化以及多功能集成。 在汽车电子领域的应用:分析封装技术如何满足汽车电子对高可靠性、宽温工作范围和长期稳定性的严苛要求。 在人工智能(AI)与机器学习(ML)领域的应用:展示封装技术如何支撑AI芯片的高密度、高性能和低延迟需求。 未来的封装技术趋势:预测未来封装技术的发展方向,如更先进的3D集成技术、先进的材料科学创新、人工智能在封装设计与制造中的应用、以及可持续发展和绿色封装的理念。 本书力求在理论深度与实践指导之间取得平衡,通过丰富的图表、详细的工艺流程解析和案例分析,帮助读者全面理解微电子封装技术的精髓,掌握前沿技术,并在实际工作中做出更明智的决策。

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读后感

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我最近有幸阅读了这本《Microelectronics Packaging Handbook》,这本书给我留下了非常深刻的印象,它并非一本泛泛而谈的概述性读物,而是将重点放在了实际操作和深入分析上。尤其是在材料科学与封装工艺的结合方面,作者的讲解细致入微。比如,在谈到热界面材料(TIM)时,它不仅列举了不同种类的TIM,如导热硅脂、导热垫片、相变材料等,还详细分析了它们在导热效率、粘附性、耐久性以及成本等方面的权衡。书中还花了很大篇幅讨论了各种封装应力(如热机械应力、机械应力)的产生机理以及它们对封装器件可靠性的影响,并通过大量的仿真数据和实验结果来佐证其观点。我个人认为,对于那些需要进行实际封装设计或故障分析的工程师来说,这本书的价值是无可估量的。它提供了解决实际问题所需的理论基础和实践指导,就像一本宝贵的工具箱,里面装满了解决封装难题的钥匙。

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老实说,在翻阅这本书之前,我对微电子封装的了解仅限于表面,总觉得它只是一个简单的“外壳”。然而,这本书彻底颠覆了我的认知。它让我意识到,封装远不止于此,它是一个集材料、机械、热学、电学和可靠性工程于一体的复杂系统工程。我特别欣赏书中对于不同封装类型的分类和对比,比如BGA(球栅阵列)、QFN(无引线四方扁平封装)、CSP(芯片尺寸封装)等等,每个类型都详细讲解了其结构特点、制造工艺、优缺点以及适用的领域。特别是对于先进封装技术,如扇出晶圆级封装(FOWLP)和2.5D/3D封装,书中的讲解非常前沿,它深入剖析了这些技术如何克服传统封装的瓶颈,实现更高密度、更优异的性能和更低的功耗。这本书的内容厚重且信息量巨大,但编排得当,条理清晰,即使是对于初学者,只要愿意花时间去钻研,也能从中受益匪浅。

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这本书是我最近阅读过的一本技术性极强的著作,它对于微电子封装的理解提升了我一个全新的维度。书中对于各种封装技术的演进史和未来发展趋势的分析,让我看到了整个行业是如何不断突破界限,追求极致性能的。尤其让我印象深刻的是,它不仅关注宏观的封装结构,还深入到微观的互连技术,比如铜柱键合、微凸点阵列等,以及这些技术在提高信号完整性、降低寄生参数方面所起到的关键作用。在讨论热管理时,书中的内容更是达到了炉火纯青的地步,从主动散热到被动散热,从导热材料的选择到散热器的设计,每一个细节都考虑周全。这本书的价值在于它的全面性、深度和前瞻性,它适合所有对微电子封装有深入了解需求的研究人员、工程师,乃至对现代科技发展感兴趣的读者。

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从一位对微电子行业充满好奇的旁观者角度来看,这本《Microelectronics Packaging Handbook》无疑是一扇通往精密制造和前沿科技的大门。它以一种引人入胜的方式,解释了那些构成我们数字世界基石的微小组件是如何被精心设计和制造的。书中关于封装可靠性的探讨尤其令人印象深刻,它不仅仅是描述问题,更是给出了如何预防和解决问题的具体方法,这对于任何追求产品稳定性的行业都至关重要。我了解到,一个小小的封装,其背后涉及到无数精密的计算和严格的测试,以确保它能在各种严苛的环境下长时间稳定工作。书中对封装材料在环境因素(如温度、湿度、腐蚀性气体)下的行为分析,让我对电子产品的耐用性有了全新的认识。读这本书,我感觉自己仿佛置身于一个高度专业化的实验室,亲眼见证着科学家和工程师们如何将创新理念转化为切实可用的产品。

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这本书绝对是半导体封装领域的圣经!我一直对微电子器件是如何从裸芯片最终变成我们日常生活中可见的各种电子产品感到好奇,而这本书就像一位博学的向导,一点点揭开了这个神秘的面纱。从最基本的封装材料选择,到各种复杂的多芯片模块(MCM)设计,它都循序渐进地进行了阐述。我特别喜欢它在讲解先进封装技术时,那种深入浅出的风格,比如对三维堆叠(3D stacking)的详细描述,包括了各种层叠方式、互连技术以及相关的热管理挑战,这些都是推动现代高性能计算和移动设备发展的关键。书中的图表和案例分析也做得非常出色,让我能够直观地理解抽象的概念,例如在讨论可靠性时,它不仅列举了各种失效模式,还给出了详细的预测和测试方法。读完这本书,我感觉自己对整个微电子封装产业链有了更宏观的认识,也对未来封装技术的发展方向有了更清晰的把握。它不仅仅是一本技术手册,更是一部关于创新和工程智慧的史诗。

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