本书是全面讲述用Tanner Pro进行集成电路设计、电路模拟以及电路布局的书籍。
全书共分17章,第1章为基础部分,主要介绍Tanner Pro软件的基本功能,让读者了解Tanner Pro的工作环境及软件功能;第2-9章指导读者使用S-Edit设计电路并利用T-Spice检验电路;第10-16章讲述用L-Edit进行电路布局以及利用LVS进行对比电路的操作;第17章以一个项目的方式进行级比值的设计规划。
本书适合电子类专业的学生使用,也可作为相关从业人员的参考书。
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这本书的独特之处在于,它似乎预设了读者已经对集成电路的基本原理有所了解,然后直接切入了“如何把设计变成物理实体”这个最复杂也最容易出错的阶段。我特别欣赏它对设计流程中“设计规则检查(DRC)”的辩证看待。它没有将DRC视为束缚,而是将其提升到工艺可靠性的高度来解读。书中穿插了大量关于“设计意图”与“物理实现约束”之间平衡的案例,比如在面积受限的情况下,如何权衡提高速度(增加宽度/使用更低电阻的金属层)与遵守最小间距规则的冲突。此外,关于寄生参数提取(PEX)对最终时序仿真的影响,这本书给出了非常贴近实际的讲解,远比那些偏理论的文献更具操作指导性。总而言之,这是一本面向工程实践、强调细节、并且能够真正提升读者在物理实现阶段判断力的进阶读物,强烈推荐给已经掌握了基础知识,渴望迈向专业级版图工程师的同行们。
评分我花了很长时间寻找一本能够真正覆盖现代IC设计流程中“版图”这个环节的实用书籍,市面上很多要么过于偏重前端的RTL设计,要么就是泛泛而谈的CAD工具使用。而这本则精准地填补了后端物理实现方面的空白。尤其让我眼前一亮的是对物理设计验证(DRC/LVS)流程的详尽阐述。很多工程师往往只关注设计本身的功能正确性,却在流片前夕因为版图违规而被反复修改,白白浪费了时间和资源。这本书把这些规范和潜在的错误点都提前暴露出来了。它不仅仅是罗列规则,而是通过大量案例展示了设计不良是如何导致良率下降的。例如,对不同工艺节点下金属层间距、阱的隔离要求都有细致的说明。坦白说,这本书的深度和广度超出了我的预期,它更像是一本资深工程师的经验总结录,而不是一本普通的教科书。对于希望从“会画图”进阶到“懂制造”的读者来说,这本书的价值是无法用价格来衡量的。
评分我之前对某些特定模拟IP的版图设计一直心存疑虑,总觉得设计出来的性能总是达不到仿真预期。这本书中关于匹配和耦合效应的讨论,简直是为我拨开了迷雾。它详细阐述了“镜像效应”在版图中的体现,以及如何通过对称布局、共质心设计和保护环来对抗工艺的随机失配和环境梯度。特别是对衬底噪声耦合的分析,不再是笼统地说“噪声会干扰”,而是具体分析了不同源/漏扩散区、不同多晶层引脚之间的耦合路径和抑制手段。这种对细节的苛求,正是区分普通设计和高质量、高可靠性设计的关键所在。这本书的叙述风格非常严谨,逻辑链条清晰,读起来虽然需要集中注意力,但每深入一层,都能收获解决实际问题的“金钥匙”。我感觉它更像是一部工具书,随时可以翻阅并从中找到针对特定干扰问题的解决方案。
评分这本书绝对是PCB设计领域的“武林秘籍”!我本来对电源完整性(PI)和信号完整性(SI)的概念一直有点模糊,总觉得那些阻抗匹配、串扰分析听起来很玄乎。但这本书简直是手把手教你如何把这些理论应用到实践中去。它没有大篇幅地堆砌晦涩的公式,而是更多地聚焦在实际布局布线时的那些“坑”上。比如,如何正确处理高速信号的回流路径,以及在多层板中如何有效隔离敏感模拟信号和噪声较大的数字电路。我印象特别深的是其中关于去耦电容放置策略的章节,作者用非常直观的图示解释了电容的有效性和寄生电感的影响,这比我之前看的任何教材都清晰明了。读完后,我再看自己的设计时,总能多一个“审视”的维度,不再是单纯地堆叠元件,而是开始思考电流的流向和场效应。这对于我这种偏向硬件实现层面的工程师来说,简直是醍醐灌顶,让我对整个设计流程的质量有了质的提升。它不只是告诉你“应该怎么做”,更重要的是解释了“为什么必须这么做”,这种深层次的理解是无价的。
评分作为一名刚接触CMOS电路设计的学生,我发现这本书在基础概念的构建上做得非常出色,但又没有止步于纸上谈兵。它巧妙地将理论与实际的布局考量结合了起来。例如,在介绍标准单元布局时,它不仅讲解了晶体管的结构,还深入分析了多晶硅栅线宽度对负载电容和驱动能力的影响,以及如何通过合理的器件摆放来最小化互连延迟。让我感觉非常实用的是,书中对电源网络和信号网络的“王冠”——供电和地线的规划策略给与了极高的重视。以往我总觉得这些是收尾工作,但这本书强调了自始至终对这些“骨架”的精细维护的重要性。它教会我如何使用层次化的设计方法来管理庞大的版图,避免了“头痛医头,脚痛医脚”的混乱局面。读完后,我能更自信地在项目中处理那些对面积和性能都有严格要求的模块级设计。
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