超大规模集成电路衬底材料性能及加工测试技术工程

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出版者:冶金工业出版社
作者:刘玉岭等编著
出品人:
页数:311
译者:
出版时间:2002-1
价格:39.50元
装帧:简裝本
isbn号码:9787502430504
丛书系列:
图书标签:
  • 超大规模集成电路
  • 集成电路衬底
  • 衬底材料
  • 材料性能
  • 加工技术
  • 测试技术
  • 半导体材料
  • 微电子学
  • 电子工程
  • 材料科学
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具体描述

《超大规模集成电路衬底材料性能及加工测试技术工程》介绍了作为超大规模集成电路衬底材料硅的性能、硅单晶衬底的加工工艺以及相关的测试技术。

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