This is the only book to teach microsystems packaging - written by the field's leading author. This is the book that engineers, technicians, and students want - the first to teach microsystems packaging from the ground up. Rao Tummala's one-stop "Fundamentals to Microsystems Packaging" covers the field from wafer to systems, including every major contributing technology. It's the only book to do so.This much-needed tool features: a comprehensive tutorial covering every major aspect of microelectronics, photonics, RF, packaging design, assembly, reliability, testing, manufacturing and its relevance to both semiconductors and systems; rigorous coverage of electrical, mechanical, chemical, and materials aspects of each technology; easy-to-read schematics and block diagrams; fundamental approaches to all system issues; examples of all common configurations and technologies - wafer level packaging, single chip, multichip, RF, opto-electronic, microvia boards, thermal and others; details on chip-to-board connections, sealing and encapsulation, and manufacturing processes; basics of electrical and reliability testing; hundreds of explanatory two-color illustrations; self-test problems and solutions in every chapter; and, glossary. This title provides the best way to learn microsystems packaging through self-study or in a classroom - and the most comprehensive on-the-job reference. It covers MICROSystems packaging from the ground up.
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从一个资深硬件工程师的角度来看,这本书的价值在于它提供了一个极度全面且结构严谨的参考框架。它不仅仅是关于“如何做”(How-to),更多的是关于“为什么这样做更好”(Why this is better)。尤其让我印象深刻的是关于可靠性测试和失效分析的部分。作者详尽地列举了各种加速老化测试的标准(如HALT/HASS),并将其与实际产品寿命模型联系起来,这在很多教科书中只是寥寥数语带过的内容。书中对微型传感器的封装挑战——比如如何实现生物相容性封装或对极端环境(高压、高温腐蚀)的抵抗力——的探讨,展示了作者超越传统半导体封装领域的广阔视野。它不是一本纯粹的半导体工艺书,而是一部跨学科的“容器设计圣经”。读完后,我能更自信地与材料供应商和制造伙伴进行深入的技术对话,因为我已经掌握了他们语言背后的底层逻辑,而不是仅仅停留在参数的表面。
评分说实话,这本书的阅读过程,更像是一次高强度的思维训练。它的语言风格非常严谨、学术化,几乎没有一句废话或夸张的形容词。它就像一个经验丰富、不苟言笑的教授,直接把最硬核的知识点摆在你面前,要求你自行消化。我最喜欢它对“封装的界面问题”的阐述,特别是关于空洞(voids)的形成机制及其对介电常数和信号完整性的影响。作者用了很多篇幅来解释等离子体刻蚀、薄膜沉积以及晶圆级封装(WLP)中对这些界面的控制。这种对微观界面控制的执着,是决定最终产品性能的关键。对我来说,这本书的阅读体验是“苦尽甘来”型的,初读时会因为其密度和术语的专业性而感到压力山大,但每当你攻克一个章节,那种对封装世界有了全新认知的成就感,是无与伦比的。它要求读者具备扎实的物理和化学基础,但回报是你能真正理解现代电子设备如何在微米尺度上实现稳定运行。
评分这部作品的真正魅力,在于它将封装提升到了“艺术”的层面,而不仅仅是工程的附属品。它以一种近乎诗意的方式描绘了如何将脆弱的硅片保护起来,使其能在严苛的现实世界中生存。书中对异构集成——即将不同技术节点、不同材料的芯片组合在一起——的未来展望,充满了前瞻性。作者没有停留在当前的CMOS限制,而是积极探讨了光子集成与微电子的共封装可能性,这部分内容尤其令人振奋。它不仅仅关注于如何做得更小更快,更关注如何做得更异构、更智能。对我个人而言,最触动我的是其中关于封装材料的生命周期评估(LCA)的讨论,这在其他侧重性能的书籍中是极少提及的。它提醒我们,封装不仅仅是制造环节,更是连接产品与环境的桥梁。总而言之,这是一本能让你重新审视“盒子里的世界”的力作,它为那些在设计最前沿徘徊的工程师和研究者,提供了坚实的理论基石和无限的想象空间。
评分这本著作的阅读体验,坦白说,更像是一部需要全神贯注的学术“史诗”,而不是一本可以轻松翻阅的指南。它对传统封装技术(如引线键合和倒装芯片)的历史演变和局限性的追溯,非常详尽且富有洞察力。我发现自己花了大量时间去消化其中关于“良率提升”和“应力分析”的章节。作者似乎有一种强迫症般对细节的偏执,他对不同封装模式下的机械应力分布图的解读,清晰得令人发指,几乎让你能“看见”那些微观尺度的疲劳裂纹是如何萌生的。然而,正是这种深度,也带来了一定的挑战性。对于那些期待快速掌握当前最热门的AI芯片封装方案的读者来说,这本书的前半部分可能会显得略微“厚重”。它更倾向于奠定基础,而不是追逐潮流。但一旦你熬过了那些关于湿法化学和光刻套刻精度的细致讨论,你会发现自己对任何新兴的封装技术都能迅速理解其背后的物理原理和工程权衡,这种“内功”的修炼,是任何速成手册都无法给予的。
评分这本书读起来像是一次深入的、几乎是考古学式的探索,它带领我们穿越了现代电子设备最核心、却又最容易被忽视的领域——微系统封装。作者没有满足于提供一个简单的技术手册,而是构建了一个极为详尽的知识体系。我尤其欣赏它对材料科学与工程学交叉点的精妙处理。比如,在讨论热管理和可靠性时,它不仅仅是罗列了各种散热器的设计方案,而是深入剖析了不同封装材料的热膨胀系数(CTE)失配如何从根本上导致长期性能下降和最终的结构失效。这种对“为什么”的追问,使得即便是初次接触这个领域的读者也能建立起坚实的理论基础,而不是仅仅学会如何操作设备。书中对先进封装技术如扇出型(Fan-Out)和系统级封装(SiP)的介绍,不仅仅是描述了工艺流程,更结合了供应链和成本效益的角度进行了批判性分析,这对于希望在工业界应用这些知识的工程师来说,提供了宝贵的商业洞察。整本书的叙事节奏掌控得非常好,从基础的腔体设计到复杂的异构集成,逻辑链条环环相扣,读起来酣畅淋漓,让人感觉自己仿佛真的参与到了一次精密的“搭积木”工程中。
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