康佳新彩霸彩色电视机电路原理与检修实例 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

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出版者:北京科学技术出版社

作者:刘力新

出品人:

页数:376

译者:

出版时间:1999-1-1

价格:29.90

装帧:平装(无盘)

isbn号码:9787530422540

丛书系列:

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《现代电子测量技术与应用》 内容简介 本书深入系统地阐述了现代电子测量领域的基础理论、关键技术、常用仪器原理及其在实际工程中的应用。全书共分为六大部分，内容涵盖了从基础的电学测量到复杂的数字信号分析，旨在为电子工程技术人员、科研工作者以及相关专业学生提供一本全面、实用、前沿的参考资料。 第一部分：电子测量基础与误差分析 本部分首先回顾了电子测量的基本概念、测量系统组成、信号的分类与特性，为后续深入学习打下坚实的基础。重点解析了电学基本量（电压、电流、电阻、电容、电感）的测量原理与方法，包括电桥测量技术、高精度直流/交流测量技术等。 尤为详尽的是对测量误差理论的系统介绍。内容涵盖了随机误差、系统误差、偶然误差的统计学处理方法，例如标准差、置信区间、最小二乘法等在数据处理中的应用。书中通过大量工程实例，演示了如何通过合理的实验设计和数据处理，最大限度地减小测量不确定度，提高测量结果的可靠性。同时，也讨论了量值溯源、计量学基础以及相关国家和国际标准（如《国际单位制（SI）》）在电子测量中的遵循原则。 第二部分：常用电子测量仪器原理与操作 本部分聚焦于现代实验室和工业现场最常用的几类核心测量设备的工作原理、操作技巧和注意事项。 1. 示波器技术： 详细解析了模拟示波器和数字存储示波器（DSO）的内部结构和工作流程，包括采样定理、数字化过程、时基系统、触发机制等。重点剖析了现代示波器的高级功能，如串行总线解码（I2C, SPI, UART）、实时频谱分析（RTA）、眼图/抖动分析等在高速电路调试中的实战应用。书中强调了探头选择（无源、有源、差分探头）对测量准确性的关键影响。 2. 信号源技术： 全面介绍了函数信号发生器、任意波形发生器（AWG）和矢量信号发生器（VSG）的原理。特别关注了任意波形生成中的直接数字合成（DDS）技术，以及如何利用VSG进行复杂的调制信号（如QAM、OFDM）的生成和测试，为通信系统和射频电路测试提供理论支撑。 3. 专用测量仪器： 深入讲解了LCR数字电桥、功率计、频谱分析仪、矢量网络分析仪（VNA）的核心工作原理。对于VNA，书中不仅阐述了S参数的物理意义，还详尽介绍了校准技术（SOLT、TRL）和阻抗匹配网络的设计与测试。对于功率计，讨论了真有效值（True RMS）测量的必要性及其实现方法。 第三部分：数据采集与数字化处理 本部分关注如何将模拟物理量转化为可分析的数字信息。详细介绍了模/数转换器（ADC）和数/模转换器（DAC）的架构（如逐次比较型、Sigma-Delta型），及其关键参数（分辨率、采样率、非线性度）对测量精度的影响。同时，阐述了数据采集系统（DAQ）的软硬件协同设计，包括总线接口（PCIe, USB）、数据传输效率优化以及多通道同步采集技术。对数据预处理，如数字滤波（FIR/IIR）在去除噪声和基带重构中的应用进行了深入分析。 第四部分：总线接口与自动化测试系统 在现代电子设计与制造中，测试自动化是提高效率的关键。本部分详细介绍了用于构建自动化测试系统的标准通信接口和软件框架。 1. 接口标准： 深入解析了GPIB、RS-232、以太网（LXI）、以及USB测试与测量（T&M）接口的通信协议、时序和编程模型。 2. 软件与平台： 重点介绍基于LabVIEW、Python（配合PyVISA库）和C等主流语言进行仪器控制和测试程序开发的实践。书中提供了大量关于如何建立测试序列、进行参数化设置、异常处理以及生成标准化测试报告的实例代码和流程图。强调了测试脚本的模块化设计和可维护性。 3. 仪器驱动： 阐述了VISA（Virtual Instrument Software Architecture）作为中间层的关键作用，解释了SCPI（Standard Commands for Programmable Instruments）命令集的结构和常用命令的使用方法，帮助读者直接与仪器进行底层交互。 第五部分：特定领域的电子测量技术 为满足不同工程方向的需求，本部分提供了几个关键细分领域的深度测量案例。 1. 电源质量与效率测量： 探讨了开关电源（SMPS）的动态特性测试，包括瞬态响应、纹波与噪声的精确测量方法。重点讲解了如何使用高精度功率分析仪测量输入/输出功率、效率、功率因数以及谐波失真（THD）。 2. 射频与微波测量： 虽然未深入到电磁场理论，但侧重于实际射频电路的测试流程。包括天线测试中的远场/近场测量基础、噪声系数（NF）的测量、以及混频器/本振电路的相位噪声分析。 3. 半导体器件参数测试： 介绍了半导体参数测试仪（Curve Tracer）的工作原理，以及如何测量二极管、BJT、MOSFET的关键I-V特性曲线，并讨论了高温/低温测试对器件参数的影响。 第六部分：新兴测量技术与趋势 最后，本书前瞻性地介绍了当前测量技术的发展方向。包括使用光电效应进行非接触式高压测量、基于FPGA的高速实时信号处理技术在嵌入式测量系统中的应用、以及机器学习/人工智能在故障诊断和异常检测中的潜在应用。讨论了物联网（IoT）环境下，如何实现测试数据的云端存储、远程监控和协同分析。 全书结构严谨，理论阐述深入浅出，配有大量系统化的图表、实验步骤和实际操作截图，力求使读者能够将书本知识迅速转化为解决实际工程问题的能力。

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