集成电路速查大全

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出版者:西安电子科技大学出版社
作者:尹雪飞
出品人:
页数:287
译者:
出版时间:1997年10月
价格:24.00元
装帧:平装
isbn号码:9787560604992
丛书系列:
图书标签:
  • a
  • 集成电路
  • 电子工程
  • 速查手册
  • 电路知识
  • 电子元件
  • 参考书
  • 工程师
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  • 实用
  • 电子技术
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具体描述

《集成电路速查大全》是由西安电子科技大学出版社出版的。

好的,这是一份关于一本名为《集成电路速查大全》之外的图书的详细简介,内容将专注于电子工程、信号处理、嵌入式系统设计等相关领域,避免提及《集成电路速查大全》本身的内容。 --- 《现代电子系统设计与优化:从理论到实践》 图书简介 在当今快速迭代的科技浪潮中,电子系统已成为驱动社会进步的核心动力。无论是消费电子的便携化、工业自动化的智能化,还是通信网络的超高速化,其背后都离不开对复杂电子系统进行精深设计与有效优化的能力。《现代电子系统设计与优化:从理论到实践》正是为满足这一需求而编写的权威性专著。本书旨在为电子工程师、系统架构师、高年级本科生及研究生提供一套系统、深入且极具实操性的知识体系,帮助读者跨越理论与实际应用之间的鸿沟,掌握构建高性能、高可靠性电子系统的关键技术。 本书结构严谨,内容覆盖面广,从最基础的器件物理模型到复杂的系统级架构,层层递进,确保读者能够构建起扎实的理论基础和丰富的设计经验。 第一部分:核心器件与模拟电路基础 本部分着重于对现代电子系统基石——半导体器件及其在模拟电路中的应用进行深度剖析。我们不再停留在对晶体管参数的简单罗列,而是深入探讨了器件的非线性特性、噪声源的物理机制,以及如何通过结构优化来改善其性能。 晶体管的先进模型与仿真技术: 详细介绍了MOSFET和BJT在不同工作区域下的精密模型,重点阐述了亚微米乃至纳米级工艺下短沟道效应、热载流子效应等对模型准确性的影响。结合SPICE仿真工具,展示了如何建立准确的器件级模型,并用于预测电路的实际性能。 高精度模拟电路设计: 深入探讨了运算放大器的设计原理,不仅涵盖了经典的反馈理论,更专注于高速、低噪声、高共模抑制比(CMRR)的差分放大器设计。重点分析了开关电容技术在滤波器和数据转换器中的应用,以及如何处理工艺偏差和温度漂移对精度的影响。此外,电源管理单元(PMU)的设计,如低压差(LDO)稳压器和开关模式电源(SMPS)的环路补偿与瞬态响应优化,也进行了详尽的论述。 噪声分析与抑制策略: 系统梳理了电子系统中的各类噪声源,包括热噪声、散粒噪声、闪烁噪声(1/f噪声)等。本书提供了先进的噪声分析方法,例如噪声等效模型、蒙特卡洛仿真,并提出了在PCB布局、信号调理和电源分配网络中抑制噪声的具体工程实践。 第二部分:高速数字系统与信号完整性 随着数字电路工作频率的不断攀升,信号完整性(SI)和电源完整性(PI)已成为决定系统性能和可靠性的关键因素。本部分聚焦于高速数字系统的设计挑战与解决方案。 传输线理论与阻抗匹配: 详细回顾了电磁场理论在PCB设计中的应用,重点讲解了微带线、带状线等结构在不同介质和频率下的特性阻抗计算。针对多层板的设计,系统介绍了串扰(Crosstalk)的耦合机理,并提供了降低耦合的布局规则和屏蔽技术。 时序分析与同步设计: 深入探讨了数字电路的时序约束,包括建立时间(Setup Time)、保持时间(Hold Time)、时钟抖动(Jitter)的量化分析。本书提供了先进的时钟域交叉(CDC)方法,如异步FIFO、握手协议的设计规范,确保系统在不同时钟频率下稳定运行。 电源完整性(PI)的设计实践: 阐述了电源分配网络(PDN)的阻抗模型,并分析了去耦电容的选择、放置和等效电路模型。重点介绍了如何通过仿真工具评估电源噪声,以及如何利用平面层和去耦技术有效地将PDN阻抗控制在目标值以下,从而保障高速器件的稳定供电。 第三部分:嵌入式系统架构与实时控制 本部分将视角从电路层提升到系统架构层面,关注如何构建高效、可扩展的嵌入式系统,并实现精确的实时控制。 微控制器与异构计算平台: 分析了现代微处理器(MCU/MPU)的核心架构,包括流水线、缓存一致性协议和中断处理机制。重点介绍了异构计算平台(如ARM Cortex-M/R/A系列与FPGA的协同工作模式),探讨了数据如何在不同处理单元间高效、低延迟地流动。 实时操作系统(RTOS)与任务调度: 详细比较了主流RTOS(如FreeRTOS, QNX, µC/OS)的设计哲学和内核机制。深入讲解了任务优先级管理、信号量、消息队列等同步原语的正确使用,并着重分析了死锁预防和实时性保证的关键策略。对于周期性任务,提供了基于固定优先级抢占式调度和最早截止时间优先(EDF)调度的详细设计案例。 现场可编程逻辑器件(FPGA)在系统加速中的应用: 介绍了FPGA的基本结构(LUT、触发器、布线资源),并聚焦于如何利用硬件描述语言(HDL)实现高速数据通路和并行计算。重点讲解了有限状态机(FSM)的设计模式,以及如何利用DSP模块和高速收发器(SerDes)接口实现高性能的信号处理加速器。 第四部分:高级测试与可靠性工程 任何成功的电子系统都必须经过严格的验证与测试,并具备长期的可靠性。本部分提供了保障产品质量的工程方法论。 系统级调试与故障诊断: 介绍了从系统启动阶段到实际运行过程中,如何使用逻辑分析仪、示波器(高带宽、高采样率)进行复杂故障的定位。重点阐述了JTAG/SWD接口在板级调试中的应用,以及故障注入技术在验证系统鲁棒性方面的作用。 设计可靠性与可制造性(DFM/DFT): 讲解了如何将可制造性设计原则(如层叠结构、元件间距、焊接工艺要求)融入早期设计阶段。在可测试性设计(DFT)方面,详细介绍了边界扫描(Boundary Scan)技术在板级互联测试中的应用,以及BIST(Built-In Self-Test)电路的设计,以确保芯片和板卡的测试覆盖率。 电磁兼容性(EMC)的系统化设计: EMC不再是后期补救的工作,而是贯穿始终的设计要素。本书系统性地介绍了电磁辐射(EMI)和电磁敏感性(EMS)的分析模型。内容涵盖了屏蔽设计(机箱、PCB敷形层)、滤波器的选型与布局、接地策略(单点接地、混合接地)的优劣对比,旨在从源头降低EMC风险。 《现代电子系统设计与优化:从理论到实践》以其深度、广度和极强的工程实践指导性,为从业者提供了一套行之有效的工具箱,是构建下一代高复杂度电子产品的必备参考书。

作者简介

目录信息

第一章 TTL集成电路
表一 TTL集成电路索引表
表二 TTL集成电路引出端功能图 按序号排列
第二章 CMOS集成电路
表一 CMOS集成电路电参数文字符号表
表二 CMOS集成电路引出端功能
· · · · · · (收起)

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