Design-for-Test for Digital IC's and Embedded Core Systems pdf epub mobi txt 电子书 下载 2025
出版者:Prentice Hall PTR
作者:Alfred Crouch
出品人:
页数:347
译者:
出版时间:1999-06-15
价格:USD 98.00
装帧:Paperback
isbn号码:9780130848277
丛书系列:
图书标签:
- 测试
- 嵌入式软件
- DFT
- Digital IC Testing
- Embedded Systems
- Testability
- Scan Design
- Boundary Scan
- Built-In Self-Test
- Fault Simulation
- Verification
- IC Design
- Hardware Testing
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具体描述
Practical DFT guide from an industry insider. Helps you optimize the engineering trade-offs between such resources as silicon area, operating frequency, and power consumption, while balancing the corporate concerns. CD-ROM included. DLC: Digital integrated circuits - Design and construction.
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